Produk

Produk

Mikroskop Digital Pembesaran Tinggi dengan Sumber Cahaya Dwi
  • Mikroskop Digital Pembesaran Tinggi dengan Sumber Cahaya DwiMikroskop Digital Pembesaran Tinggi dengan Sumber Cahaya Dwi
  • Mikroskop Digital Pembesaran Tinggi dengan Sumber Cahaya DwiMikroskop Digital Pembesaran Tinggi dengan Sumber Cahaya Dwi

Mikroskop Digital Pembesaran Tinggi dengan Sumber Cahaya Dwi

Model:GP-306S-4K
Untuk pemeriksaan ketepatan dengan pencahayaan fleksibel, Mikroskop Digital Pembesaran Tinggi GAOPIN dengan Sumber Cahaya Dwi menyediakan penyelesaian mikroskop digital HDMI pembesaran tinggi 4K. Mikroskop Digital Pembesaran Tinggi GP-306S-4K 4K dengan Pencahayaan Atas dan Bawah menawarkan julat pembesaran 63–414X dan menggabungkan pengimejan 4K dengan pencahayaan atas dan bawah untuk pemerhatian terperinci komponen, bahagian ketepatan dan ciri permukaan. Ideal untuk pemeriksaan elektronik, pemeriksaan PCB, pemasangan, pembaikan dan kawalan kualiti industri. Kami menyediakan harga pukal, konfigurasi tersuai dan perkhidmatan perolehan hujung ke hujung.

    Mikroskop Pengukur Gaopin GP-306S-4K 4K dengan Sumber Cahaya Dwi. Mikroskop Digital Pembesaran Tinggi ini dengan Dwi Sumber Cahaya,4K Ultra HD menyampaikan zum parfokal daripada 63X kepada 414X, mengekalkan imej yang tajam melalui pembesaran pelarasan. Ia dilengkapi dengan modul pengimejan 4K dan kanta zum monokular ketepatan. Pangkalan mempunyai bahagian atas terbina dalam dan bawah sumber cahaya dwi: cahaya atas untuk pemeriksaan topografi permukaan, cahaya yang dihantar bawah untuk melihat kontur sampel separa lutsinar. Alat ukuran terbina dalam membolehkan anotasi dimensi pantas, syot kilat dan rakaman video, memenuhi keperluan pemerhatian pembesaran tinggi dan ukuran ketepatan untuk komponen kecil.

    High-Magnification Digital Microscope with Dual Light SourceHigh-Magnification Digital Microscope with Dual Light Source

    Perbezaan daripada mikroskop yang dipasang pada badan konvensional

    Perbezaan dari mikroskop biasa:Mikroskop berkuasa tinggi biasa hanya menyokong yang dipantulkan pencahayaan permukaan dan mempunyai keupayaan terhad untuk sampel nipis atau separa lutsinar. Elektron Pembesaran Tinggi ini Mikroskop dengan Sumber Cahaya Dwi mengintegrasikan cahaya atas dan cahaya bawah yang dihantar. Satu mesin mencapai kedua-duanya pemerhatian dipantulkan dan medan terang. Zum parfokal 63–414X dan pengimejan 4K memberikan pengukuran yang unggul ketepatan untuk kedua-dua kecacatan permukaan dan pemeriksaan kontur dalaman.

    Aplikasi Produk

    Skop Permohonan:Ideal untuk pemerhatian mikroskopik dan pengukuran dimensi pin cip, mikro acuan, spring ketepatan, sesentuh penyambung dan gasket nipis. Ia mengesan keretakan mikro, kecacatan dan kerataan, dan boleh melihat kontur pemancar cahaya bahan kerja nipis. Digunakan secara meluas dalam makmal dan pengeluaran QC untuk semikonduktor aksesori dan industri acuan ketepatan.

