Mikroskop Digital Pembesaran Tinggi dengan Pencahayaan Atas dan Bawah

Gaopin GP-305S-4K Mikroskop Digital Pembesaran Tinggi dengan Pencahayaan Atas dan Bawah. Mikroskop Digital Pembesaran Tinggi ini dengan Atas dan Pencahayaan bawah memberikan zum parfokal dari 47X hingga 307X, tiada pemfokusan semula diperlukan semasa pelarasan pembesaran. Dilengkapi dengan kamera resolusi tinggi 4K dan kanta zum berterusan monokular ketepatan. Pangkalan mengintegrasikan cincin atas ringan dan cahaya dihantar bawah, membolehkan pensuisan lampu fleksibel untuk sampel legap dan separa lutsinar. terbina dalam perisian pengukuran menyokong pengukuran panjang, sudut, jejari dan ciri geometri lain. Foto dan video tangkap tersedia untuk pengarkiban sampel, sesuai untuk pemeriksaan visual dan pengukuran ketepatan di makmal dan barisan pengeluaran.

Perbezaan daripada mikroskop yang dipasang pada badan konvensional

Perbezaan dari mikroskop biasa:Kebanyakan mikroskop digital standard hanya mempunyai satu cincin ringan dan tidak dapat menangkap kontur dalaman sampel separa lutsinar. Mikroskop Elektron Pembesaran Tinggi ini dengan Sumber Cahaya Dwi mengguna pakai pencahayaan dwi cahaya atas dan cahaya yang dipancarkan bawah untuk pencahayaan yang fleksibel kawalan. Ia menampilkan zum parfokal 47–307X untuk memastikan imej tajam semasa menukar pembesaran. 4K bersepadu sistem pengukuran menyokong kedua-dua pemeriksaan permukaan bahagian legap dan pemerhatian yang dihantar bagi filem nipis, meliputi lebih banyak senario aplikasi daripada mikroskop biasa.

Aplikasi Produk

Skop Permohonan:Sesuai untuk pemeriksaan kecacatan dan pengukuran dimensi PCB, filem nipis, plastik, perkakasan ketepatan dan komponen elektronik. Ia memerhatikan calar permukaan, burr, diameter lubang, pin pic dan kontur dalaman bahan separa lutsinar. Digunakan secara meluas di stesen QC elektronik dan bahan 3C industri ujian.

Spesifikasi Teknikal

Bukti & Kebolehpercayaan Di Tapak (Ujian Pertama)

1. Ujian Kebolehpercayaan Pencahayaan Sumber Cahaya Dwi

Dilengkapi dengan lampu atas sepaksi dan cahaya bawah yang dihantar. Ujian lapangan mengesahkan penukaran percuma antara keduanya mod pencahayaan. Ia mengendalikan kedua-dua pemeriksaan kecacatan permukaan reflektif dan penghantaran sampel telus pemerhatian, menyelesaikan isu pencahayaan tidak sekata merentas bahan kerja medan terang/gelap. Calar, rekahan dalaman dan jejak litar semuanya digambarkan dengan jelas, menyesuaikan diri dengan pelbagai jenis sampel.

2. Ujian Kestabilan Pengimejan Definisi Tinggi 4K

Menggunakan penderia pengimejan 4K, operasi berterusan jangka panjang di tapak menunjukkan perincian imej yang tajam dan bebas herotan. Burr mikro, sambungan pateri dan celah halus ditangkap secara stabil, memberikan imej pemeriksaan definisi tinggi untuk kecacatan bukti dan pengarkiban yang berkualiti.

3. Ujian Kebolehpercayaan Pemfokusan Ulangan Zum Berterusan

Kumpulan kanta zum boleh ubah berterusan telah berulang kali disahkan melalui berbilang kitaran zum dan fokus semula. Pengimejan kembali tajam dengan cepat selepas mengezum tanpa hanyut imej, sesuai untuk pemeriksaan perbandingan berulang dan stabil pemeliharaan bukti perbandingan berbilang kumpulan.

4. Ujian Kebolehpercayaan Output Imej & Penyimpanan Bukti

Menyokong paparan masa nyata HDMI dan sambungan PC USB. Ujian di tapak membolehkan rakaman foto dan video satu klik, menyimpan secara langsung rakaman pemeriksaan asal. Perisian PC yang digabungkan menyokong pengukuran dimensi dan silang menanda, menyimpan rekod pemeriksaan lengkap yang boleh dikesan untuk memenuhi keperluan dokumentasi laporan yang berkualiti.

5. Ujian Kebolehpercayaan Struktur Anti-getaran Stand

Kaki pengangkat logam yang dipasangkan dengan tapak pepejal telah diuji di bawah keadaan getaran bengkel cahaya simulasi. Getaran kecil tidak menyebabkan imej kabur yang ketara, dengan kunci fokus yang stabil, memastikan kualiti pengimejan yang konsisten semasa pemerhatian berterusan dan tangkapan imej yang panjang.

Gambaran Keseluruhan Entiti Produk

47-307 Untuk produk manakah julat pengesanan ini sesuai?

