Mikroskop metalografi gred penyelidikan dengan Mikroskop Metalurgi 4K Ultra HD & Autofokus Peringkat Besar. Mikroskop Metalurgi Gred Penyelidikan Autofokus 4K menerima pakai Pelarasan pembesaran 5 langkah, dengan pembesaran antara 380× hingga 6080×. Peringkat bergerak yang lebih besar boleh tahan sampel bersaiz besar. Imej ultra-jelas 4K memberikan butiran struktur mikro yang tajam dan halus. Pelabuhan trinokular boleh jadilah disambungkan kepada kamera dan perisian analisis metalografi, sangat sesuai untuk pemerhatian logam besar, semikonduktor pemeriksaan, analisis kepingan PCB, penyelidikan saintifik dan kawalan kualiti.
Alat ini sesuai untuk pemerhatian mikroskopik struktur mikro metalografi dan morfologi permukaan. Ia berfungsi sebagai alat penyelidikan yang ideal untuk metalurgi, mineralogi dan disiplin kejuruteraan ketepatan.
Kamera 4K terbina dalam perumahan trinokular untuk tontonan serentak melalui kanta mata dan monitor luaran. Berbilang port keluaran melalui HDMI, USB3.0 dan WIFI menghantar imej mikro ultra-HD dalam masa nyata.
Pembesaran optik 50-800×; pembesaran digital tulen maksimum mencapai 6080X dengan set kanta lima objektif. Ketepatan laluan optik menyampaikan butiran tajam untuk pemeriksaan mikro cip dan wafer.
Modul autofokus perkakasan terbina dalam membolehkan pemfokusan lancar, bebas getaran dan meningkatkan kecekapan untuk sampel jisim ujian; mod fokus manual juga tersedia.
Tahap spesimen bergerak yang lebih besar dipasangkan dengan tapak logam bersepadu tebal. Kekal stabil untuk sampel bersaiz besar tanpa goyah semasa pemerhatian lama.
Bingkai logam tegar gaya makmal bersepadu minimalis, sangat sesuai untuk bengkel semikonduktor, universiti makmal dan kemudahan QC.
Ideal untuk pemeriksaan cip-dan-wafer; juga digunakan secara meluas untuk ujian semikonduktor, analisis metalografi, kerja penyelidikan bahan dan penilaian kualiti.
Menyokong rakaman foto & video 4K, mod dwi-ukuran (terbina dalam skrin + perisian PC). Dwi-storan melalui U-cakera & komputer. Sintesis depth-of-field berfungsi pada kedua-dua monitor dan perisian PC; fungsi jahitan imej hanya tersedia dalam perisian PC. Pembangunan sekunder disokong untuk pengarkiban imej, perbandingan dan analisis lanjutan.
Peringkat Spesimen:GP-L500-462H menggunakan peringkat bergerak bersaiz besar untuk cip/wafer format besar dengan jarak perjalanan yang luas. Mikroskop metalurgi biasa dilengkapi dengan peringkat bersaiz kecil hanya untuk sampel kecil dan memerlukan kedudukan semula spesimen yang kerap.
Julat Pembesaran:380-6080X pembesaran tinggi lima kelajuan, memberikan butiran yang tajam untuk yang kecil pemeriksaan litar cip. Mikroskop metalurgi biasa mempunyai gear pembesaran yang lebih sedikit dan maksimum yang lebih rendah pembesaran, menghasilkan imej kabur di bawah kuasa tinggi.
Pengimejan & Pengukuran:Kamera gred penyelidikan 4K asli, pengukuran pada monitor terbina dalam, fungsi storan foto-video. Mikroskop metalurgi biasa menggunakan kamera 2K definisi rendah tanpa onboard pengukuran, perisian PC adalah wajib untuk kerja analisis.
Skop Permohonan:Dioptimumkan untuk wafer, semikonduktor dan bahagian elektronik berketepatan besar pemeriksaan. Mikroskop metalurgi biasa hanya sesuai untuk kepingan logam kecil dan berprestasi buruk untuk besar spesimen cip.
