GP-L200-300C ialah mikroskop metalografi pembesaran tinggi. Mikroskop Metalurgi Pembesaran Tinggi membolehkan pemerhatian serentak dengan binokular kanta mata dan paparan luaran. Mod medan terang dan medan gelap terbina dalam dengan menegak sepaksi seragam pencahayaan, ia dengan setia menghasilkan semula struktur mikro seperti butiran logam, salutan dan retak. Ia menyokong tangkapan imej, foto pengarkiban dan ukuran & analisis dimensi. Menampilkan binaan pepejal, operasi mudah dan modular boleh dikembangkan reka bentuk, ia sesuai untuk pemeriksaan kualiti industri, analisis metalurgi bahan, analisis kegagalan, pengajaran dan penyelidikan saintifik.
Kamera definisi tinggi disepadukan dengan bingkai metalurgi trinokular, membolehkan tontonan kanta mata serentak dan pemerhatian skrin digital melalui output HDMI untuk tangkapan imej mikro masa nyata.
50-500 × pembesaran optik, maks 2000 × pembesaran digital. Dilengkapi dengan objektif metalurgi profesional kanta untuk pengimejan yang telus dan halus untuk memerhati struktur mikro-logam.
Mekanisme pemfokusan kasar dan halus sepaksi memberikan pemfokusan yang licin, stabil dan mengurangkan getaran imej dengan berkesan.
Tapak aluminium tuang sekeping menawarkan galas beban pepejal, memastikan mikroskop stabil dan bebas daripada pergeseran semasa pemeriksaan kepingan metalurgi yang lama.
Badan gaya makmal putih-biru klasik dengan susun atur metalurgi trinokular standard, bersih dan profesional untuk makmal dan bengkel kualiti.
Ideal untuk analisis logam-logam, pemeriksaan kepingan wafer, ujian bahan, penyelidikan universiti dan kerja analisis komponen-kegagalan.
Fungsi pengukuran ketepatan terbina dalam, menyokong tangkapan foto/video 1080P dan storan pemacu kilat USB. Digital imej mudah untuk diarkibkan, dibandingkan dan dianalisis dalam pasca pemprosesan.
Tontonan binokular & pemerhatian elektronik segerak:Penyegerakan masa nyata antara kanta mata dan paparan monitor. Mikroskop metalurgi biasa kebanyakannya menyokong pemerhatian kanta mata sahaja; kamera tambahan aksesori diperlukan untuk output skrin.
Julat pembesaran yang luas:Sehingga 500 × pembesaran optik dan 2000 × pembesaran elektronik untuk pemerhatian struktur mikro. Model konvensional mempunyai keupayaan zum elektronik yang terhad.
Output langsung HDMI:Sambung terus ke monitor melalui HDMI. Mikroskop metalurgi am perlu kamera tambahan dan kad tangkapan untuk output video.
Pengukuran luar talian terbina dalam:Pengukuran dimensi terus pada monitor. Metalurgi biasa mikroskop hanya menyokong pengukuran berasaskan PC tanpa fungsi pengukur tertanam perkakasan.
Storan pemacu kilat USB luar talian:Tangkap foto dan video ke pemacu kilat USB tanpa komputer. Model tradisional memerlukan PC untuk menyimpan imej.
Laluan optik metalurgi khusus:Dioptimumkan untuk analisis logam, salutan dan struktur butiran. Mikroskop digital biasa kekurangan sistem optik metalurgi dan tidak dapat memerhatikan struktur mikro metalurgi.
Mengguna pakai kamera industri 1920 × 1080 HD Penuh asli, mikroskop ditentukur sepenuhnya dengan standard spesimen ujian metalurgi. Ia jelas menangkap sempadan bijian, penembusan salutan, retakan mikro dan bahan struktur metalografik, memberikan butiran tajam yang konsisten merentasi keseluruhan bidang pandangan.
