Mikroskop Pengukur Gaopin GP-307-4K 4K. Mikroskop Digital Pembesaran Ultra Tinggi 4K ini menampilkan zum parfokal daripada 95X hingga 614X, model pembesaran tertinggi dalam siri ini. Ia dilengkapi dengan kamera 4K dan premium bermata kanta zum. Struktur asas yang berat menghalang getaran dengan berkesan. Sistem pengukuran terbina dalam menyokong pengukuran daripada ciri mikro, storan foto dan video. Direka untuk pemerhatian pembesaran tinggi dan pemeriksaan dimensi bahan kerja ultra-kecil.

Perbezaan dari mikroskop biasa:Mikroskop digital standard hampir tidak boleh mencapai kestabilan pembesaran sekitar 600X dan mengalami getaran dan nyahfokus pada kuasa tinggi. Elektron Pembesaran Tinggi ini Mikroskop mencapai zum parfokal 95–614X tanpa pemfokusan berulang. Kanta optik yang dioptimumkan mengekalkan ketajaman pada pembesaran tinggi. Tapak berat mengurangkan getaran. Ia dibina khas untuk pemeriksaan sampel skala mikron dan mengatasi mikroskop digital biasa.
| Model | GP-307-4K | |||
| Pembesaran Optik | 95X-614X | |||
| Resolusi | 3840×2160 4K | |||
| Ketepatan Pengukuran | 0.001–0.002mm | |||
| Output | HDMI untuk ukuran paparan 4K + USB 3.0 untuk pengukuran PC + port LAN untuk pengukuran PC | |||
| Kaedah Pengukuran | Pengukuran imej secara langsung | |||
| Unit Pengukuran | mm, μm, mil, inci (4 unit boleh tukar) | |||
| Penyimpanan | Pemacu USB luaran + storan perisian PC | |||
| Pencahayaan | Lampu cincin LED | |||
| Bahasa Paparan | Bahasa Cina Ringkas / Inggeris (boleh ditukar) | |||
| Operasi | Menu kendalian tetikus | |||
| Alat Pengukuran | Skala dan pelbagai alatan: panjang, sudut, lengkok, bulatan, poligon, poligaris, jarak tengah, segi empat tepat, tambah nota, pengesanan tepi automatik. | |||
| Sistem Operasi | Sistem pengukuran yang dibangunkan sendiri berasaskan Linux 3.1 | |||
| Penamaan Imej | Automatik atau manual | |||
| Crosshair | 100 garis mendatar dan 100 garis menegak | |||
| Antara muka | 1× USB 3.0, 1× USB 2.0, 1× Gigabit Ethernet | |||
| Pemproses | ARM Cortex-A17 quad-core @ maks 1.4GHz (pemproses utama) ARM Cortex-A7 teras tunggal @ maks 900MHz (pemproses video) |
|||
| Objektif | GP-307-4K | |||
| Pembesaran Kanta | Pembesaran Elektronik | Medan Pandangan | Jarak Kerja | |
| 0.7× | 94X | 5.4*3mm | 25mm | |
| 1× | 136X | 3.7*2.1mm | ||
| 1.5× | 205X | 2.4*1.3mm | ||
| 2× | 273X | 1.8*1mm | ||
| 2.5× | 341X | 1.4*0.8mm | ||
| 3× | 409X | 1.2*0.7mm | ||
| 3.5× | 478X | 1*0.6mm | ||
| 4× | 546X | 0.9*0.5mm | ||
| 4.5× | 614X | 0.8*0.4mm | ||
Skop Permohonan:Digunakan untuk pemeriksaan kecacatan mikro dan pengukuran dimensi peringkat mikron cip mikro, tepi alat pemotong, muka hujung gentian dan bahagian elektronik kecil. Ia memerhatikan calar mikro, serpihan dan lebar garisan. Sesuai untuk industri semikonduktor, komponen optik dan alat pemotong ketepatan.
Resolusi 3840×2160, bebas herotan semasa operasi yang lama, menangkap kecacatan mikro untuk bukti QC.
