Ideal untuk analisis kecacatan bahan dan aliran kerja audit kualiti, Mikroskop Metalurgi Pembesaran Tinggi Ultra HD 4K ini ialah pembesaran Tinggi yang kompetitif mikroskop metalografik dengan 4K Ultra HD. Tontonan dwi melalui kanta mata binokular dan monitor luaran membolehkan semakan pasukan yang mudah. Pemindahan data wayarles boleh direalisasikan dengan memasukkan penyesuai wayarles ke dalam port USBnya. Pencahayaan sepaksi seragam bersama-sama dengan mod medan terang dan medan gelap memberikan keterlihatan tajam untuk bijirin, salutan, retak dan kecacatan kecil lain. Fungsi tangkapan imej dan analisis pengukuran terbina dalam menyelaraskan aliran kerja pemeriksaan. Casis anti-getaran mengekalkan kualiti gambar yang konsisten; susun atur modular mesra naik taraf luka pelaburan perkakasan masa hadapan.
Kamera 4K disepadukan dengan bingkai metalurgi trinokular, menyokong kanta mata serentak dan tontonan skrin. Dwi output port HDMI + Gigabit-LAN untuk menangkap imej mikro ultra-HD dalam masa nyata.
Pembesaran optik 50-500 ×, pembesaran digital maksimum 2000 ×. Laluan optik ketepatan dengan profesional objektif metalurgi menyampaikan pengimejan tajam tekstur logam mikro.
Unit pemfokusan kasar dan halus bersepadu memastikan pemfokusan yang lancar dan stabil, mengurangkan getaran imej semasa pemerhatian.
Tapak aluminium tuang sekeping memastikan unit seimbang, bebas goyangan atau anjakan semasa pemeriksaan hirisan lama dan kerja pemerhatian bahan.
Badan gaya penyelidikan putih-biru klasik dengan susun atur metalurgi trinokular standard, bersih dan minimalis untuk makmal dan bengkel pemeriksaan kualiti.
Sesuai untuk analisis logam-logamografi, pemeriksaan semikonduktor-wafer, analisis-kegagalan bahan, tugasan-penyelidikan-pengajaran-universiti dan ujian-kualiti-komponen.
Tangkapan foto dan video 4K (3840 × 2160). Pengukuran pada monitor terbina dalam dan pengukuran berasaskan perisian PC adalah tersedia; dwi-storan melalui pemacu denyar USB dan komputer. Pembangunan menengah disokong untuk memudahkan pengarkiban imej, perbandingan dan analisis data yang mendalam.
Tontonan binokular & pemerhatian elektronik segerak:Paparan disegerakkan antara kanta mata dan pantau. Mikroskop metalurgi biasa hanya menyokong tontonan kanta mata sahaja; aksesori kamera tambahan diperlukan untuk keluaran skrin.
Pengimejan definisi ultra tinggi 4K:Resolusi 3840 × 2160 4K untuk pembiakan struktur mikro halus. Kamera metalurgi biasa kebanyakannya 1080P dengan kejelasan terhad.
Antara muka dwi-output:Port HDMI + Gigabit-LAN. Peranti metalurgi tradisional biasanya sahaja sambung ke PC tanpa port rangkaian untuk penyepaduan peranti.
Mod pengukuran dwi:Pengukuran terbina dalam luar talian pada monitor ditambah dengan pengukuran berasaskan perisian PC. Mikroskop metalurgi biasa hanya menyokong ukuran sisi PC tanpa fungsi pengukur tertanam perkakasan.
Mod storan dwi:Storan pemacu kilat USB luar talian dan storan perisian PC; penjimatan data tersedia dengan atau tanpa komputer. Model konvensional memerlukan PC untuk penjimatan imej.
Pembangunan menengah disokong:Port Gigabit-LAN membolehkan penyepaduan sistem untuk pengagihan talian pengeluaran automasi. Mikroskop metalurgi am tidak menyokong pembangunan sekunder integrasi.
Laluan optik metalurgi khusus:Dioptimumkan untuk analisis logam, salutan dan struktur butiran. Mikroskop digital biasa tidak mempunyai laluan optik metalurgi khusus dan tidak dapat memerhatikan metalurgi struktur mikro.