Dilengkapi dengan pelbagai objektif metalurgi akromatik untuk mikroskop pembesaran tinggi ketepatan tinggi pengesanan. Reka bentuk trinokular profesional membolehkan pemerhatian dwi segerak melalui kanta mata dan monitor luaran, dengan sempurna sesuai untuk analisis bahan logam, pemeriksaan ketebalan salutan, penarafan butiran dan pelbagai profesional senario ujian metalurgi.
Sistem pengukuran profesional terbina dalam menindih data dimensi masa nyata pada skrin paparan. Ia menyampaikan pengukuran tepat penunjuk metalurgi teras termasuk ketebalan salutan, panjang butiran, lebar retak dan jarak delaminasi, dan menyokong anotasi masa nyata, pengarkiban imej dan eksport data ujian.
Dibina dengan pencahayaan dwi-laluan yang dipancarkan dan dipantulkan, serasi dengan spesimen logam legap dan bertatah telus spesimen. Peringkat Mikroskop Metalurgi Pembesaran Tinggi ketepatan mempunyai pergerakan paksi XY yang lancar untuk kedudukan kawasan yang pantas dan tepat. The badan tugas berat logam penuh menjamin operasi yang stabil dan bebas kegelisahan semasa bahan industri yang tahan lama pengesanan.
Komponen Semikonduktor & Elektronik:Cip IC, wafer silikon, kepingan fotolitografi, PCB papan, papan fleksibel FPC, sambungan pateri, pin. Sasaran pemeriksaan: Perhatikan litar cip dalaman, wafer salutan, kecacatan pateri sejuk, pengoksidaan, calar litar dan ubah bentuk pin; menganalisis struktur kepingan mikro di bawah pembesaran maksimum 2000 ×.
Bahan Logam & Spesimen Metalografik:kepingan metalografik, mata gerudi, pemotong penggilingan, perkakasan logam bercop. Sasaran pemeriksaan: Analisis struktur butiran-logamografi, bahan rawatan haba pengenalan; mengesan cipratan tepi, retak mikro, burr dan kedalaman lelasan.
Bahagian Optoelektronik LED & Beracuan Plastik:Cip LED, bahagian plastik optik, suntikan & potong mati produk. Sasaran pemeriksaan: Periksa takuk kecil, kesan permukaan, tepi kasar, zarah mikro-asing, gam-delaminasi dan pengedap mikro-kecacatan.
Komponen Miniatur Ketepatan Tinggi:Penyambung, terminal, pegas mikro, bahan kerja bercop kecil. Sasaran pemeriksaan: Perhatikan celah kecil dan kerataan kelim; melakukan pengukuran tepat tahap piksel panjang, diameter lubang dan pic.
Arkib QC Makmal & Perindustrian:Analisis metalografik-hirisan-eksperimen, pemeriksaan pensampelan-&-barang-siap masuk; pengarkiban foto-&-video untuk rekod bukti-cacat dan eksport laporan QC ukuran formal.
Pembesaran optik maksimum 500 × dan pembesaran digital 2000 ×. Sesuai untuk analisis mikro bagi logam-logam-struktur, wafer, salutan dan serbuk-bahan untuk bahan-makmal dan semikonduktor-incoming-inspection.
Laluan optik segerak trinokular: amati sampel dengan kanta mata binokular sambil mengeluarkan imej untuk dipantau melalui HDMI. Menyokong tontonan serentak berbilang orang untuk latihan, perbincangan dan semakan semula kecacatan.
Fungsi pengukuran ketepatan terbina dalam dengan paparan HDMI terus. Tangkap foto dan video HD Penuh yang disimpan secara langsung kepada pemacu kilat USB. Pengukuran lengkap dan pengarkiban imej di tapak dengan susun atur stesen kerja yang mudah.
Peringkat metalurgi standard dengan pelbagai kanta objektif, serasi dengan sampel logam, salutan PCB, cip semikonduktor dan kepingan mikro. Digunakan secara meluas dalam makmal bahan, ujian salutan perkakasan, penyelidikan universiti dan QC cip elektronik.