    Spesifikasi Teknikal

    Model GP-306S-4K
    Pembesaran Optik 63X-414X
    Resolusi 3840×2160 4K
    Ketepatan Pengukuran 0.001–0.002mm
    Output HDMI untuk ukuran paparan 4K + USB 3.0 untuk pengukuran PC + port LAN untuk pengukuran PC
    Kaedah Pengukuran Pengukuran imej secara langsung
    Unit Pengukuran mm, μm, mil, inci (4 unit boleh tukar)
    Penyimpanan Pemacu USB luaran + storan perisian PC
    Pencahayaan Pencahayaan Transmissive dan Reflektif LED
    Bahasa Paparan Bahasa Cina Ringkas / Inggeris (boleh ditukar)
    Operasi Menu kendalian tetikus
    Alat Pengukuran Skala dan pelbagai alatan: panjang, sudut, lengkok, bulatan, poligon, poligaris, jarak tengah, segi empat tepat, tambah nota, pengesanan tepi automatik.
    Sistem Operasi Sistem pengukuran yang dibangunkan sendiri berasaskan Linux 3.1
    Penamaan Imej Automatik atau manual
    Crosshair 100 garis mendatar dan 100 garis menegak
    Antara muka 1× USB 3.0, 1× USB 2.0, 1× Gigabit Ethernet
    Pemproses ARM Cortex-A17 quad-core @ maks 1.4GHz (pemproses utama)
    ARM Cortex-A7 teras tunggal @ maks 900MHz (pemproses video)
    Objektif GP-306S-4K
    Pembesaran Kanta Pembesaran Elektronik Medan Pandangan Jarak Kerja
    0.7× 64X 7.9*4.4mm 50mm
    1× 92X 5*3mm
    1.5× 138X 3.6*2mm
    2× 184X 2.6*1.45mm
    2.5× 230X 2.1*1.2mm
    3× 276X 1.8*1mm
    3.5× 322X 1.5*0.85mm
    4× 368X 1.3*0.75mm
    4.5× 414X 1.2*0.65mm

    Bukti & Kebolehpercayaan Di Tapak (Ujian Pertama)

    1. Sumber Cahaya Dwi Stabil

    Lampu atas sepaksi boleh tukar & cahaya bawah yang dihantar, sesuai untuk bahan kerja lutsinar dan legap.

    2. Pengimejan 4K yang Boleh Dipercayai

    Resolusi 3840×2160, imej tanpa herotan tajam, menangkap burr kecil dan kecacatan pateri untuk bukti QC.

    3. Zum & Fokus Stabil

    Fokus semula pantas selepas mengezum, tiada hanyut imej untuk perbandingan sampel berulang.

    4. Output & Storan Stabil

    Output HDMI+USB, foto/video satu klik. Perisian menyokong pengukuran dan penandaan yang boleh dikesan.

    5. Struktur tahan getaran

    Pendirian asas dan logam yang teguh, anti-kabur di bawah getaran bengkel kecil untuk pemeriksaan pengeluaran jangka panjang.

    Gambaran Keseluruhan Entiti Produk

    item Penerangan
    Model Produk Mikroskop Digital Pembesaran Tinggi GP-306S-4K dengan Sumber Cahaya Dwi, 4K Ultra HD
    Kategori Produk Mikroskop pengukur digital pembesaran tinggi 4K industri
    Teknologi Teras Pengimejan CMOS HD 4K;
    Sistem pengukuran imej Linux yang dibangunkan sendiri;
    Digital pelbagai fungsi enjin pengukuran;
    Seni bina pemproses dwi ARM berkelajuan tinggi;
    Cincin LED boleh laras cahaya;
    Gigabit Ethernet penghantaran segerak masa nyata.
    Spesifikasi Utama Resolusi 4K 3840×2160;
    Pembesaran optik 0.7–4.5× boleh laras secara berterusan dengan kedudukan; jumlah pembesaran 63–414×;
    Ketepatan pengukuran 0.001–0.002 mm; mm / μm / mil / inci boleh tukar;
    Tiga output: HDMI, USB 3.0, Gigabit Ethernet;
    Pemacu USB luaran + PC / storan dwi perisian rangkaian;
    Pengukuran imej, tangkapan foto/video ultra-HD 4K, imej pada skrin perbandingan, storan pemacu USB.
    Aplikasi Biasa Pemeriksaan kecacatan PCB, pemeriksaan cip, pemeriksaan bersama pateri mikro BGA;
    Perkakasan ketepatan dimensi QC; ukuran mikro-dimensi lubang logam / garis rambut;
    Pemeriksaan calar kaca, elektronik pemeriksaan komponen;
    Pengukuran dimensi acuan, dimensi ketepatan makmal analisis;
    Pemeriksaan komponen tenaga baru, pemeriksaan kristal.
    Pengeluar Kunshan Gaopin Precision Instruments Co., Ltd.
    Alamat Kunshan, Wilayah Jiangsu, China (bersebelahan dengan Shanghai)

    63-414 Untuk produk manakah julat pengesanan ini sesuai?

