Mikroskop Digital Pembesaran Tinggi 4K dengan Pencahayaan Atas dan Bawah

Gaopin GP-307S-4K 4K Mikroskop Digital Pembesaran Tinggi dengan Pencahayaan Atas dan Bawah. Digital Pembesaran Ultra Tinggi 4K ini Mikroskop dengan ciri pencahayaan Atas dan Bawah zum parfokal dari 95X hingga 614X, model pembesaran tertinggi dalam ini siri. Ia dilengkapi dengan kamera 4K dan kanta zum monokular premium. Pangkalan menyepadukan dwi sumber cahaya: cahaya atas untuk pemeriksaan morfologi permukaan mikro, cahaya dihantar bawah untuk sampel nipis separa lutsinar. terbina dalam pengukuran sistem menyokong pengukuran dimensi peringkat mikron, syot kilat dan storan video, direka bentuk untuk pembesaran tinggi pemeriksaan bahan kerja ultra-kecil.

Perbezaan daripada mikroskop yang dipasang pada badan konvensional

Perbezaan dari mikroskop biasa:Mikroskop digital standard hampir tidak boleh mencapai kestabilan pembesaran sekitar 600X dan kebanyakannya kekurangan cahaya bawah yang dihantar untuk melihat kontur sampel separa lutsinar. ini Mikroskop Digital Pembesaran Tinggi 4K dengan Pencahayaan Atas dan Bawah mencapai zum parfokal 95–614X dengan imej tajam yang stabil pada pembesaran tinggi. Sumber cahaya dwi boleh ditukar dengan bebas. Satu mesin mengendalikan kedua-duanya pemeriksaan permukaan reflektif dan pemerhatian kontur yang dihantar, menyokong pengukuran ketepatan tahap mikron, mengatasi mikroskop digital biasa.

Spesifikasi Teknikal

Aplikasi Produk

Skop Permohonan:Digunakan untuk pemeriksaan kecacatan mikro dan pengukuran dimensi peringkat mikron mikrocip, tepi alat pemotong, muka hujung gentian, bahagian elektronik kecil dan filem optik nipis. Ia memerhati calar mikro, serpihan, lebar garisan dan kontur pemancar cahaya. Sesuai untuk semikonduktor, komponen optik dan industri alat pemotong ketepatan.

Gambaran Keseluruhan Entiti Produk

95-614 Untuk produk manakah julat pengesanan ini sesuai?

1. Pemeriksaan kesan PCB ultra-halus dan sambungan pateri mikro BGA:Perhatikan trek PCB ultra-halus dan bola pateri BGA, mengesan pateri sejuk mikro, keretakan bola pateri, celah litar dan lubang jarum topeng pateri. 95–614X sesuai untuk pemeriksaan kecacatan halus berskala mikro.

2. Pemeriksaan pin dan pembungkusan cip semikonduktor:Cip IC, pin wafer dan ketepatan pin penyambung. Periksa kakisan pin, serpihan kecil, lebihan pateri dan retak bungkusan, perhatikan morfologi mikro pin.

3. Pemerhatian metalografi pada keratan rentas terminal ketepatan:Abah-abah wayar yang dihiris terminal tembaga, periksa wayar kuprum pecah, lompang kelim, ketebalan penyaduran tidak sekata dan ubah bentuk mikro keratan rentas untuk analisis kegagalan abah-abah.

4. Pemeriksaan kecacatan mikro untuk perkakasan ketepatan kecil:Bahagian berpaling mikro, lubang mikro komponen dan sesentuh ketepatan. Kesan keretakan mikro, lubang jarum salutan, burr halus dan calar pengisaran permukaan.

5. Pemerhatian morfologi mikro salutan dan serbuk bahan:Penyaduran logam, salutan filem, sampel serbuk dan serat. Perhatikan bentuk zarah dan liang salutan untuk perbandingan bahan dan analisis kegagalan.

6. Pengukuran dimensi ketepatan kecil:Bekerjasama dengan perisian pengukuran untuk mengukur dengan baik lebar garisan, diameter dalam lubang mikro, jurang kecil dan ketebalan salutan, memenuhi ukuran ketepatan tinggi keperluan makmal dan stesen pemeriksaan kualiti.

Bukti & Kebolehpercayaan Di Tapak (Ujian Pertama)

1. Pengimejan 4K Stabil

Resolusi 3840×2160, bebas herotan untuk kerja lama, menangkap kecacatan mikro untuk bukti QC.

2. Zum Parfokal Boleh Dipercayai

95–614× zum parfokal. Tiada pemfokusan semula yang kerap pada perubahan pembesaran, tiada hanyut imej untuk pemeriksaan ketepatan tinggi.