Mekanik:Pembinaan logam penuh untuk ketegaran tinggi dan rintangan getaran. Fokus auto perkakasan modul dilengkapi. Pemfokusan kasar-halus ketepatan tanpa tindak balas. Peringkat XY manual saiz besar dengan haus rendah dan pelepasan minimum. Laluan optik trinokular mengekalkan penjajaran bersama optik apabila menukar objektif.
Optik:Objektif metalurgikromatik pelan yang diperbetulkan infiniti dengan salutan keras anti-kabut. Pencahayaan lampu halogen 6V-30W cahaya pantulan.
Pengimejan dan Pengukuran:Kamera CMOS gred industri 8.3-megapiksel 4K. Antara muka berbilang output: HDMI + USB3.0 + WIFI, menampilkan prestasi anti-gangguan yang sangat baik untuk aplikasi persekitaran industri. Menyokong kedua-dua ukuran pada skrin terbenam dan pengukuran berasaskan perisian PC. Storan dua laluan: pemacu kilat USB dan perisian PC. Fungsi susun kedalaman medan tersedia pada skrin dan melalui perisian PC; jahitan imej fungsi disokong oleh perisian PC sahaja. Antara muka pembangunan sekunder boleh diakses melalui USB3.0 / WIFI.
Persekitaran Operasi:Suhu kerja 10-35 ℃, kelembapan relatif 30-75% RH. Stabil di bawah biasa kilang elektromagnet-persekitaran. Elakkan getaran berat, gas menghakis dan habuk berat. Jauhkan modul WIFI daripada sumber gangguan isyarat yang kuat.
Kualiti & Penyelenggaraan:Pemeriksaan kilang item penuh. Jangan buka modul optik atau modul autofokus. Pembersihan kalis habuk yang kerap akan memanjangkan hayat perkhidmatan.
Wafer & Cip Semikonduktor (Aplikasi Teras):
Wafer silikon, kepingan litografi, cip IC, tiub MOS, PCB, litar fleksibel FPC, sambungan pateri berbungkus.
Sasaran pemeriksaan: litar cip mikro dalaman, salutan wafer, kecacatan etsa, buih pembungkusan, pematerian sejuk
sendi, pengoksidaan dan ubah bentuk pin.
Spesimen Metalografik & Komponen Pemotongan Logam:
Bahagian metalografik, keluli aloi, bahagian logam bercap ketepatan.
Sasaran pemeriksaan: struktur butiran logam, analisis metalografi rawatan haba, rekahan permukaan mikro,
serpihan canggih, burr, kesan haus dan kekotoran bahan dalaman.
Sampel Makmal: Serbuk, Serat & Filem Nipis:
Serbuk logam, serbuk kimia, gentian karbon, gentian tekstil, filem salutan optik.
Perhatikan morfologi zarah, tekstur gentian, delaminasi filem dan struktur salutan mikro.
Komponen Plastik Optoelektronik & Ketepatan:
Cip LED, kanta optik, bahagian acuan suntikan, gam pembungkus semikonduktor.
Mengesan liang mikro, kotoran permukaan, tepi kasar, penyimpangan, buih dan kecacatan kosmetik kecil.
Komponen Miniatur Ketepatan Bersaiz Besar:
Penyambung, terminal, pegas mikro, bahan kerja bercop besar, bahagian berdimensi panjang.
Pentas bergerak yang lebih besar menampung sampel bersaiz besar; Pengukuran tepat tahap 4K piksel untuk celah, lubang
diameter, perbezaan ketinggian dan dimensi linear.
Makmal Akademik & Kilang Semikonduktor QC:
Eksperimen penyelidikan bahan, barang masuk dan barang siap pemeriksaan penuh untuk semikonduktor,
pemerhatian metalografik-spesimen; pengarkiban foto/video, sambungkan ke PC untuk mengeksport QC pengukuran profesional
laporan.
Unit ini menampilkan pengimejan asli 3840*2160 4K. Ia sesuai untuk pemeriksaan tepat semikonduktor, PCB dan kepingan bahan serta eksport laporan ujian, dengan jelas mendedahkan tekstur kecil dan kecacatan mikro.
Autofokus perkakasan dilengkapi. Sesuai dengan pemeriksaan pengeluaran besar-besaran dan penggantian sampel yang kerap. Mencapai dengan cepat memfokuskan selepas pergerakan sampel tanpa pelarasan manual berulang.
