Mikroskop Pengukur Gaopin GP-306-4K 4K. Mikroskop Digital Pembesaran Tinggi 4K Ultra HD ini memberikan parfokal zum dari 63X hingga 414X, memastikan imej tajam semasa menukar pembesaran. Ia dilengkapi dengan modul pengimejan 4K dan kanta zum berterusan monokular ketepatan. Pendirian tugas berat meminimumkan getaran dan menyokong sumber cahaya luaran. Perisian pengukuran terbina dalam boleh mengukur ciri geometri bahan kerja, menangkap syot kilat dan merakam video, mesyuarat kedua-dua pemerhatian pembesaran tinggi dan keperluan pemeteran ketepatan.
Perbezaan dari mikroskop biasa:Mikroskop berkuasa tinggi biasa mempunyai pembesaran terhad langkah, pembesaran maksimum yang lebih rendah dan kekurangan fungsi parfokal. Mikroskop Elektron Pembesaran Tinggi ini memanjang julat zum parfokal kepada 63–414X untuk melihat struktur yang lebih halus. Dengan pengimejan 4K dan perisian pengukuran profesional, ia memberikan ketepatan resolusi dan ukuran yang lebih baik daripada mikroskop digital standard. Penyokong pendirian yang stabil pemeriksaan ketepatan di bawah pembesaran yang lebih tinggi.
| Model | GP-306-4K | |||
| Pembesaran Optik | 63X-414X | |||
| Resolusi | 3840×2160 4K | |||
| Ketepatan Pengukuran | 0.001–0.002mm | |||
| Output | HDMI untuk ukuran paparan 4K + USB 3.0 untuk pengukuran PC + port LAN untuk pengukuran PC | |||
| Kaedah Pengukuran | Pengukuran imej secara langsung | |||
| Unit Pengukuran | mm, μm, mil, inci (4 unit boleh tukar) | |||
| Penyimpanan | Pemacu USB luaran + storan perisian PC | |||
| Pencahayaan | Lampu cincin LED | |||
| Bahasa Paparan | Bahasa Cina Ringkas / Inggeris (boleh ditukar) | |||
| Operasi | Menu kendalian tetikus | |||
| Alat Pengukuran | Skala dan pelbagai alatan: panjang, sudut, lengkok, bulatan, poligon, poligaris, jarak tengah, segi empat tepat, tambah nota, pengesanan tepi automatik. | |||
| Sistem Operasi | Sistem pengukuran yang dibangunkan sendiri berasaskan Linux 3.1 | |||
| Penamaan Imej | Automatik atau manual | |||
| Crosshair | 100 garis mendatar dan 100 garis menegak | |||
| Antara muka | 1× USB 3.0, 1× USB 2.0, 1× Gigabit Ethernet | |||
| Pemproses | ARM Cortex-A17 quad-core @ maks 1.4GHz (pemproses utama) ARM Cortex-A7 teras tunggal @ maks 900MHz (pemproses video) |
|||
| Objektif | GP-306-4K | |||
| Pembesaran Kanta | Pembesaran Elektronik | Medan Pandangan | Jarak Kerja | |
| 0.7× | 64X | 7.9*4.4mm | 50mm | |
| 1× | 92X | 5*3mm | ||
| 1.5× | 138X | 3.6*2mm | ||
| 2× | 184X | 2.6*1.45mm | ||
| 2.5× | 230X | 2.1*1.2mm | ||
| 3× | 276X | 1.8*1mm | ||
| 3.5× | 322X | 1.5*0.85mm | ||
| 4× | 368X | 1.3*0.75mm | ||
| 4.5× | 414X | 1.2*0.65mm | ||
| item | Penerangan |
| Model Produk | GP-306-4K Mikroskop Digital Pembesaran Tinggi 4K Ultra HD |
| Kategori Produk | Mikroskop pengukur digital pembesaran tinggi 4K industri |
| Teknologi Teras | Pengimejan CMOS HD 4K; Sistem pengukuran imej Linux yang dibangunkan sendiri; Digital pelbagai fungsi enjin pengukuran; Seni bina pemproses dwi ARM berkelajuan tinggi; Cincin LED boleh laras cahaya; Gigabit Ethernet penghantaran segerak masa nyata. |
| Spesifikasi Utama | Resolusi 4K 3840×2160; Pembesaran optik 0.7–4.5× boleh laras secara berterusan dengan kedudukan; jumlah pembesaran 63–414×; Ketepatan pengukuran 0.001–0.002 mm; mm / μm / mil / inci boleh tukar; Tiga output: HDMI, USB 3.0, Gigabit Ethernet; Pemacu USB luaran + PC / storan dwi perisian rangkaian; Pengukuran imej, tangkapan foto/video ultra-HD 4K, imej pada skrin perbandingan, storan pemacu USB. |
| Aplikasi Biasa | Pemeriksaan kecacatan PCB, pemeriksaan cip, pemeriksaan bersama pateri mikro BGA; Perkakasan ketepatan dimensi QC; ukuran mikro-dimensi lubang logam / garis rambut; Pemeriksaan calar kaca, elektronik pemeriksaan komponen; Pengukuran dimensi acuan, dimensi ketepatan makmal analisis; Pemeriksaan komponen tenaga baru, pemeriksaan kristal. |
| Pengeluar | Kunshan Gaopin Precision Instruments Co., Ltd. |
| Alamat | Kunshan, Wilayah Jiangsu, China (bersebelahan dengan Shanghai) |
Imej tanpa herotan tajam semasa operasi yang lama, tangkap kecacatan kecil untuk bukti QC.