    1. Pemeriksaan kesan PCB halus dan sambungan pateri mikro:Perhatikan litar PCB halus, pateri BGA bola, kenal pasti pateri sejuk, manik pateri, celah litar dan calar topeng pateri. 63–414X mendedahkan skala mikro kecacatan sendi pateri.

    2. Pemeriksaan kualiti untuk cip dan pin semikonduktor:Cip IC, tiub MOS dan pin penyambung. Kesan kakisan pin, ubah bentuk, lebihan pateri dan retak bungkusan, perhatikan pic pin dan kecacatan permukaan mikro.

    3. Pemeriksaan mikro perkakasan kecil ketepatan:Bahagian pusingan kecil, terminal ketepatan dan mata air mikro. Periksa keretakan mikro, lubang jarum salutan, burr tepi dan kecacatan keratan rentas selepas dikelim.

    4. Pemeriksaan bahagian plastik dan silikon ketepatan:Bahagian acuan suntikan mikro, cincin pengedap dan perumah plastik ketepatan. Periksa lubang jarum permukaan, garisan kimpalan, kekurangan bahan dan calar halus untuk dinilai kualiti acuan.

    5. Pemerhatian morfologi mikro permukaan bahan:Penyaduran logam, salutan, serbuk dan gentian sampel. Perhatikan butiran dan tekstur permukaan untuk perbandingan bahan dan analisis kegagalan awal.

    6. Pengukuran dimensi mikro bahan kerja ketepatan:Dengan perisian pengukuran, ukur garisan lebar, celah, apertur, chamfer dan saiz geometri kecil lain, memenuhi keperluan pemeriksaan ketepatan untuk makmal dan barisan pengeluaran.

    Kelebihan Reka Bentuk Unik

    1. Sistem Optik Zum Berterusan Parfokal dengan Pembesaran Tinggi 63X–414X

    Ia menggunakan kanta zum sepaksi pembesaran tinggi dengan pembesaran daripada 63X hingga 414X. Reka bentuk parfokal profesional memastikan fokus stabil semasa zum tanpa memfokus semula. Memberikan resolusi optik yang sangat baik untuk pemerhatian mikro komponen, retakan kecil dan burr mikro.

    2. Sistem Pencahayaan Boleh Laras Dwi Bebas

    Dilengkapi dengan cahaya pantulan cincin atas dan cahaya yang dipancarkan bawah dengan kawalan kecerahan yang berasingan. Yang dicerminkan cahaya memeriksa kecacatan permukaan PCB, bahagian logam dan jari emas; cahaya yang dihantar digunakan untuk kontur memeriksa kepingan lutsinar dan filem nipis. Ia mengurangkan pantulan dan bayang-bayang, serasi dengan kedua-dua telus dan sampel tidak telus.

    3. Pengimejan Ultra-HD 4K Asli & Sistem Pengukuran Terbenam

    Sensor CMOS industri 4K terbina dalam mengeluarkan video 4K masa nyata melalui HDMI. Fungsi pengukuran bersepadu menyokong panjang, sudut, jejari, ukuran luas terus pada monitor. Tiada PC diperlukan untuk pemeriksaan kecacatan di tapak dan pengesahan dimensi, dengan syot kilat dan rakaman video tersedia.

    4. Output Dwi Segerak HDMI + USB

    HDMI bersambung terus untuk memantau untuk pratonton di tapak masa nyata pada barisan pengeluaran. Sambungan USB membolehkan PC fungsi termasuk tindanan kedalaman, jahitan imej, pengarkiban imej kelompok dan eksport laporan pengukuran. Ia memenuhi kedua-dua QC bengkel pantas dan analisis makmal lanjutan.

    5. Pendirian Lajur Tegar & Peringkat Sampel Telus

    Lajur pengangkat logam menegak menampilkan pelarasan ketinggian yang lancar dan rintangan getaran yang hebat untuk mengekalkan imej stabil walaupun dalam persekitaran kilang. Pangkalan dilengkapi dengan peringkat pemancar cahaya untuk cahaya yang dihantar pemerhatian, dilengkapi dengan pemegang sampel untuk menetapkan sampel kecil untuk pemeriksaan berterusan jangka panjang.

    Penyelenggaraan Harian Mikroskop Elektron

    Penjagaan Kanta Optik:Hanya gunakan tisu kanta optik profesional atau kain bebas habuk mikrofiber untuk mengelap permukaan kanta. Jangan sekali-kali menggunakan tuala kertas atau kain kasar untuk mengelakkan salutan kanta tercalar. Untuk cap jari dan minyak noda, sapukan sedikit pembersih optik pada kain. Jangan titiskan cecair terus ke kanta. elakkan menyentuh permukaan optik kanta dengan tangan.