Peringkat bergerak besar dan laluan optik metalurgi trinokular menegak direka untuk wafer bersaiz besar, bersaiz penuh PCB dan sampel logam, dengan berkesan menahan silau reflektif.
Julat dua pembesaran: Pembesaran optik 50-800X, pembesaran digital 380-6080X. Meliputi kedua-duanya keseluruhan-spesimen pemerhatian dan micro-grain / micro-defect inspection.
Menyokong pengukuran pada peranti terbina dalam dan pengukuran perisian PC. Dilengkapi dengan output HDMI, USB3.0 dan WIFI pelabuhan. Foto, video dan data ukuran boleh disimpan melalui cakera U atau komputer. Pembangunan menengah disokong untuk integrasi barisan pengeluaran dan kebolehkesanan data makmal.
Penghantaran pembungkusan neutral disediakan atas permintaan.
| item | Penerangan |
| produk | GP-L500-462H Mikroskop metalografi gred penyelidikan dengan 4K Ultra HD & Autofokus |
| kategori | Peperiksaan & Pengukuran Metalurgi Gred Penyelidikan Industri Platform Besar 4K Autofokus Mikroskop |
| Teknologi Teras | Sistem optik pandangan segerak trinokular, peringkat spesimen bergerak kawasan besar, berkuasa tinggi metalurgi set kanta objektif, penderia pengimejan ultra-HD CMOS 4K, modul autofokus perkakasan, tiga saluran penghantaran (HDMI+USB3.0+WIFI), sistem dwi-ukuran, sintesis kedalaman medan & algoritma jahitan imej, seni bina terbuka yang menyokong pembangunan menengah |
| Spesifikasi Utama | Pembesaran visual: 50/100/200/500/800×; Pembesaran elektronik: 380/760/1520/3800/6080× (6080X ialah tulen zum digital); Port tiga keluaran: HDMI + USB3.0 + WIFI; Resolusi tangkapan 4K: 3840×2160; Perkakasan auto-fokus dilengkapi; Mod dwi-ukuran: ukuran tepat terbina dalam + perisian PC khusus pengukuran; Mod storan dwi: Storan tempatan cakera U + storan perisian PC; Terminal monitor menyokong dimensi pengukuran, pratonton imej HD, rakaman foto-video, sintesis kedalaman medan; Sokongan terminal PC ukuran dimensi, storan fail, sintesis kedalaman medan dan jahitan imej; Sokongan keseluruhan unit integrasi pembangunan menengah. |
| Aplikasi Biasa | Pemeriksaan struktur mikro-wafer-dan-cip-separakonduktor, pemerhatian komponen elektronik bersaiz besar, logam analisis struktur bijirin metalografik, pengesanan litar pembungkusan, pemeriksaan keratan rentas PCB, analisis ketepatan-komponen-elektronik-kegagalan, ujian kualiti-bahan-tenaga baru, penyelidikan makmal-bahan lanjutan universiti |
| Pengeluar | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Lokasi Pengeluar | Kunshan, Jiangsu, China (bersebelahan dengan Shanghai) |
| Model | GP-L500-462H |
| Resolusi | 3840×2160 |
| Piksel Berkesan Sebenar | 8.3 Megapiksel |
| Kaedah Pemfokusan | autofokus |
| Format Optik | 1/1.8" |
| Saiz Piksel | 2.0 μm × 2.0 μm |
| Kaedah Keluaran | HDMI + USB3.0 + WIFI |
| Pengenalan fungsi terperinci yang sepadan dengan setiap antara muka keluaran | ① HDMI bersambung ke paparan serasi 4K. Sokongan perisian tegar pemprosesan imej profesional terbenam
autofokus dipacu perkakasan, rakaman foto, rakaman video, ukuran dimensi, main semula imej
dan
perbandingan imej, dikendalikan oleh tetikus dalam masa nyata. ② USB 3.0 bersambung ke komputer, digabungkan dengan perisian pemprosesan imej profesional berkualiti tinggi untuk menangkap foto, ukuran dimensi, gabungan kedalaman medan dan jahitan imej. ③ Modul WIFI menyambung ke komputer riba atau peranti mudah alih; masa nyata penghantaran imej, fotografi dan penyimpanan melalui perisian yang sepadan. |
| Kadar Bingkai | HDMI: 60fps @3840×2160 USB3.0: 30fps @3840×2160; 60fps @1920×1080 WIFI: 30fps @3840×2160; 60fps @1920×1080 |
| Sintesis Depth-of-Field | Disokong oleh kedua-dua perisian tegar pada monitor HDMI dan perisian PC |
