GP-L500-300C ialah mikroskop metalografi gred Penyelidikan dengan peringkat pergerakan yang lebih besar untuk sampel bersaiz besar. Mikroskop Metalurgi Pembesaran Tinggi Peringkat Besar menyampaikan pengimejan HD 1080P untuk menunjukkan butiran struktur mikro yang jelas. Port trinokular menyokong pemasangan kamera untuk aliran kerja analisis metalografik. Ia sesuai untuk pemerhatian metalurgi bahan bersaiz besar, semikonduktor pemeriksaan, analisis kepingan PCB dan senario kawalan kualiti makmal industri.
Mikroskop Metalurgi Pembesaran Tinggi Peringkat Besar ini sesuai untuk pemerhatian mikroskopik struktur mikro metalografi dan morfologi permukaan. Ia berfungsi sebagai alat penyelidikan yang ideal untuk metalurgi, mineralogi dan disiplin kejuruteraan ketepatan.
Kamera HD terbina dalam perumahan trinokular untuk tontonan serentak melalui kanta mata dan monitor. Imej mikro masa nyata HDMI output menggabungkan aliran kerja pemerhatian dan rakaman.
Pembesaran optik 50-800X; pembesaran digital tulen maks sehingga 6080X dengan set kanta lima objektif. Ketepatan laluan optik menyampaikan butiran tajam untuk pemeriksaan mikro wafer dan cip.
Tombol fokus stabil dipadankan dengan pemasangan tong-lensa memastikan pemfokusan lembut dan mengurangkan gegaran imej.
Tahap spesimen bergerak bersaiz besar dipasangkan dengan tapak logam tebal. Kekal stabil untuk sampel bersaiz besar tanpa goyah semasa lama-pemerhatian.
Bingkai tegar gaya industri serba putih serba putih. Sangat sesuai untuk bengkel semikonduktor dan universiti makmal.
Dioptimumkan untuk pemeriksaan cip-dan-wafer; juga digunakan secara meluas untuk ujian semikonduktor, analisis metalografi, kerja penyelidikan bahan dan penilaian kualiti.
Tangkapan foto & video 1080P, pengukuran tepat pada monitor terbina dalam, storan cakera U. Pengimejan digital memudahkan fail kerja arkib, perbandingan imej dan pasca analisis.
Tontonan binokular ditambah pemerhatian elektronik segerak:Pandangan kanta mata dan kerja paparan monitor secara serentak. Mikroskop metalurgi biasa hanya menyokong pemerhatian kanta mata; aksesori kamera tambahan ialah diperlukan untuk output skrin.
Peringkat bersaiz besar & pembesaran ultra tinggi:Pembesaran optik maksimum mencapai 800X; maksimum pembesaran elektronik digital tulen mencapai 6080X. Peringkat bergerak yang bersaiz besar memuatkan sampel berdimensi besar. Mikroskop metalurgi konvensional dilengkapi dengan peringkat kerja bersaiz kecil dan menawarkan elektronik yang lebih rendah pembesaran.
Output HDMI terus:Sambung terus ke monitor melalui kabel HDMI. Mikroskop metalurgi am memerlukan kamera berasingan dan kad tangkapan untuk output imej.
Pengukuran luar talian pada monitor:Pengukuran dimensi boleh diselesaikan terus pada monitor tanpa Sambungan PC. Mikroskop metalurgi biasa bergantung secara eksklusif pada pengukuran perisian PC.
Storan cakera U luar talian:Simpan foto dan video pada cakera U tanpa komputer. Model tradisional mesti menyambung ke PC untuk penjimatan imej.
Laluan optik metalurgi khusus:Dioptimumkan untuk bijirin logam, salutan dan analisis bahan metalografik. Mikroskop digital biasa kekurangan laluan optik khusus ini dan tidak boleh memvisualisasikan struktur metalografi.
Mekanik:Bingkai tugas berat logam penuh untuk ketegaran tinggi dan prestasi anti-getaran. Ketepatan pemfokusan kasar-halus sepaksi dengan peranti pengunci & had, nilai pengijazahan pergerakan halus: 0.7 μm. Format besar peringkat XY manual dengan pergerakan haus rendah yang licin. Laluan optik trinokular mengekalkan penjajaran bersama optik apabila bertukar objektif.