Pemfokusan manual kasar-dan-halus ketepatan mengelakkan peralihan imej. Badan stabil pepejal untuk ujian makmal lama. Tontonan HD Penuh bersepadu, rakaman foto dan video untuk analisis mikro rutin dan pemeriksaan semula sampel jisim.
Penghantaran pembungkusan neutral disediakan atas permintaan.
| Entiti | Penerangan |
| produk | GP-L200-300C Mikroskop metalografi pembesaran tinggi |
| kategori | Mikroskop Pemeriksaan Metalografi Trinokular Industri, Pengukuran Digital Pembesaran Tinggi Mikroskop |
| Teknologi Teras | Sistem optik tontonan segerak trinokular, kumpulan kanta objektif metalurgi, pengimejan CMOS HD Penuh, enjin ukuran digital terbina dalam, output imej masa nyata HDMI, storan tempatan pemacu kilat USB teknologi |
| Spesifikasi Utama | Pembesaran visual: 50/100/200/500 ×; Pembesaran elektronik: 200/400/800/2000 ×; Port keluaran: HDMI; Resolusi tangkapan: 1920 × 1080; Pemfokusan manual, ukuran tepat terbina dalam *(0.001 mm, Lebih kecil toleransi pengukuran boleh dicapai di bawah pembesaran yang lebih tinggi. Keputusan tertakluk kepada penentukuran, keadaan pembesaran dan sampel)*; Storan pemacu kilat USB; Menyokong pratonton imej masa nyata, tangkapan foto dan rakaman video pada monitor; **Tiada sokongan PC / port rangkaian; USB-flash-drive sahaja menyokong Format FAT32, kapasiti maksimum 32 GB** |
| Aplikasi Biasa | Analisis struktur logam-bahan-logam, pemerhatian aloi-butir, ketebalan salutan logam pengesanan, pemeriksaan semikonduktor-wafer, pemerhatian keratan rentas PCB, penyelidikan makmal-bahan baharu, perkakasan-bahan-kualiti-kawalan |
| Pengeluar | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Lokasi Pengeluar | Kunshan, Jiangsu, China (berhampiran Shanghai) |
| Jenama produk | GAOPIN |
| Model Produk | GP-L200-300C |
| Resolusi | 1920 × 1080 (HD Penuh) |
| Piksel Berkesan | 2-megapiksel |
| Kaedah memfokuskan | Fokus manual (pelarasan kasar dan halus sepaksi) |
| Format optik sensor | 1/2" |
| Saiz piksel | 3.75 μm × 3.75 μm |
| Antara muka keluaran | HDMI |
| Pengenalan fungsi terperinci yang sepadan dengan setiap antara muka keluaran | ① HDMI boleh menyambung ke paparan 4K, program pemprosesan imej profesional terbenam, menyepadukan fungsi seperti autofokus, rakaman foto, ukuran saiz, main balik imej, perbandingan imej, dsb., dengan operasi tetikus masa nyata. |
| Kadar bingkai | HDMI: 60 fps @1920 × 1080 |
| Operasi pengukuran | Sistem pengukuran pada monitor terbina dalam |
| Ketepatan pengukuran | 0.001 mm |
| Unit ukuran | mm / μm / mil / inci (boleh tukar 4 arah) |
| Alat ukuran | Panjang, sudut, jejari, bulatan, poligon, poligaris, jarak pusat ke tengah, segi empat tepat, anotasi, pengesanan tepi automatik, bar skala |
| Kaedah penyimpanan | pemacu kilat USB |
| Mod penamaan imej | Penamaan fail imej automatik atau manual |
| Bahasa paparan | Bahasa Cina Ringkas / Inggeris (boleh ditukar) |
| Pemproses | ARM Cortex-A7 Dual-Core @ Max.1.3 GHz |
| OS perisian tegar | Sistem pengukuran yang dibangunkan secara bebas dibina pada kernel Linux 3.1 |
| Ketua pemerhatian | Tiub cerapan trinokular condong 30°, boleh putar 360°, jarak antara murid boleh laras |