1. Pemeriksaan kecacatan visual papan litar PCB:Perhatikan litar terbuka kerajang kuprum, litar pintas, sambungan pateri sejuk, bola pateri, calar dan kerosakan topeng pateri. 47–307X mengimbangkan medan pandangan yang luas dan pateri kecil butiran bersama.

2. Pemeriksaan kualiti untuk komponen elektronik ketepatan:Perintang, kapasitor, diod dan cip pin. Kesan pengoksidaan pin, ubah bentuk, lebihan pateri dan keretakan bungkusan.

3. Pemeriksaan burr & retak untuk bahagian perkakasan kecil:Bahagian pengecap mikro, bahagian berpusing, skru dan mata air. Periksa burr tepi, serpihan, rekahan permukaan dan pengelupasan salutan.

4. Pemeriksaan kecacatan untuk bahagian suntikan plastik:Komponen dan penyambung plastik ketepatan perumahan. Periksa tanda sinki, buih, kekurangan bahan, calar dan kilat.

5. Contoh pemerhatian & ukuran dimensi mudah:Perhatikan struktur mikro sampel. Dengan fungsi pengukuran, ukuran jurang, lebar garisan dan saiz zarah.

6. Pemerhatian mikro peninggalan dan bahan budaya:Gentian fabrik, salutan dan sampel serbuk. Perhatikan tekstur permukaan dan morfologi zarah untuk sampel pengajaran dan analisis bahan awal.

Kelebihan Reka Bentuk Unik

Pangkalan dwi cahaya bersepadu

Lampu hantaran bawah terbina dalam + lampu cincin atas dengan kawalan kecerahan berasingan. Untuk bahagian reflektif seperti PCB jari emas dan sampel lutsinar seperti filem dan kaca. Didatangkan dengan pentas kaca dan klip sampel.

Kanta zum berterusan parfokal

zum 47–307×, tiada pemfokusan semula apabila menukar pembesaran. C-mount standard untuk cahaya sepaksi pilihan.

Kamera industri 4K asli

Output dwi HDMI & USB, pratonton kependaman rendah, tangkapan foto & video. Pelesapan haba yang sangat baik untuk masa yang lama pemeriksaan bengkel.

Pengukuran pada skrin

Ukur panjang, sudut dan luas terus pada monitor tanpa PC. Tindanan silang rambut dan anotasi imej disokong.

Pendirian modular ketepatan

Fokus halus licin, kedudukan stabil. Serasi dengan polarizer. Ideal untuk PCB, semikonduktor, perkakasan ketepatan dan pemeriksaan filem nipis.

Penyelenggaraan Harian Mikroskop Elektron

· Penjagaan Kanta Optik:Hanya gunakan tisu kanta optik profesional atau kain bebas habuk mikrofiber untuk lap permukaan kanta. Jangan sekali-kali menggunakan tuala kertas atau kain kasar untuk mengelakkan salutan kanta tercalar. Untuk cap jari dan minyak noda, sapukan sedikit pembersih optik pada kain. Jangan titiskan cecair terus ke kanta. elakkan menyentuh permukaan optik kanta dengan tangan.

· Penyelenggaraan Kamera, Tong Kanta & Stand:Bersihkan kamera 4K, laras zum dan lajur logam dengan kain lembut bebas habuk kering. Jangan dedahkan seluruh unit kepada air. Pastikan alkohol, aseton dan lain-lain kuat pelarut menghakis untuk melindungi cat dan tanda bercetak. Pastikan semua penyambung kering untuk mengelakkan pengoksidaan logam dan hubungan buruk.

· Penjagaan Peringkat & Dwi Sumber Cahaya:Keluarkan habuk dari pentas putih dan LED atas & bawah cincin dua cahaya dengan kain lembut kering. Bersihkan tingkap cahaya dengan cara yang sama seperti kanta, jangan gunakan yang menghakis cecair. Jangan tarik kabel lampu secara paksa.

· Penyelenggaraan Mekanisme Fokus:Bersihkan habuk pada tombol fokus dan rel panduan lajur dengan kerap. A kecil jumlah gris kering boleh digunakan. Pelincir cecair adalah dilarang, untuk mengelakkan minyak menitis dan mencemarkan kanta, sumber cahaya dan sampel. Kendalikan tombol fokus dengan perlahan, jangan putarnya secara paksa untuk mengelakkan kerosakan gear.

· Kuasa & Persekitaran:Gunakan penyesuai kuasa asal. Letakkan peralatan di tempat yang kering dan berhabuk rendah persekitaran, jauh dari suhu tinggi, kelembapan dan getaran berat. Matikan dan cabut plag penyesuai apabila tidak masuk guna dalam jangka masa yang lama.

Cara Memilih Model

1. Bahan kerja untuk Pemerhatian Pembesaran Boleh Ubah:Sampel yang memerlukan pembesaran 47×–307× untuk periksa calar dan kecacatan permukaan kecil.

2. Sampel Telus & Legap:Mengguna pakai dwi sumber cahaya. Sesuai untuk bahagian legap seperti logam dan plastik, serta bahan kerja lutsinar & separa lutsinar seperti filem dan kaca.