Optik:Objektif metalurgikromatik pelan yang diperbetulkan infiniti. Lampu halogen yang dipantulkan pencahayaan dengan kecerahan boleh laras.
Pengimejan & Pengukuran:Penderia CMOS HD 2-Megapiksel 1080P, output HDMI sahaja. Perisian tegar terbina dalam pengukuran berjalan pada monitor. Pra-ditentukur di kilang; parameter berterusan selepas dimatikan; tiada penentukuran harian diperlukan. Penjimatan data hanya melalui cakera U yang mematuhi. Fungsi sambungan PC, port USB dan pembangunan sekunder TIDAK disokong untuk GP-L500-300C.
Kualiti & Penyelenggaraan:Penentukuran optik dan pemeriksaan prestasi kilang item penuh. Pemeriksaan laporan dan sampel mikrograf boleh disediakan atas permintaan. Jangan buka modul optik. Kalis habuk biasa pembersihan akan memanjangkan hayat perkhidmatan.
Wafer & Cip Semikonduktor (Aplikasi Teras):
Wafer silikon, kepingan litografi, cip IC, tiub MOS, PCB, litar fleksibel FPC, sambungan pateri berbungkus.
Sasaran pemeriksaan: litar cip mikro dalaman, salutan wafer, kecacatan etsa, buih pembungkusan, pematerian sejuk
sendi, pengoksidaan dan ubah bentuk pin.
Spesimen Metalografik & Alat Pemotong Perkakasan:
Bahagian metalografik, keluli aloi, mata gerudi, pemotong penggilingan, bahagian logam bercap ketepatan.
Sasaran pemeriksaan: struktur butiran logam, analisis metalografi rawatan haba, retak permukaan mikro,
serpihan canggih, burr, kesan haus dan kekotoran bahan dalaman.
Sampel Makmal: Serbuk, Serat & Filem Nipis:
Serbuk logam, serbuk kimia, gentian karbon, gentian tekstil, filem salutan optik.
Perhatikan morfologi zarah, tekstur gentian, delaminasi filem dan struktur salutan mikro.
Komponen Optoelektronik & Ketepatan-Plastik:
Cip LED, kanta optik, bahagian acuan suntikan, gam pembungkus semikonduktor.
Mengesan liang mikro, kotoran permukaan, tepi kasar, penyimpangan, buih dan kecacatan kosmetik kecil.
Komponen Miniatur Ketepatan Bersaiz Besar:
Penyambung, terminal, pegas mikro, bahan kerja bercop besar, bahagian berdimensi panjang.
Pentas bergerak yang lebih besar menampung sampel bersaiz besar; pengukuran tepat aras piksel untuk jurang, diameter lubang,
perbezaan ketinggian dan dimensi linear.
Makmal Akademik & QC Semikonduktor-Kilang:
Eksperimen penyelidikan bahan, barang masuk & barang siap pemeriksaan penuh untuk semikonduktor,
pemerhatian metalografik-spesimen; pengarkiban foto/video.
Platform besar yang diperluaskan membolehkan pemerhatian penuh wafer, PCB besar dan kepingan logam besar tanpa spesimen memotong. Sempurna untuk pemeriksaan semikonduktor-wafer, papan litar dan komponen perkakasan besar.
Pembesaran boleh laras langkah: optik 50x-800x; pembesaran digital maks sehingga 6080X (zum digital tulen). Tangkapan penampilan keseluruhan bahan kerja dan butiran ultra halus seperti litar cip, butiran logam, calar mikro dan salutan liang pori. Ideal untuk ujian semikonduktor-R&D.
Laluan cahaya segerak trinokular membolehkan pemerhatian serentak melalui kanta mata binokular dan monitor HDMI. Sesuai untuk Perbincangan pasukan R&D, semakan semula QC dua kali dan pengajaran makmal universiti untuk mengurangkan salah sangka.
Output HDMI tunggal dengan fungsi pengukuran pada monitor terbina dalam. Simpan foto dan video 1080P terus ke patuh U-cakera. Plug-and-play dengan pendawaian mudah. Sesuai dengan stesen pemeriksaan asas di bengkel semikonduktor dan bahan kecil makmal.
Badan anti-getaran bersepadu yang tebal bersama dengan pemfokusan halus kasar manual sepaksi. Fokus lancar tanpa peralihan imej semasa pemeriksaan berterusan selama sejam. Sesuai untuk ujian masuk jisim harian untuk wafer & litar papan dan analisis makmal sampel statik lama.