95–614× zum parfokal. Tiada pemfokusan semula yang kerap apabila menukar pembesaran, tiada hanyut imej untuk pemeriksaan ketepatan.
Lampu cincin LED boleh laras memberikan pencahayaan yang sekata untuk pemerhatian yang jelas pada sambungan pateri dan calar.
HDMI+USB3.0+LAN, pengukuran imej dinamik, penukaran berbilang unit, rekod boleh dikesan.
Tapak logam tebal mengurangkan gangguan getaran bengkel, mengelakkan nyahfokus di bawah pembesaran tinggi.
| item | Penerangan |
| Model Produk | Mikroskop Elektron Pembesaran Tinggi Ultra HD 4K GP-307-4K dengan Sumber Cahaya Dwi |
| Kategori Produk | Mikroskop pengukur digital pembesaran tinggi 4K industri |
| Teknologi Teras | Pengimejan CMOS HD 4K; Sistem pengukuran imej Linux yang dibangunkan sendiri; Digital pelbagai fungsi enjin pengukuran; Seni bina pemproses dwi ARM berkelajuan tinggi; Cincin LED boleh laras cahaya; Gigabit Ethernet penghantaran segerak masa nyata. |
| Spesifikasi Utama | Resolusi 4K 3840×2160; Pembesaran optik 0.7–4.5× boleh laras secara berterusan dengan kedudukan; jumlah pembesaran 95-614×; Ketepatan pengukuran 0.001–0.002 mm; mm / μm / mil / inci boleh tukar; Tiga output: HDMI, USB 3.0, Gigabit Ethernet; Pemacu USB luaran + PC / storan dwi perisian rangkaian; Pengukuran imej, tangkapan foto/video ultra-HD 4K, imej pada skrin perbandingan, storan pemacu USB. |
| Aplikasi Biasa | Pemeriksaan kecacatan PCB, pemeriksaan cip, pemeriksaan bersama pateri mikro BGA; Perkakasan ketepatan dimensi QC; ukuran mikro-dimensi lubang logam / garis rambut; Pemeriksaan calar kaca, elektronik pemeriksaan komponen; Pengukuran dimensi acuan, dimensi ketepatan makmal analisis; Pemeriksaan komponen tenaga baru, pemeriksaan kristal. |
| Pengeluar | Kunshan Gaopin Precision Instruments Co., Ltd. |
| Alamat | Kunshan, Wilayah Jiangsu, China (bersebelahan dengan Shanghai) |
Tiada pemfokusan semula diperlukan semasa zum, sesuai untuk pemeriksaan bahagian mikro, pin ketepatan dan retakan kecil.
Direct dimension measurement on monitor. Ukuran panjang, sudut dan jejari tersedia tanpa PC untuk QC di tapak.
Menangkap dengan jelas burr mikro dan kecacatan permukaan pada sampel dengan ketinggian yang tidak sekata.
HDMI untuk pratonton masa nyata; USB membolehkan syot kilat, rakaman video, susun kedalaman, pengarkiban imej dan laporan eksport.
Rintangan getaran yang hebat dengan pelarasan ketinggian yang lancar, memberikan pengimejan yang stabil semasa berterusan yang lama pemeriksaan.
· Penjagaan Kanta Optik:Hanya gunakan tisu kanta optik profesional atau kain bebas habuk mikrofiber untuk lap permukaan kanta. Jangan sekali-kali menggunakan tuala kertas atau kain kasar untuk mengelakkan salutan kanta tercalar. Untuk cap jari dan minyak noda, sapukan sedikit pembersih optik pada kain. Jangan titiskan cecair terus ke kanta. elakkan menyentuh permukaan optik kanta dengan tangan.
· Penyelenggaraan Kamera, Tong Kanta & Stand:Bersihkan kamera 4K, laras zum dan lajur logam dengan kain lembut bebas habuk kering. Jangan dedahkan seluruh unit kepada air. Pastikan alkohol, aseton dan lain-lain kuat pelarut menghakis untuk melindungi cat dan tanda bercetak. Pastikan semua penyambung kering untuk mengelakkan pengoksidaan logam dan hubungan buruk.