Dilengkapi dengan kamera industri 4K (3840 × 2160) asli dan ditentukur secara profesional dengan standard spesimen ujian metalurgi, sistem menghasilkan imej ultra-jelas, fokus sekata. Ia memulihkan dengan tepat rumit struktur mikro termasuk sempadan butiran, salutan berlapis dan patah mikro dengan ketajaman yang konsisten dari tengah ke tepi.
Dikonfigurasikan dengan pelbagai objektif metalurgi akromatik untuk analisis mikro pembesaran tinggi. Dwi-pandangan reka bentuk trinokular menyokong tontonan kanta mata segerak dan paparan monitor digital, sesuai dengan industri senario seperti pengenalan-bahan-logam, pemeriksaan-ketebalan-salutan dan penggredan-kualiti-butir.
Algoritma pengukuran profesional terbina dalam membolehkan tindanan data pada skrin dan ketepatan tinggi pengukuran metalurgi. Ia meliputi pelbagai penunjuk utama termasuk ketebalan salutan, panjang butiran, lebar retak dan jarak antara lapisan, sementara menyokong anotasi masa nyata, pengarkiban imej dan eksport data ujian. Serasi dengan susunan depth-of-field dan fungsi jahitan imej.
Pencahayaan dipancarkan dan dipantulkan dua laluan menjamin pencahayaan yang layak untuk jenis spesimen yang pelbagai. The peringkat mudah alih berketepatan tinggi memastikan kedudukan medan yang fleksibel dan tepat. Diperkukuh badan logam penuh dengan berkesan menghapuskan getaran, memberikan prestasi yang mantap untuk pengesanan bahan kelompok jangka panjang.
Komponen Semikonduktor & Elektronik:Cip IC, wafer silikon, kepingan fotolitografi, PCB papan, papan fleksibel FPC, sambungan pateri, pin. Sasaran pemeriksaan: Perhatikan litar cip dalaman, wafer salutan, kecacatan pateri sejuk, pengoksidaan, calar litar dan ubah bentuk pin; menganalisis struktur kepingan mikro di bawah pembesaran maksimum 2000 ×.
Bahan Logam & Spesimen Metalografik:Kepingan metalografik, perkakasan logam bercop. Sasaran pemeriksaan: Analisis struktur butiran metalografik, pengenalpastian bahan rawatan haba; mengesan cipratan tepi, retak mikro, burr dan kedalaman lelasan.
Bahagian Optoelektronik LED & Beracuan Plastik:Cip LED, bahagian plastik optik, suntikan & potong mati produk. Sasaran pemeriksaan: Periksa takuk kecil, kesan permukaan, tepi kasar, zarah mikro-asing, gam-delaminasi dan pengedap mikro-kecacatan.
Komponen Miniatur Ketepatan Tinggi:Penyambung, terminal, pegas mikro, bahan kerja bercop kecil. Sasaran pemeriksaan: Perhatikan celah kecil dan kerataan kelim; melakukan pengukuran tepat tahap piksel panjang, diameter lubang dan pic.
Arkib QC Makmal & Perindustrian:Analisis-eksperimen-kepingan-logamografi, pemeriksaan pensampelan-&-barang-siap masuk; pengarkiban foto-&-video untuk rekod bukti-cacat dan eksport laporan QC ukuran formal.
Julat pembesaran optik 50 ×-500 ×, pembesaran digital maksimum sehingga 2000 ×, dengan 3840 × 2160 4K asli resolusi. Ia jelas memaparkan tekstur metalografik, salutan cip dan butiran kecil, sesuai untuk analisis mikro logam-logam-struktur, wafer, salutan dan serbuk-bahan untuk bahan-makmal dan semikonduktor-masuk- pemeriksaan.
Laluan optik trinokular membolehkan tontonan serentak melalui kanta mata binokular dan monitor. Berbilang pengendali boleh semak sampel mikro bersama-sama, sesuai untuk latihan universiti dan pemeriksaan dua kali kecacatan di kilang.