| Jahitan Imej | Disokong hanya pada bahagian perisian PC |
| Kaedah Pengukuran | Sistem pengukuran pada monitor terbina dalam + pengukuran perisian PC |
| Ketepatan Pengukuran | 0.002-0.005 mm |
| Unit Pengukuran | mm / μm / mil / inci (4 unit boleh tukar) |
| Alat Pengukuran | Panjang, sudut, radian, bulatan, poligon, garis poli, jarak pusat ke tengah, segi empat tepat, anotasi menambah, pengesanan tepi automatik, bar skala dan banyak lagi |
| Kaedah Penyimpanan | Storan cakera U + storan perisian PC |
| Bahasa Paparan | Bahasa Cina Ringkas / Inggeris (boleh ditukar) |
| Pemproses | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max 1.4 GHz pemproses kawalan utama |
| Sistem Operasi | Perisian tegar ukuran yang dibangunkan secara bebas berdasarkan kernel Linux 3.1 |
| Penamaan Imej | Penamaan automatik atau manual tersedia |
| Ketua Melihat | Kepala trinokular jenis engsel condong 30°; julat pelarasan antara murid: 53 mm-75 mm |
| Mod Pemerhatian | Pencahayaan medan terang / serong / polarisasi mudah |
| Sistem Pencahayaan | Sistem pencahayaan jatuh cahaya terpantul sahaja, input voltan lebar 100-240V, filamen boleh laras pusat, keamatan cahaya boleh laras secara berterusan. |
| Berdiri | ① Rak jenis menembak, mekanisme pemfokusan kasar-halus sepaksi kedudukan rendah, dengan penguncian dan
mengehadkan
peranti; nilai pengijazahan pergerakan halus: 0.7 μm. Pencahayaan cahaya pantulan lampu halogen. ② Medan terang reflektor dengan hentian apertur berubah, hentian medan dan unit pensuisan penapis warna. ③ Kuning, biru, hijau penapis dan kepingan kaca beku dibekalkan untuk laluan optik cahaya pantulan. |
| Peringkat Mekanikal | ★Peringkat bergerak mekanikal. Dimensi pentas: 280 mm × 270 mm; Perjalanan X-Y: 204 mm × 204 mm (perjalanan 8 inci). kaca plat pembawa spesimen untuk pemerhatian cahaya pantulan sahaja, sesuai untuk bahan kerja berdimensi besar. |
| Sumber Cahaya | 6V 30W kebuk lampu halogen (cahaya yang dipantulkan sahaja) |
| Polarisasi mudah | Polarizer tarik-tolak dan polarizer |
| Antara Muka Elektronik | Antara muka kamera fokus tetap CTV 1X; CTV 0.5X adalah pilihan dengan pampasan perbezaan harga. |
| Cermin mata | Dua kanta mata bidang pelan sudut lebar WF10X/22 mm dengan pelarasan diopter individu |
| batang hidung | ★Kancing hidung objektif lima lubang Mingchang |
| Objektif Metalurgi | ★Pelan yang diperbetulkan infiniti-objektif metalurgikromatik ① PL L5X/0.12, Jarak Kerja: 26.1 mm ×1pc ② PL L10X/0.25, Jarak Kerja: 20.2 mm ×1pc ③ PL L20X/0.40, Jarak Kerja: 8.80 mm ×1pc ④ PL L50X/0.70, Jarak Kerja: 3.68 mm ×1pc ⑤ PL L80X/0.80, Jarak Kerja: 1.25 mm ×1pc |
| Pembesaran Optik | 50X, 100X, 200X, 500X, 800X (boleh tukar lima peringkat) |
| Pembesaran Elektronik | lebih kurang 380X, 760X, 1520X, 3800X, 6080X (boleh tukar lima peringkat); julat pilihan: 190-3040X. |
Mikroskop GAOPIN digunakan oleh perusahaan terkemuka, institut penyelidikan dan universiti. Kerjasama kami perhubungan termasuk:
Institut Seramik Shanghai, CAS – Analisis mikro seramik bukan organik & bahan tenaga baharu
Institut Penyelidikan Kejuruteraan Fizikal dan Kimia Industri Nuklear – pemerhatian mikro-morfologi & analisis komponen ketepatan untuk bahan khas
Institut Optik dan Mekanik Halus Shanghai, CAS – Penyelidikan optik lanjutan & komponen optik perwatakan
Universiti Tsinghua – Pengajaran, pengimejan makmal dan pengarkiban data eksperimen
Institut Teknologi Beijing – Analisis-penyelidikan saintifik untuk bahan ketenteraan & peranti optoelektronik
DOOV – Pemeriksaan-pemasangan-peranti-mudah alih, skrin & ujian-penampilan komponen
A1: Dilengkapi dengan antara muka HDMI, USB3.0 dan WIFI. Ia menyokong paparan monitor terus dan PC berwayar / wayarles sambungan.