    Penyelenggaraan Kamera, Tong Lensa & Stand:Bersihkan kamera 4K, laras zum dan lajur logam dengan kain lembut bebas habuk kering. Jangan dedahkan seluruh unit kepada air. Simpan alkohol, aseton dan bahan menghakis kuat yang lain pelarut untuk melindungi cat dan tanda bercetak. Pastikan semua penyambung kering untuk mengelakkan pengoksidaan logam dan lemah kenalan.

    Peringkat & Mekanisme Fokus:Keluarkan habuk dari pentas hitam dengan kain lembut kering. Bersihkan habuk tombol fokus dan rel panduan lajur dengan kerap. Sebilangan kecil gris kering boleh disapu. Pelincir cecair ialah dilarang, untuk mengelakkan minyak menitis dan mencemarkan kanta dan sampel. Kendalikan tombol fokus perlahan-lahan, jangan pusing ia secara paksa untuk mengelakkan kerosakan gear.

    Kuasa & Persekitaran Operasi:Gunakan penyesuai kuasa asal. Letakkan peralatan dalam keadaan kering, persekitaran berhabuk rendah, jauh dari suhu tinggi, kelembapan dan getaran berat. Matikan dan cabut palam penyesuai apabila tidak digunakan untuk masa yang lama.

    Cara Memilih Model

    1. Bahan Kerja untuk Pemeriksaan Pembesaran Sederhana & Tinggi:Sampel yang memerlukan 63×–414× pembesaran untuk melihat keretakan mikro, burr dan kecacatan permukaan.

    2. Sampel Telus & Legap:Mengguna pakai dwi sumber cahaya. Sesuai untuk bahagian legap seperti logam dan plastik, serta bahan kerja lutsinar & separa lutsinar seperti filem, kaca dan kepingan nipis.

    3. Pengukuran Dimensi Ketepatan Diperlukan:Produk yang memerlukan pengukuran tahap mikron panjang, sudut dan lengkok, dengan pengumpulan data dan penjanaan laporan pemeriksaan kualiti.

    4. Komponen Ketepatan Kecil:Papan PCB, komponen elektronik, acuan ketepatan, perkakasan kecil dan bahan kerja ketepatan lain.

    5. Pengarkiban & Kebolehkesanan Imej Diperlukan:Produk yang memerlukan tangkapan foto dan video untuk disimpan imej kecacatan untuk kebolehkesanan proses, arkib kualiti dan bukti aduan pelanggan.

    6. Penyesuaian:Menyokong penghantaran neutral

    Rakan Kongsi & Pelanggan Berwibawa

    Authoritative Partners & Clients

    Mikroskop GAOPIN digunakan oleh perusahaan terkemuka, institut penyelidikan dan universiti. Kerjasama kami perhubungan termasuk:

    Universiti Tsinghua – Penyelidikan saintifik mikroskopik dan pencirian bahan lanjutan

    GREE Electric (Hefei) – Pemeriksaan kecacatan mikro dan pengesahan kualiti komponen

    Dabo Medical – Pemeriksaan kualiti permukaan mikro bagi implan perubatan

    ZTE Optoelektronik Technology Co., Ltd. – Ujian komponen optoelektronik & analisis kegagalan

    Mengenai GAOPIN

    Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., ditubuhkan pada 2011, yang pengasasnya telah mengumpul kepakaran industri sejak tahun 2005, adalah sebuah perusahaan tertumpu teknologi khusus dalam reka bentuk, R&D, jualan dan perkhidmatan selepas jualan mikroskop industri. Mempunyai pasukan kejuruteraan teras dengan lebih daripada sepuluh tahun pengetahuan profesional, the syarikat menjamin teknologi yang terbukti dan kebolehpercayaan produk yang konsisten. GAOPIN menawarkan lebih daripada seratus model produk optik dan memberi perkhidmatan kepada pelanggan di seluruh dunia, mendedikasikan dirinya untuk membekalkan buatan khusus, penyelesaian mikroskopi kos efektif. Kami menawarkan sokongan teknikal segera di seluruh dunia meliputi persidangan dalam talian, bimbingan operasi berbantukan video dan sesi latihan jarak jauh. Pangkalan pembuatan kami terletak di Kunshan, Wilayah Jiangsu, berdekatan dengan Shanghai. Kedua-dua pemeriksaan kilang di tapak dan lawatan loji maya adalah tersedia untuk pelanggan. Sila hubungi kami untuk mendapatkan contoh imej ujian yang ditangkap oleh Pembesaran Tinggi ini Mikroskop Digital dengan Sumber Cahaya Dwi, 4K Ultra HD, jadi anda boleh menilai prestasi pengimejannya secara langsung.