63–414× zum berterusan. Tiada pemfokusan semula yang kerap apabila menukar pembesaran, hanyut imej sifar.
Lampu cincin boleh laras memberikan pencahayaan yang sekata untuk pemerhatian yang jelas pada sambungan pateri dan burr.
Output dwi HDMI+USB, foto/video satu klik. Perisian menyokong pengukuran dan penandaan.
Tapak logam tebal mengurangkan gangguan getaran, menghalang nyahfokus semasa pemeriksaan lama.
1. Pemeriksaan kesan PCB halus dan sambungan pateri mikro:Perhatikan litar PCB halus, pateri BGA bola, kenal pasti pateri sejuk, manik pateri, celah litar dan calar topeng pateri. 63–414X mendedahkan skala mikro kecacatan sendi pateri.
2. Pemeriksaan kualiti untuk cip dan pin semikonduktor:Cip IC, tiub MOS dan pin penyambung. Kesan kakisan pin, ubah bentuk, lebihan pateri dan retak bungkusan, perhatikan pic pin dan kecacatan permukaan mikro.
3. Pemeriksaan mikro perkakasan kecil ketepatan:Bahagian pusingan kecil, terminal ketepatan dan mata air mikro. Periksa keretakan mikro, lubang jarum salutan, burr tepi dan kecacatan keratan rentas selepas dikelim.
4. Pemeriksaan bahagian plastik dan silikon ketepatan:Bahagian acuan suntikan mikro, cincin pengedap dan perumah plastik ketepatan. Periksa lubang jarum permukaan, garisan kimpalan, kekurangan bahan dan calar halus untuk dinilai kualiti acuan.
5. Pemerhatian morfologi mikro permukaan bahan:Penyaduran logam, salutan, serbuk dan gentian sampel. Perhatikan butiran dan tekstur permukaan untuk perbandingan bahan dan analisis kegagalan awal.
6. Pengukuran dimensi mikro bahan kerja ketepatan:Dengan perisian pengukuran, ukur garisan lebar, celah, apertur, chamfer dan saiz geometri kecil lain, memenuhi keperluan pemeriksaan ketepatan untuk makmal dan barisan pengeluaran.
Skop Permohonan:Ideal untuk pemerhatian mikroskopik dan pengukuran dimensi bahan kerja kecil seperti pin cip, acuan mikro, spring ketepatan dan sesentuh penyambung. Ia mengesan keretakan mikro, kecacatan dan kerataan, digunakan secara meluas dalam makmal dan pengeluaran QC untuk aksesori semikonduktor dan industri acuan ketepatan.
Penjagaan Kanta Optik:Hanya gunakan tisu kanta optik profesional atau kain bebas habuk mikrofiber untuk mengelap permukaan kanta. Jangan sekali-kali menggunakan tuala kertas atau kain kasar untuk mengelakkan salutan kanta tercalar. Untuk cap jari dan minyak noda, sapukan sedikit pembersih optik pada kain. Jangan titiskan cecair terus ke kanta. elakkan menyentuh permukaan optik kanta dengan tangan.
Penyelenggaraan Kamera, Tong Lensa & Stand:Bersihkan kamera 4K, laras zum dan lajur logam dengan kain lembut bebas habuk kering. Jangan dedahkan seluruh unit kepada air. Simpan alkohol, aseton dan bahan menghakis kuat yang lain pelarut untuk melindungi cat dan tanda bercetak. Pastikan semua penyambung kering untuk mengelakkan pengoksidaan logam dan lemah kenalan.
Peringkat & Mekanisme Fokus:Keluarkan habuk dari pentas hitam dengan kain lembut kering. Bersihkan habuk tombol fokus dan rel panduan lajur dengan kerap. Sebilangan kecil gris kering boleh disapu. Pelincir cecair
Struktur zum parfokal, julat pembesaran dari 63× hingga 414×. Tiada pemfokusan semula diperlukan semasa zum untuk lancar pemerhatian.