3. Sumber Cahaya Dwi Stabil

Lampu atas sepaksi boleh tukar & cahaya bawah dihantar, berfungsi untuk kedua-dua sampel lutsinar dan legap dengan genap penerangan.

4. Output Pengukuran Berbilang Port yang Stabil

HDMI+USB3.0+LAN, pengukuran imej dinamik, penukaran berbilang unit, tangkapan foto/video untuk rekod yang boleh dikesan.

5. Tapak tahan getaran

Peringkat sampel khusus dan dirian logam, anti-kabur di bawah getaran bengkel kecil untuk pemerhatian pembesaran tinggi.

Kelebihan Reka Bentuk Unik

1. Kanta Zum Berterusan Parfokal 95X–614X

Fokus kekal konsisten semasa zum, sesuai untuk pemeriksaan komponen mikro, retakan kecil dan pin ketepatan.

2. Dwi Sumber Cahaya Boleh Laras Secara Bebas

Cincin atas memantulkan cahaya + cahaya yang dihantar bawah dengan kawalan kecerahan berasingan, serasi dengan lutsinar dan sampel legap, mengurangkan pantulan dan bayang-bayang.

3. Pengimejan Ultra HD 4K Asli & Pengukuran Atas Papan

Pengukuran dimensi langsung pada monitor. Menyokong ukuran panjang, sudut, jejari dan kawasan, tiada PC diperlukan QC di tapak.

4. Output Dwi Segerak HDMI + USB

HDMI untuk pratonton masa nyata; USB membolehkan susun kedalaman, pengarkiban imej dan eksport laporan pengukuran untuk bengkel dan penggunaan makmal.

5. Pentas Lutsinar & Pendirian Logam Tugas Berat

Pangkalan pemancar cahaya untuk pemerhatian cahaya yang dihantar. Sokongan logam tahan getaran memastikan pengimejan yang stabil semasa pemeriksaan berterusan yang panjang.

Penyelenggaraan Harian Mikroskop Elektron

· Penjagaan Kanta Optik:Hanya gunakan tisu kanta optik profesional atau kain bebas habuk mikrofiber untuk lap permukaan kanta. Jangan sekali-kali menggunakan tuala kertas atau kain kasar untuk mengelakkan salutan kanta tercalar. Untuk cap jari dan minyak noda, sapukan sedikit pembersih optik pada kain. Jangan titiskan cecair terus ke kanta. elakkan menyentuh permukaan optik kanta dengan tangan.

· Penyelenggaraan Kamera, Tong Kanta & Stand:Bersihkan kamera 4K, laras zum dan lajur logam dengan kain lembut bebas habuk kering. Jangan dedahkan seluruh unit kepada air. Pastikan alkohol, aseton dan lain-lain kuat pelarut menghakis untuk melindungi cat dan tanda bercetak. Pastikan semua penyambung kering untuk mengelakkan pengoksidaan logam dan hubungan buruk.

· Penjagaan Peringkat & Dwi Sumber Cahaya:Keluarkan habuk dari pentas putih dan LED atas & bawah cincin dua cahaya dengan kain lembut kering. Bersihkan tingkap cahaya dengan cara yang sama seperti kanta, jangan gunakan yang menghakis cecair. Jangan tarik kabel lampu secara paksa.

· Penyelenggaraan Mekanisme Fokus:Bersihkan habuk pada tombol fokus dan rel panduan lajur dengan kerap. A kecil jumlah gris kering boleh digunakan. Pelincir cecair adalah dilarang, untuk mengelakkan minyak menitis dan mencemarkan kanta, sumber cahaya dan sampel. Kendalikan tombol fokus dengan perlahan, jangan putarnya secara paksa untuk mengelakkan kerosakan gear.

· Kuasa & Persekitaran:Gunakan penyesuai kuasa asal. Letakkan peralatan di tempat yang kering dan berhabuk rendah persekitaran, jauh dari suhu tinggi, kelembapan dan getaran berat. Matikan dan cabut plag penyesuai apabila tidak masuk guna dalam jangka masa yang lama.

Cara Memilih Model

1. Bahan Kerja pembesaran tinggi:Sampel yang memerlukan pembesaran 95×–614× untuk pemeriksaan kecil calar dan retak mikro.

2. Sampel Telus & Legap:Sesuai untuk bahagian legap seperti logam dan plastik, juga sebagai bahan kerja lutsinar & separa lutsinar seperti filem dan kaca, terima kasih kepada dwi sumber cahaya.

3. Pengukuran Dimensi Diperlukan:Produk yang memerlukan ukuran tahap mikron panjang, sudut dan arka, dengan pengumpulan data dan penjanaan rekod pemeriksaan.

4. Komponen Ketepatan Mikro:Komponen elektronik mikro, pin cip, acuan kecil, ketepatan perkakasan dan bahan kerja kecil yang lain.