    Soalan Lazim

    S1: Apakah julat pembesaran mikroskop dwi-cahaya GP-306S-4K dan apakah ciri zumnya?

    A1: Ia menawarkan pembesaran daripada 63X hingga 414X dengan zum parfokal. Fokus kekal konsisten apabila bertukar tahap pembesaran, mengalih keluar kerja memfokus semula berulang dan meningkatkan kecekapan untuk sampel kelompok pemeriksaan.

    S2: Apakah senario pemeriksaan yang sesuai untuk dua mod pencahayaan model dwi-cahaya ini?

    A1: Lampu atas digunakan untuk memeriksa kecacatan permukaan pada bahan kerja. Lampu bawah yang dihantar terbina dalam pada pangkalan menerangi sampel lutsinar dan separa lutsinar untuk memerhati kontur dalaman dan struktur tepi. Satu unit mengendalikan kedua-dua pemeriksaan permukaan dan analisis sampel lut sinar.

    S3: Bagaimanakah prestasi pengimejan GP-306S-4K dan adakah ia menyokong penjimatan pengukuran dan rekod?

    A1: Dilengkapi dengan sistem pengimejan definisi tinggi 4K pada resolusi 3840×2160. Perisian sokongan menyokong ukuran dimensi yang tepat. Tangkapan foto dan rakaman video tersedia untuk pemeriksa untuk menyimpan imej dan data pengukuran untuk kebolehkesanan kualiti.

    S4: Apakah kelebihan reka bentuk asas dan dirian sistem ini?

    A4: Ia menggunakan tapak putih khusus dengan tingkap lutsinar untuk pemerhatian cahaya yang dihantar, dipasangkan dengan a pendirian tiang tunggal menegak. Roda tangan memfokus mempunyai redaman yang licin dan stabil. Keseluruhan struktur adalah pepejal dan tahan kepada getaran bengkel kecil, sesuai untuk pemeriksaan kualiti berterusan yang lama.

    S5: Adakah komputer diperlukan untuk pemerhatian semasa mengendalikan mikroskop ini?

    A5: Ia boleh menyambung terus ke monitor untuk paparan langsung, tangkapan foto dan rakaman video tanpa PC. Maju fungsi termasuk pengukuran perisian dan eksport data menjadi tersedia selepas menyambung ke komputer, secara fleksibel menyesuaikan diri dengan keperluan stesen kerja yang berbeza.A3: Turun naik disebabkan oleh pemilihan titik manual yang tidak konsisten, offset benda kerja, imej tidak fokus atau penentukuran tidak sah. Betulkan bahan kerja, pastikan pemfokusan manual yang jelas, bersatu piawaian pemilihan dan melakukan penentukuran semula yang tepat untuk meningkatkan kestabilan pengukuran dan kebolehulangan.

    S6: Mengapakah terdapat sisihan warna pada imej yang dipaparkan?

    J4: Semak tetapan imbangan putih. Lakukan penentukuran imbangan putih manual terhadap rujukan putih standard permukaan. Juga sahkan bahawa kecerahan sumber cahaya adalah stabil.

    S7: Tiada paparan HDMI dan tangkapan imej perisian gagal?

    A5: Periksa bekalan kuasa dan sambungan ketat pada port HDMI dan USB, dan sahkan mod output isyarat yang betul. Gantikan kabel yang rosak jika perlu. Mulakan semula peranti untuk memulihkan fungsi paparan dan tangkapan imej biasa.

    Hantar Pertanyaan
    Maklumat Hubungan
    Hantarkan keperluan anda untuk sebut harga terus kilang. OEM atau sistem mikroskop tersuai, pesanan pukal, penghantaran eksport - GAOPIN bertindak balas dengan cadangan yang disesuaikan.
    X
    Kami menggunakan kuki untuk menawarkan anda pengalaman menyemak imbas yang lebih baik, menganalisis trafik tapak dan memperibadikan kandungan. Dengan menggunakan tapak ini, anda bersetuju dengan penggunaan kuki kami. Dasar Privasi
    TolakTerima