Dilengkapi dengan kamera HD 4K dan perisian pengukuran profesional, menyokong pengukuran dimensi tahap mikron untuk pemeriksaan ketepatan.
Pendirian tapak besar tugas berat untuk penempatan yang stabil. Ia boleh memuatkan pelbagai bahan kerja dan menyimpan ruang operasi yang mencukupi untuk sampel.
Sambungan terus HDMI untuk memantau untuk pratonton masa nyata; Sambungan USB ke PC untuk menangkap foto, rakaman video dan pengarkiban fail pemeriksaan.
Ideal untuk pengesanan kecacatan penampilan dan pemeriksaan kualiti dimensi komponen elektronik, acuan, PCB dan bahagian logam.
Menyokong penghantaran neutral
Mikroskop GAOPIN digunakan oleh perusahaan terkemuka, institut penyelidikan dan universiti. Kerjasama kami perhubungan termasuk:
NIO Shanghai – Pemeriksaan mikroskopik dan analisis kegagalan bahagian ketepatan automotif
Institut Teknikal Fizik dan Kimia, CAS – Penyelidikan mikroskopik pada suhu rendah & fungsi khas bahan
Teknologi Kanta – Pemeriksaan kecacatan permukaan mikro pada plat penutup kaca
Universiti Perdagangan Tianjin - Pengajaran mikroskopik bahan dan eksperimen pemerhatian sampel
A1: Unit ini dilengkapi dengan lampu cincin atas standard, terutamanya untuk pemeriksaan visual permukaan. Ia digunakan secara meluas untuk PCB papan, bahagian plastik, komponen elektronik dan perkakasan ketepatan untuk menyaring burr, kerosakan, calar permukaan dan kecacatan kosmetik lain.
A2: Ia mempunyai julat pembesaran 63X hingga 414X dengan zum parfokal. Fokus kekal tidak berubah apabila bertukar pembesaran, jadi pemfokusan semula berulang tidak diperlukan, sangat mempercepatkan pemeriksaan sampel kelompok.
A3: Ya. Ia boleh menyambung ke monitor secara langsung untuk tontonan langsung, tangkapan foto dan rakaman video. Maju fungsi seperti pengukuran dimensi dan eksport data melalui perisian sokongan menjadi tersedia selepas menyambung ke PC, memasangkan tetapan stesen kerja yang berbeza.
A4: Ia menggunakan asas logam hitam yang menebal dan berdiri mengangkat satu lajur dengan berat berat dan getaran yang baik rintangan. Roda tangan memfokus mempunyai redaman yang seimbang dan licin untuk pelarasan kanta yang tepat, sesuai untuk pemeriksaan berterusan yang lama di kilang.
A5: Ia dilengkapi dengan sistem pengimejan definisi tinggi 4K dengan resolusi 3840×2160. Perisian sokongan menyokong ukuran dimensi yang tepat. Foto dan video boleh disimpan untuk mengarkibkan imej sampel dan ukuran data untuk kebolehkesanan kualiti dan rekod pemeriksaan.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., ditubuhkan pada 2011, yang pengasasnya telah mengumpul kepakaran industri sejak tahun 2005, adalah sebuah perusahaan tertumpu teknologi khusus dalam reka bentuk, R&D, jualan dan perkhidmatan selepas jualan mikroskop industri. Mempunyai pasukan kejuruteraan teras dengan lebih daripada sepuluh tahun pengetahuan profesional, the syarikat menjamin teknologi yang terbukti dan kebolehpercayaan produk yang konsisten. GAOPIN menawarkan lebih daripada seratus model produk optik dan memberi perkhidmatan kepada pelanggan di seluruh dunia, mendedikasikan dirinya untuk membekalkan buatan khusus, penyelesaian mikroskopi kos efektif. Kami menawarkan sokongan teknikal segera di seluruh dunia meliputi persidangan dalam talian, bimbingan operasi berbantukan video dan sesi latihan jarak jauh. Pangkalan pembuatan kami terletak di Kunshan, Wilayah Jiangsu, berdekatan dengan Shanghai. Kedua-dua pemeriksaan kilang di tapak dan lawatan loji maya adalah tersedia untuk pelanggan. Sila hubungi kami untuk mendapatkan contoh imej ujian yang ditangkap oleh Pembesaran Tinggi ini Mikroskop Digital 4K Ultra HD, jadi anda boleh menilai prestasi pengimejannya secara langsung.
Alamat
Bangunan 2, Pusat Perniagaan Antarabangsa Shuanglian, Bandar Huaqiao, Bandar Kunshan, China
Tel
E-mel