Dilengkapi dengan port HDMI + Gigabit-LAN. HDMI menyambungkan monitor untuk tontonan di tapak; Sokongan port LAN rangkaian-kawasan-tempatan akses untuk akses-imej-jauh dan pemantauan-segerak-berbilang stesen, merealisasikan pengurusan-peralatan berpusat untuk makmal berskala besar.
Penyelesaian dua ukuran: pengukuran pada monitor terbina dalam dan pengukuran berasaskan perisian PC. Dua cara storan: USB storan pemacu kilat dan pengarkiban komputer. Data terukur dan imej 4K boleh dieksport untuk laporan QC, dan peranti menyokong pembangunan menengah untuk integrasi barisan pengeluaran.
Peringkat metalurgi standard dengan pelbagai kanta objektif sesuai dengan sampel logam, wafer, kepingan salutan dan bahagian mikro-elektronik. Pemfokusan manual kasar dan halus sepaksi ketepatan dengan badan yang stabil, digunakan secara meluas dalam pengajaran, pemeriksaan-masuk dan penyelidikan-bahan-baru.
Penghantaran pembungkusan neutral disediakan atas permintaan.
| Entiti | Penerangan |
| produk | GP-L200-324K 4K Mikroskop metalografi pembesaran tinggi dengan 4K Ultra HD |
| kategori | Industri Trinokular Pembesaran Tinggi 4K Metalographic Inspection & Measuring Microscope |
| Teknologi Teras | Sistem optik pemerhatian segerak trinokular, kumpulan kanta objektif metalurgi profesional, 4K pengimejan CMOS definisi ultra tinggi, enjin ukuran dwi-digital (pada skrin & perisian PC), HDMI + Gigabit-LAN dwi-isyarat-transmisi, dwi-storan-teknologi, sokongan sistem terbuka pembangunan menengah |
| Spesifikasi Utama | Pembesaran visual: 50/100/200/500 ×; Pembesaran elektronik: 200/400/800/2000 ×; Dwi-output: HDMI + Gigabit-LAN; Resolusi tangkapan 4K 3840 × 2160; Pemfokusan manual; Mod-dwi-ukuran: terbina dalam pengukuran pada peranti + pengukuran perisian PC profesional *(0.001 mm, Toleransi ukuran yang lebih kecil boleh dicapai di bawah pembesaran yang lebih tinggi. Keputusan tertakluk kepada penentukuran, pembesaran dan sampel syarat)*; Dwi-storan: USB-flash-drive local-storage + computer-file-storage; Monitor-terminal menyokong pratonton imej, ukuran dimensi, tangkap foto & simpan fail; Sokongan terminal PC pengukuran dan pengarkiban imej, serasi dengan penyepaduan pembangunan menengah |
| Aplikasi Biasa | Analisis struktur-logam-logamografi, aloi-butir-&-bahan-tekstur-pemerhatian, ukuran ketebalan salutan, pengesanan-wafer semikonduktor, pemeriksaan keratan rentas PCB, analisis-kegagalan-perkakasan-perkakasan, penyelidikan-bahan-makmal-universiti, kualiti-bahan-tenaga-baru- ujian |
| Pengeluar | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Lokasi Pengeluar | Kunshan, Jiangsu, China (berhampiran Shanghai) |
| Jenama produk | GAOPIN |
| Model Produk | GP-L200-324K |
| Resolusi | 3840 × 2160 (4K) |
| Piksel Berkesan | 8.3-megapiksel |
| Kaedah memfokuskan | Fokus manual (pelarasan kasar dan halus sepaksi) |
| Format optik sensor | 1/1.7" |
| Saiz piksel | 1.85 μm × 1.85 μm |
| Antara muka keluaran | HDMI + Gigabit-LAN |
| Kadar bingkai | HDMI: 60 fps @3840 × 2160 Port LAN: 20 fps @1920 × 1080 |
| Operasi pengukuran | Sistem pengukuran pada monitor terbina dalam + pengukuran berasaskan perisian PC |
| Ketepatan pengukuran | 0.001 mm *(Toleransi ukuran yang lebih kecil boleh dicapai di bawah pembesaran yang lebih tinggi. Keputusan tertakluk kepada penentukuran, pembesaran dan keadaan sampel)* |