| Kaedah pemerhatian | Medan terang / pencahayaan serong / pencahayaan-transmisi / polarisasi mudah |
| Sistem pencahayaan | Sistem pencahayaan dwi-laluan dipantulkan & dihantar, voltan lebar 100-240 V; boleh laras pusat filamen, keamatan cahaya boleh laras berterusan |
| Rangka kerja berdiri | Rak pantulan dan pantulan dwi guna; mekanisme fokus kasar-halus sepaksi; pelarasan kasar strok 33 mm, ketepatan pelarasan halus 0.002 mm dengan penguncian & hentian had; pencahayaan lampu halogen; Reflektor medan terang dengan hentian apertur berubah, hentian medan dan penukaran penapis warna; Dilengkapi dengan penapis biru untuk pemerhatian cahaya pantulan |
| Platform mudah alih | Tahap pergerakan mekanikal dua lapisan; saiz pentas: 140 × 132 mm; Lejang X-Y: 76 × 50 mm; pentas kaca untuk pemerhatian yang dihantar & dicerminkan |
| Sumber cahaya | Lampu halogen 6V-30W untuk cahaya pantulan; Lampu halogen 6V-30W untuk cahaya dipancarkan |
| Polarisasi mudah | Sisipan polarizer 30° (cahaya pantulan) + sisipan penganalisis boleh putar 360° untuk pemerhatian terpolarisasi |
| Antara muka elektronik | 0.5X antara muka C-mount, fokus boleh laras [Pilihan: 1X C-mount] |
| kanta mata | Kanta mata bidang besar bidang datar mata tinggi PL10X/18 mm (satu kanta mata dengan tanda skala) |
| Kanta objektif metalurgi | ★ Kanta objektif metalografik achromatic medan rata jarak kerja yang panjang ① 5XLMPL5X/0.13WD15.5mm 1 sekeping; ② 10XLMPL10X/0.25 WD8.7mm 1 keping ③ 20XLMPL20X/0.40 WD8.8mm 1 keping; ④ 50XLMPL50X/0.60 WD5.1mm 1 keping |
| Pembesaran optik | 50 ×, 100 ×, 200 ×, 500 × empat peringkat boleh laras |
| Pembesaran elektronik | lebih kurang 200 ×, 400 ×, 800 ×, 2000 × empat peringkat boleh laras (boleh dikembangkan kepada 400-4000 ×) |
Penafian:Logo dan nama perusahaan, universiti dan institusi penyelidikan dipaparkan pada laman web ini sahaja menunjukkan bahawa entiti tersebut telah membeli atau menggunakan mikroskop jenama GAOPIN. Penampilan mereka tidak boleh ditafsirkan sebagai pembelian model produk yang tepat ini, dan tidak akan membayangkan sebarang sokongan komersial, penjenamaan bersama, gabungan atau perkongsian projek bersama dengan organisasi pihak ketiga ini.
Mikroskop GAOPIN digunakan oleh perusahaan terkemuka, institut penyelidikan dan universiti. Kerjasama kami perhubungan termasuk:
Institut Teknikal Fizik dan Kimia, CAS – Penyelidikan mikroskopik pada suhu rendah & fungsi khas bahan
ZTE Optoelektronik Technology Co., Ltd. – Ujian & analisis kegagalan komponen optoelektronik
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Pengesanan dimensi & kecacatan mikro untuk pemesinan ketepatan bahagian
CATL – Pemeriksaan kecacatan mikro untuk elektrod & sel bateri litium
Institut Optik dan Mekanik Halus Shanghai, CAS – Penyelidikan-optik lanjutan & pencirian-komponen optik
ZHENGKUNHANG Industrial MRO Supermarket (Shanghai) Co., Ltd. – Penampilan & pengesahan kualiti mikro industri bahagian standard
Objektif & kanta mata:Lap kanta perlahan-lahan dengan kertas kanta dan pembersih kanta. Jangan sekali-kali menyentuh optik kanta dengan tangan kosong atau gunakan tuala kertas biasa untuk pembersihan.