· Penjagaan Peringkat & Dwi Sumber Cahaya:Keluarkan habuk dari pentas putih dan LED atas & bawah cincin dua cahaya dengan kain lembut kering. Bersihkan tingkap cahaya dengan cara yang sama seperti kanta, jangan gunakan yang menghakis cecair. Jangan tarik kabel lampu secara paksa.
· Penyelenggaraan Mekanisme Fokus:Bersihkan habuk pada tombol fokus dan rel panduan lajur dengan kerap. A kecil jumlah gris kering boleh digunakan. Pelincir cecair adalah dilarang, untuk mengelakkan minyak menitis dan mencemarkan kanta, sumber cahaya dan sampel. Kendalikan tombol fokus dengan perlahan, jangan putarnya secara paksa untuk mengelakkan kerosakan gear.
· Kuasa & Persekitaran:Gunakan penyesuai kuasa asal. Letakkan peralatan di tempat yang kering dan berhabuk rendah persekitaran, jauh dari suhu tinggi, kelembapan dan getaran berat. Matikan dan cabut plag penyesuai apabila tidak masuk guna dalam jangka masa yang lama.
1. Pemeriksaan kesan PCB ultra-halus dan sambungan pateri mikro BGA:Perhatikan trek PCB ultra-halus dan bola pateri BGA, mengesan pateri sejuk mikro, keretakan bola pateri, celah litar dan lubang jarum topeng pateri. 95–614X sesuai untuk pemeriksaan kecacatan halus berskala mikro.
2. Pemeriksaan pin dan pembungkusan cip semikonduktor:Cip IC, pin wafer dan ketepatan pin penyambung. Periksa kakisan pin, serpihan kecil, lebihan pateri dan retak bungkusan, perhatikan morfologi mikro pin.
3. Pemerhatian metalografi pada keratan rentas terminal ketepatan:Abah-abah wayar yang dihiris terminal tembaga, periksa wayar kuprum pecah, lompang kelim, ketebalan penyaduran tidak sekata dan ubah bentuk mikro keratan rentas untuk analisis kegagalan abah-abah.
4. Pemeriksaan kecacatan mikro untuk perkakasan ketepatan kecil:Bahagian berpaling mikro, lubang mikro komponen dan sesentuh ketepatan. Kesan keretakan mikro, lubang jarum salutan, burr halus dan calar pengisaran permukaan.
5. Pemerhatian morfologi mikro salutan dan serbuk bahan:Penyaduran logam, salutan filem, sampel serbuk dan serat. Perhatikan bentuk zarah dan liang salutan untuk perbandingan bahan dan analisis kegagalan.
6. Pengukuran dimensi ketepatan kecil:Bekerjasama dengan perisian pengukuran untuk mengukur dengan baik lebar garisan, diameter dalam lubang mikro, jurang kecil dan ketebalan salutan, memenuhi ukuran ketepatan tinggi keperluan makmal dan stesen pemeriksaan kualiti.
1. Bahan kerja untuk Pemeriksaan Pembesaran Tinggi:Sampel yang memerlukan pembesaran 95×–614× untuk perhatikan kecacatan ultra halus seperti retak mikro, lubang jarum dan calar kecil.
2. Bahan Kerja Pepejal Legap:Bahan kerja legap seperti logam, plastik, PCB dan pin cip untuk permukaan pemeriksaan kecacatan penampilan.
3. Pengukuran Dimensi Ketepatan Diperlukan:Produk yang memerlukan pengukuran tahap mikron panjang, sudut dan lengkok, dengan pengumpulan data dan penjanaan rekod pemeriksaan kualiti.
4. Komponen Ketepatan Mikro:Komponen elektronik kecil, acuan ketepatan, perkakasan mikro dan bahan kerja ketepatan ultra-kecil yang lain.
5. Pengarkiban & Kebolehkesanan Imej Diperlukan:Produk yang memerlukan tangkapan foto dan video untuk disimpan imej kecacatan untuk laporan kualiti, kebolehkesanan proses dan bukti aduan pelanggan.