| Unit ukuran | mm / μm / mil / inci (boleh tukar 4 arah) |
| Alat ukuran | Panjang, sudut, jejari, bulatan, poligon, poligaris, jarak pusat ke tengah, segi empat tepat, anotasi, pengesanan tepi automatik, bar skala |
| Kaedah penyimpanan | Pemacu kilat USB + storan perisian PC |
| Mod penamaan imej | Penamaan fail imej automatik atau manual |
| Bahasa paparan | Bahasa Cina Ringkas / Inggeris (boleh ditukar) |
| Pemproses | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max.1.4 GHz pemproses kawalan utama |
| OS perisian tegar | Sistem pengukuran yang dibangunkan secara bebas dibina pada kernel Linux 3.1 |
| Ketua pemerhatian | Tiub cerapan trinokular condong 30°, boleh putar 360°, jarak antara murid boleh laras |
| Kaedah pemerhatian | Medan terang / pencahayaan serong / pencahayaan-transmisi / polarisasi mudah |
| Sistem pencahayaan | Sistem pencahayaan dwi-laluan dipantulkan & dihantar, voltan lebar 100-240 V; boleh laras pusat filamen, keamatan cahaya boleh laras berterusan |
| Rangka kerja berdiri | Rak pantulan dan pantulan dwi guna; mekanisme fokus kasar-halus sepaksi; pelarasan kasar strok 33 mm, ketepatan pelarasan halus 0.002 mm dengan penguncian & hentian had; pencahayaan lampu halogen; Reflektor medan terang dengan hentian apertur berubah, hentian medan dan penukaran penapis warna; Dilengkapi dengan penapis biru untuk pemerhatian cahaya pantulan |
| Platform mudah alih | Tahap pergerakan mekanikal dua lapisan; saiz pentas: 140 × 132 mm; Lejang X-Y: 76 × 50 mm; pentas kaca untuk pemerhatian yang dihantar & dicerminkan |
| Sumber cahaya | Lampu halogen 6V-30W untuk cahaya pantulan; Lampu halogen 6V-30W untuk cahaya dipancarkan |
| Polarisasi mudah | Sisipan polarizer 30° (cahaya pantulan) + sisipan penganalisis boleh putar 360° untuk pemerhatian terpolarisasi |
| Antara muka elektronik | 0.5X antara muka C-mount, fokus boleh laras [Pilihan: 1X C-mount] |
| kanta mata | Kanta mata bidang besar bidang datar mata tinggi PL10X/18 mm (satu kanta mata dengan tanda skala) |
| Kanta objektif metalurgi | Objektif metalurgi akromatik achromatic jarak kerja-jarak rata: 5X / 0.13 WD15.5 mm; 10X / 0.25 WD8.7 mm; 20X / 0.40 WD8.8 mm; 50X / 0.60 WD5.1 mm |
| Pembesaran optik | 50 ×, 100 ×, 200 ×, 500 × empat peringkat boleh laras |
| Pembesaran elektronik | lebih kurang 200 ×, 400 ×, 800 ×, 2000 × empat peringkat boleh laras (boleh dikembangkan kepada 400-4000 ×) |
Mikroskop GAOPIN digunakan oleh perusahaan terkemuka, institut penyelidikan dan universiti. Kerjasama kami perhubungan termasuk:
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Pengesanan dimensi & kecacatan mikro untuk pemesinan ketepatan bahagian
Institut Penyelidikan Kejuruteraan Fizikal dan Kimia Industri Nuklear – Mikro-morfologi-pemerhatian & ketepatan-komponen-analisis bahan khas
DOOV – Pemeriksaan-pemasangan-peranti-mudah alih, skrin & ujian-penampilan komponen
Institut Optik dan Mekanik Halus Shanghai, CAS – Penyelidikan-optik lanjutan & pencirian-komponen optik
Universiti Tsinghua – Pengajaran, pengimejan makmal dan pengarkiban data eksperimen
Institut Teknologi Beijing – Analisis-penyelidikan saintifik untuk bahan gred tentera dan peranti optoelektronik
Objektif & kanta mata:Lap kanta perlahan-lahan dengan kertas kanta dan pembersih kanta. Jangan sekali-kali menyentuh optik kanta dengan tangan kosong atau gunakan tuala kertas biasa untuk pembersihan.