3. Pengukuran Dimensi Ketepatan Diperlukan:Produk yang memerlukan pengukuran tahap mikron panjang, sudut dan lengkok, dengan pengumpulan data dan penjanaan rekod pemeriksaan.

4. Komponen Kepersisan Sederhana & Kecil:Papan PCB, komponen elektronik, acuan, ketepatan perkakasan dan bahan kerja ketepatan sederhana-kecil yang lain.

5. Pengarkiban Imej Diperlukan:Produk yang memerlukan tangkapan foto dan video untuk menyimpan imej kecacatan laporan kualiti, kebolehkesanan proses dan bukti aduan.

6. Penyesuaian:Menyokong penghantaran neutral

Rakan Kongsi & Pelanggan Berwibawa

Mikroskop GAOPIN digunakan oleh perusahaan terkemuka, institut penyelidikan dan universiti. Kerjasama kami perhubungan termasuk:

Universiti Xi'an Jiaotong – Analisis saintifik mikro-morfologi bahan

Dovov – Pemeriksaan kualiti mikro untuk penampilan dan komponen dalaman elektronik pengguna

AVIC Optoelektronik Technology Co., Ltd. – Pemeriksaan struktur mikro dan analisis kegagalan penyambung

Institut Seramik Shanghai, CAS – Penyelidikan struktur mikro bahan bukan logam bukan organik

Soalan Lazim

S1: Apakah julat pembesaran mikroskop dwi-cahaya GP-305S-4K dan apakah faedah yang ditawarkan zum parfokal?

A1: Ia memberikan pembesaran daripada 47X hingga 307X dengan zum parfokal. Fokus kekal stabil semasa bertukar tahap pembesaran, menghapuskan pemfokusan semula berulang. Ia memotong langkah operasi dan meningkatkan kecekapan pemeriksaan semasa ujian sampel kelompok.

S2: Apakah jenis sampel yang sesuai untuk pemeriksaan di bawah persediaan dwi-cahaya?

A2: Lampu cincin atas digunakan untuk memeriksa kecacatan permukaan pada bahan kerja. Lampu bawah yang dihantar terbina dalam menyala tapaknya menerangi sampel telus dan separa lutsinar untuk memerhati kontur dalaman dan struktur tepi. satu unit menyokong kedua-dua pemeriksaan permukaan dan analisis sampel lut sinar.

S3: Bagaimana pula dengan prestasi pengimejan mikroskop ini, dan adakah ia menyokong pengukuran dan penyimpanan rekod?

A3: Ia menampilkan sistem pengimejan definisi tinggi 4K dengan resolusi 3840×2160. Perisian sokongan membolehkan ukuran dimensi yang tepat. Tangkapan foto dan rakaman video tersedia untuk menyimpan imej dan ukuran data untuk kebolehkesanan kualiti dan pengurusan dokumen.

S4: Apakah sorotan reka bentuk asas dan pendirian untuk GP-305S-4K?

A4: Ia menggunakan asas putih khusus dengan tingkap lutsinar untuk cahaya yang dihantar, dipasangkan dengan menegak pendirian tiang tunggal. Roda tangan fokus mempunyai redaman yang seimbang dan licin. Keseluruhan unit adalah pepejal dan tahan getaran bengkel kecil, sesuai untuk pemeriksaan berterusan berjam-jam.

S5: Adakah PC diperlukan untuk melihat sampel dengan GP-305S-4K?

J5: Tiada komputer wajib untuk operasi asas. Sambungkannya ke monitor untuk paparan langsung, tangkapan foto dan video rakaman. Fungsi lanjutan termasuk pengukuran perisian dan eksport data tersedia selepas menyambung ke a PC, menyesuaikan secara fleksibel kepada persediaan stesen kerja yang berbeza.

Mengenai GAOPIN

Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., ditubuhkan pada 2011, yang pengasasnya telah mengumpul kepakaran industri sejak tahun 2005, adalah sebuah perusahaan tertumpu teknologi khusus dalam reka bentuk, R&D, jualan dan perkhidmatan selepas jualan mikroskop industri. Mempunyai pasukan kejuruteraan teras dengan lebih daripada sepuluh tahun pengetahuan profesional, the syarikat menjamin teknologi yang terbukti dan kebolehpercayaan produk yang konsisten. GAOPIN menawarkan lebih daripada seratus model produk optik dan memberi perkhidmatan kepada pelanggan di seluruh dunia, mendedikasikan dirinya untuk membekalkan buatan khusus, penyelesaian mikroskopi kos efektif. Kami menawarkan sokongan teknikal segera di seluruh dunia meliputi persidangan dalam talian, bimbingan operasi berbantukan video dan sesi latihan jarak jauh. Pangkalan pembuatan kami terletak di Kunshan, Wilayah Jiangsu, berdekatan dengan Shanghai. Kedua-dua pemeriksaan kilang di tapak dan lawatan loji maya adalah tersedia untuk pelanggan. Sila hubungi kami untuk mendapatkan contoh imej ujian yang ditangkap oleh Pembesaran Tinggi ini Mikroskop Digital dengan pencahayaan Atas dan Bawah, jadi anda boleh menilai prestasi pengimejannya secara langsung.