6. Penyesuaian:Menyokong penghantaran neutral
Mikroskop GAOPIN digunakan oleh perusahaan terkemuka, institut penyelidikan dan universiti. Kerjasama kami perhubungan termasuk:
ZHENGKUNHANG Industrial MRO Supermarket (Shanghai) Co., Ltd. – Penampilan & pengesahan kualiti mikro bagi bahagian standard industri
Institut Optik dan Mekanik Halus Shanghai, CAS – Penyelidikan optik lanjutan & komponen optik perwatakan
Huawei Electronics – Penampilan dan pemeriksaan kecacatan mikro komponen elektronik
Dovov – Pemeriksaan kualiti mikro untuk penampilan dan komponen dalaman elektronik pengguna
A1: Mikroskop mempunyai zum berterusan dari 95X hingga 614X. Fokus kekal stabil semasa melaraskan pembesaran, menghapuskan pemfokusan semula berulang. Ia menjimatkan banyak masa operasi semasa pemeriksaan sampel kelompok dan meningkatkan kecekapan barisan pengeluaran.
A2: Ia menggunakan pengimejan definisi tinggi 4K dengan resolusi 3840 × 2160. Perisian sokongan membolehkan tepat ukuran dimensi. Tangkapan foto dan video tersedia untuk menyimpan imej sampel dan data ukuran arkib berkualiti.
A3: Dilengkapi dengan asas logam hitam berat dan dirian mengangkat satu lajur, keseluruhan unit menikmati kestabilan yang tinggi dan rintangan getaran yang baik. Roda tangan memfokus mempunyai redaman seimbang untuk pelarasan lensa yang lancar, sesuai untuk pemeriksaan berterusan yang lama di bengkel.
A4: Ia dilengkapi dengan lampu cincin atas untuk pemeriksaan visual permukaan. Digunakan secara meluas pada papan PCB, bahagian perkakasan, komponen plastik dan komponen elektronik, untuk memeriksa calar permukaan, kerosakan, burr dan kecacatan kosmetik lain.
A5: Ia boleh menyambung ke monitor untuk paparan langsung masa nyata, foto dan tangkapan video tanpa PC. Apabila disambungkan ke a komputer, fungsi lanjutan termasuk pengukuran perisian dan eksport data tersedia untuk muat berbeza keperluan stesen kerja.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., ditubuhkan pada 2011, yang pengasasnya telah mengumpul kepakaran industri sejak tahun 2005, adalah sebuah perusahaan tertumpu teknologi khusus dalam reka bentuk, R&D, jualan dan perkhidmatan selepas jualan mikroskop industri. Mempunyai pasukan kejuruteraan teras dengan lebih daripada sepuluh tahun pengetahuan profesional, the syarikat menjamin teknologi yang terbukti dan kebolehpercayaan produk yang konsisten. GAOPIN menawarkan lebih daripada seratus model produk optik dan memberi perkhidmatan kepada pelanggan di seluruh dunia, mendedikasikan dirinya untuk membekalkan buatan khusus, penyelesaian mikroskopi kos efektif. Kami menawarkan sokongan teknikal segera di seluruh dunia meliputi persidangan dalam talian, bimbingan operasi berbantukan video dan sesi latihan jarak jauh. Pangkalan pembuatan kami terletak di Kunshan, Wilayah Jiangsu, berdekatan dengan Shanghai. Kedua-dua pemeriksaan kilang di tapak dan lawatan loji maya adalah tersedia untuk pelanggan. Sila hubungi kami untuk mendapatkan contoh imej ujian yang diambil oleh 4K Ultra HD ini Mikroskop Elektron Pembesaran Tinggi dengan Sumber Cahaya Dwi, jadi anda boleh menilai prestasi pengimejannya secara langsung.
Alamat
Bangunan 2, Pusat Perniagaan Antarabangsa Shuanglian, Bandar Huaqiao, Bandar Kunshan, China
Tel
E-mel