Badan & Pentas Utama:Kosongkan serpihan sampel dan serbuk metalurgi dengan segera. Lap perumahan dengan a kain lembut kering; elakkan percikan cecair. Periksa dengan kerap bahawa skru pentas ketat untuk mengelakkan peralihan yang disebabkan oleh perlanggaran.
Sumber Cahaya Dihantar & Dipantulkan:Matikan sumber cahaya apabila mikroskop melahu. tiup habuk dari tingkap lampu dan jangan sentuh mentol secara langsung.
Mekanisme Fokus Mekanikal:Jangan putar roda tangan fokus dengan daya yang berlebihan. Teruskan meluncur trek bersih; jangan sekali-kali melincirkan mereka sendiri.
Persekitaran Storan:Simpan di dalam ruang yang kering dan berventilasi baik untuk menahan kelembapan dan acuan. menutupi peranti dengan penutup habuk selepas digunakan.
A1: Ia menawarkan pembesaran visual 50-500 × dan pembesaran elektronik 200-2000 ×. Kanta mata dan monitor pemerhatian segerak tersedia untuk pemeriksaan rutin dan ketepatan.
A2: Ia menyokong output video HDMI dan sambungan port Gigabit-LAN. Ia boleh berfungsi secara bebas dengan monitor atau bersambung kepada a PC melalui LAN untuk penghantaran imej dan kawalan perisian.
A3: Ia menyokong penangkapan 4K, rakaman video dan pengukuran ketepatan tinggi. Perisian yang dipadankan menyedari depth-of-field menyusun dan mencantum imej. Ia menyokong pemacu kilat USB dan storan PC, eksport laporan dan pembangunan sekunder.
A4: Imej kabur disebabkan oleh sampel yang tidak sekata, pembesaran tinggi, kanta berdebu atau fokus yang tidak betul. Ratakan sampel, kurangkan pembesaran, bersihkan kanta dan laraskan fokus untuk pengimejan yang jelas.
A5: Tiada imej HDMI: Periksa bekalan kuasa, sambungan kabel dan sumber isyarat monitor, kemudian mulakan semula peranti. sambungan LAN- kegagalan: Pastikan PC dan peranti dalam segmen rangkaian yang sama, matikan tembok api dan sahkan tetapan IP.
A6: Ideal untuk analisis metalografik, cip, ketepatan-elektronik, serbuk-metalurgi dan ujian gentian. Sesuai untuk pemeriksaan kualiti industri, penyelidikan saintifik dan pengajaran.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., ditubuhkan pada 2011 yang pengasasnya telah mengumpul kepakaran industri sejak 2005, adalah sebuah perusahaan tertumpu teknologi yang mengkhusus dalam reka bentuk, R&D, jualan dan perkhidmatan selepas jualan industri mikroskop. Pasukan kejuruteraan teras kami membawa lebih sepuluh tahun pengalaman khusus, memastikan teknologi matang dan kualiti yang boleh dipercayai. Dengan lebih daripada seratus model produk optik dan pangkalan pelanggan global, GAOPIN secara berterusan memberikan penyelesaian mikroskopi yang dibuat khusus dan kos efektif. Kami menyediakan sokongan teknikal global tindak balas pantas melalui persidangan dalam talian, bimbingan berbantukan video dan sesi latihan jarak jauh. Pangkalan pembuatan kami terletak di Kunshan, Wilayah Jiangsu (berdekatan dengan Shanghai). Kedua-dua pemeriksaan kilang di tapak dan lawatan loji maya tersedia untuk pelanggan. Jangan ragu untuk menghubungi kami untuk mendapatkan contoh imej ujian yang ditangkap oleh pembesaran tinggi GP-L200-324K 4K ini mikroskop metalografik dengan 4K Ultra HD untuk menilai prestasi pengimejan secara langsung.
Alamat
Bangunan 2, Pusat Perniagaan Antarabangsa Shuanglian, Bandar Huaqiao, Bandar Kunshan, China
Tel
E-mel