A2: Ia menyokong rakaman foto dan video ultra-HD 4K. Fail boleh disimpan ke cakera U berformat FAT32 dalam 32 GB kapasiti atau storan komputer. Menyokong pengukuran ketepatan pada skrin dan perisian PC, dengan penjimatan data dan fungsi laporan-eksport.
A3: Ia menyokong autofokus perkakasan, sintesis kedalaman medan, jahitan imej sisi PC dan pembangunan sekunder. Digunakan secara meluas untuk analisis metalografik, pemeriksaan semikonduktor, pemeriksaan komponen ketepatan, penyelidikan saintifik, pengajaran dan pengesanan ketepatan industri mewah.
J4: Penyelesaian masalah tiada imej: Periksa bekalan kuasa, kabel HDMI dan sumber isyarat monitor, kemudian mulakan semula peranti. Penyelesaian masalah imej kabur: Laraskan roda tangan fokus manual, letak sampel rata dan permukaan kanta bersih. Kegagalan rangkaian penyelesaian masalah: Tetapkan PC dan peranti dalam segmen IP yang sama, matikan tembok api dan sambung semula kabel rangkaian. Ralat cakera-U penyelesaian masalah: Gantikan atau format semula cakera U (mesti FAT32 dan ≤32 GB).
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. telah diperbadankan secara rasmi pada tahun 2011. Ahli pengasas kami terkumpul pengetahuan alat optik secara langsung bermula pada tahun 2005. Kami menyampaikan sokongan kitaran penuh meliputi reka bentuk optik tersuai, R&D dalaman, jualan antarabangsa dan perkhidmatan penyelenggaraan selepas jualan yang komprehensif. kami pasukan-kejuruteraan mahir mempunyai lebih daripada sepuluh tahun kepakaran-pembangunan-mikroskop, memastikan prestasi-teknikal yang stabil dan konsisten-produk-kebolehpercayaan.
GAOPIN membekalkan lebih daripada 100 kategori instrumen ujian optik, berkhidmat kepada pelanggan industri dan makmal di seluruh dunia. Kami menumpukan pada penyampaian penyelesaian pemeriksaan mikroskopi yang fleksibel dan menjimatkan kos kepada memuaskan pelbagai-pengujian-keperluan.
Untuk pembeli di luar negara, kami menyediakan sokongan teknikal di seluruh dunia yang responsif termasuk perundingan dalam talian jauh, video-tutorial amali dan latihan-operasi-peralatan-jauh-langsung. Kemudahan pengeluaran kami terletak di Kunshan, Wilayah Jiangsu, dengan akses pengangkutan-mudah ke Shanghai. Lawatan di tapak kilang dan lawatan maya dalam talian adalah dialu-alukan. Sila hubungi pasukan jualan kami untuk gambar-gambar-ujian-sampel tulen yang ditangkap oleh gred Penyelidikan ini mikroskop metalografik dengan 4K Ultra HD & Autofokus untuk menilai prestasi pengimejan sebenar.
Alamat
Bangunan 2, Pusat Perniagaan Antarabangsa Shuanglian, Bandar Huaqiao, Bandar Kunshan, China
Tel
E-mel