5. Pengarkiban Imej Diperlukan:Produk yang memerlukan tangkapan foto dan video untuk bukti kecacatan, kualiti laporan, bukti aduan pelanggan dan kebolehkesanan proses.

6. Penyesuaian:Menyokong penghantaran neutral

Rakan Kongsi & Pelanggan Berwibawa

Mikroskop GAOPIN digunakan oleh perusahaan terkemuka, institut penyelidikan dan universiti. Kerjasama kami perhubungan termasuk:

Institut Teknologi Beijing – Penyelidikan mikroskopik pada peranti ketepatan dan bahan baharu

CATL – Pemeriksaan kecacatan mikro untuk elektrod & sel bateri litium

Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Pengesanan dimensi & kecacatan mikro untuk pemesinan ketepatan bahagian

Universiti Fudan – Pemerhatian dan penyelidikan mikroskopik ke atas bahan dan sampel biologi

Huawei Technologies Co., Ltd. – bahan masuk dan QC barisan pengeluaran

Universiti Tsinghua – pengajaran, pengimejan makmal, dan pengarkiban eksperimen

Mengenai GAOPIN

Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., ditubuhkan pada 2011, yang pengasasnya telah mengumpul kepakaran industri sejak tahun 2005, adalah sebuah perusahaan tertumpu teknologi khusus dalam reka bentuk, R&D, jualan dan perkhidmatan selepas jualan mikroskop industri. Mempunyai pasukan kejuruteraan teras dengan lebih daripada sepuluh tahun pengetahuan profesional, the syarikat menjamin teknologi yang terbukti dan kebolehpercayaan produk yang konsisten. GAOPIN menawarkan lebih daripada seratus model produk optik dan memberi perkhidmatan kepada pelanggan di seluruh dunia, mendedikasikan dirinya untuk membekalkan buatan khusus, penyelesaian mikroskopi kos efektif. Kami menawarkan sokongan teknikal segera di seluruh dunia meliputi persidangan dalam talian, bimbingan operasi berbantukan video dan sesi latihan jarak jauh. Pangkalan pembuatan kami terletak di Kunshan, Wilayah Jiangsu, berdekatan dengan Shanghai. Kedua-dua pemeriksaan kilang di tapak dan lawatan loji maya adalah tersedia untuk pelanggan. Sila hubungi kami untuk mendapatkan contoh imej ujian yang diambil oleh Ultra 4K ini Mikroskop Digital Pembesaran Tinggi dengan pencahayaan Atas dan Bawah, jadi anda boleh menilai prestasi pengimejannya secara langsung.

Soalan Lazim

S1: Apakah faedah pemeriksaan yang dibawa oleh reka bentuk dwi-cahaya mikroskop GP-307S-4K?

A1: Unit ini dilengkapi dengan pencahayaan atas dan cahaya yang dihantar bawah. Lampu atas adalah untuk ciri permukaan pemerhatian, manakala cahaya dipancarkan bawah digunakan untuk melihat kontur dalaman lutsinar atau separa lutsinar sampel. Satu mikroskop mengendalikan sampel pelbagai bahan.

S2: Apakah julat pembesaran dan ciri zum parfokal mikroskop ini?

A2: Ia menawarkan pembesaran daripada 95X hingga 614X dengan zum parfokal. Fokus kekal konsisten apabila menukar pembesaran, menghilangkan keperluan untuk memfokus semula berulang dan meningkatkan kelajuan pemeriksaan.

S3: Adakah GP-307S-4K menyokong ukuran dimensi dan apakah standard pengimejannya?

A3: Ia menggunakan sistem pengimejan 4K dengan resolusi 3840×2160. Perisian pemadanan menyokong pengukuran yang tepat. Pengguna boleh menangkap foto dan video untuk menyimpan imej sampel dan rekod pemeriksaan untuk arkib yang berkualiti.

S4: Apakah ciri-ciri dirian dan tapak untuk sistem ini?

A4: Ia didatangkan dengan pangkalan pemeriksaan putih khusus dan dirian tiang tunggal menegak. Pangkalan mempunyai telus tingkap untuk cahaya yang dihantar. Pemasangan pemfokusan bergerak dengan lancar dan kekal stabil tanpa beralih semasa pemeriksaan lama.

S5: Apakah kelebihan praktikal yang dibawa oleh fungsi zum parfokal kepada kawalan kualiti?

A5: Fokus kekal tidak berubah semasa menukar pembesaran. Operator tidak perlu mengubah kedudukan pandangan berulang kali. Ia sesuai untuk pensampelan kelompok cepat, memotong operasi berlebihan dan meningkatkan barisan pengeluaran kecekapan pemeriksaan.