Badan & Pentas Utama:Kosongkan serpihan sampel dan serbuk metalurgi dengan segera. Lap perumahan dengan a kain lembut kering; elakkan percikan cecair. Periksa dengan kerap bahawa skru pentas ketat untuk mengelakkan peralihan yang disebabkan oleh perlanggaran.
Sumber Cahaya Dihantar & Dipantulkan:Matikan sumber cahaya apabila mikroskop melahu. tiup habuk dari tingkap lampu dan jangan sentuh mentol secara langsung.
Mekanisme Fokus Mekanikal:Jangan putar roda tangan fokus dengan daya yang berlebihan. Teruskan meluncur trek bersih; jangan sekali-kali melincirkan mereka sendiri.
Persekitaran Storan:Simpan di dalam ruang yang kering dan berventilasi baik untuk menahan kelembapan dan acuan. menutupi peranti dengan penutup habuk selepas digunakan.
A1: Ia hanya menyokong output definisi tinggi HDMI. Ia berfungsi secara bebas dengan monitor tanpa sambungan komputer, menampilkan operasi mudah untuk pelbagai senario pengesanan ketepatan.
A2: Ia menyokong rakaman foto dan video HD Penuh. Fail boleh disimpan melalui pemacu kilat USB berformat FAT32 maks 32 GB. Pengukuran tepat pada skrin terbina dalam menyokong penandaan dimensi, pengarkiban data dan eksport laporan.
A3: Periksa bekalan kuasa dan penyesuai, pasangkan kabel HDMI dan tukar ke saluran isyarat yang betul. Mulakan semula peranti kepada menyelesaikan masalah skrin hitam, tiada imej dan skrin berkelip.
A4: Ia menggunakan reka bentuk fokus manual yang tepat. Laraskan roda tangan fokus perlahan-lahan untuk mendapatkan pengimejan yang jelas. Letakkan sampel rata dan kerap membersihkan habuk lensa, cap jari dan kotoran untuk memastikan imej tajam dan telus.
A5: Peranti ini tidak menyokong sambungan komputer atau fungsi port rangkaian. Dengan operasi bebas terbina dalam sistem, ia boleh melengkapkan penangkapan, rakaman, pengukuran dan penyimpanan secara langsung melalui sambungan monitor.
A6: Hanya pemacu kilat USB berformat FAT32 dalam 32 GB disokong; Format NTFS dan exFAT tidak serasi. Pasang semula atau formatkan pemacu kilat USB, atau gantikan dengan pemacu kilat USB yang mematuhi untuk storan fail biasa.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., ditubuhkan pada 2011 yang pengasasnya telah mengumpul kepakaran industri sejak 2005, adalah sebuah perusahaan tertumpu teknologi yang mengkhusus dalam reka bentuk, R&D, jualan dan perkhidmatan selepas jualan industri mikroskop. Pasukan kejuruteraan teras kami membawa lebih sepuluh tahun pengalaman khusus, memastikan teknologi matang dan kualiti yang boleh dipercayai. Dengan lebih daripada seratus model produk optik dan pangkalan pelanggan global, GAOPIN secara berterusan memberikan penyelesaian mikroskopi yang dibuat khusus dan kos efektif. Kami menyediakan sokongan teknikal global tindak balas pantas melalui persidangan dalam talian, bimbingan berbantukan video dan sesi latihan jarak jauh. Pangkalan pembuatan kami terletak di Kunshan, Wilayah Jiangsu (berdekatan dengan Shanghai). Kedua-dua pemeriksaan kilang di tapak dan lawatan loji maya tersedia untuk pelanggan. Jangan ragu untuk menghubungi kami untuk mendapatkan contoh imej ujian yang ditangkap oleh pembesaran tinggi GP-L200-300C ini metalografik mikroskop untuk menilai prestasi pengimejan secara langsung.
Alamat
Bangunan 2, Pusat Perniagaan Antarabangsa Shuanglian, Bandar Huaqiao, Bandar Kunshan, China
Tel
E-mel