Penghantaran pembungkusan neutral disediakan atas permintaan.
| item | Penerangan |
| produk | GP-L500-300C Mikroskop metalografi gred penyelidikan |
| kategori | Mikroskop Pemeriksaan Metalurgi Trinokular Gred Penyelidikan Perindustrian Platform Besar |
| Teknologi Teras | Sistem optik pandangan segerak trinokular, peringkat spesimen bergerak kawasan besar, berkuasa tinggi metalurgi set kanta objektif, penderia imej HD CMOS, modul pengukuran ketepatan digital terbina dalam, masa nyata HDMI video output, teknologi storan imej tempatan cakera U |
| Spesifikasi Utama | Pembesaran visual: 50/100/200/500/800×; Pembesaran elektronik: 380/760/1520/3800/6080× (6080X ialah tulen zum digital); Antara muka output: HDMI sahaja; Resolusi tangkapan: 1920*1080; Pemfokusan manual; terbina dalam tepat fungsi pengukuran, storan cakera U; Terminal monitor menyokong pratonton imej HD, tangkapan foto dan video rakaman. |
| Aplikasi Biasa | Pemeriksaan struktur mikro wafer & cip semikonduktor, pemerhatian komponen elektronik bersaiz besar, logam analisis butiran metalografik, pengesanan litar pembungkusan, pemeriksaan keratan rentas PCB, bahan-tenaga-baru ujian, penyelidikan bahan termaju makmal |
| Pengeluar | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Lokasi Pengeluar | Kunshan, Jiangsu, China (bersebelahan dengan Shanghai) |
| Model | GP-L500-300C |
| Resolusi | 1920×1080 |
| Piksel Berkesan Sebenar | 2 Megapiksel |
| Kaedah Pemfokusan | Fokus manual |
| Format Optik | 1/2" |
| Saiz Piksel | 3.75 μm × 3.75 μm |
| Kaedah Keluaran | HDMI |
| Pengenalan fungsi terperinci yang sepadan dengan setiap antara muka keluaran | HDMI boleh menyambung ke paparan serasi 4K. Sokongan perisian tegar pemprosesan imej profesional terbenam rakaman foto, rakaman video, ukuran dimensi, main semula imej dan perbandingan imej, dikendalikan oleh tetikus dalam masa nyata. |
| Kadar Bingkai | HDMI: 60fps @1920*1080 |
| Sintesis Depth-of-Field | / |
| Jahitan Imej | / |
| Kaedah Pengukuran | Sistem pengukuran pada monitor terbina dalam |
| Ketepatan Pengukuran | 0.001 mm |
| Unit Pengukuran | mm / μm / mil / inci (4 unit boleh tukar) |
| Alat Pengukuran | Panjang, sudut, radian, bulatan, poligon, garis poli, jarak pusat ke tengah, segi empat tepat, anotasi menambah, pengesanan tepi automatik, bar skala dan banyak lagi |
| Kaedah Penyimpanan | Storan cakera U |
| Bahasa Paparan | Bahasa Cina Ringkas / Inggeris (boleh ditukar) |
| Pemproses | ARM Cortex-A7 Dual-Core @ Max 1.3 GHz |
| Sistem Operasi | Perisian tegar ukuran yang dibangunkan secara bebas berdasarkan kernel Linux 3.1 |
| Penamaan Imej | Penamaan automatik atau manual tersedia |
| Ketua Melihat | Kepala trinokular jenis engsel condong 30°; julat pelarasan antara murid: 53 mm-75 mm |
| Mod Pemerhatian | Pencahayaan medan terang / serong / polarisasi mudah |
| Sistem Pencahayaan | Sistem pencahayaan jatuh cahaya terpantul sahaja, input voltan lebar 100-240V, filamen boleh laras pusat, keamatan cahaya boleh laras secara berterusan. |
| Berdiri | ① Rak jenis menembak, mekanisme pemfokusan kasar-halus sepaksi kedudukan rendah, dengan penguncian dan
mengehadkan
peranti; nilai pengijazahan pergerakan halus: 0.7 μm. Pencahayaan cahaya pantulan lampu halogen. ② Medan terang reflektor dengan hentian apertur berubah, hentian medan dan unit pensuisan penapis warna. ③ Kuning, biru, hijau penapis dan kepingan kaca beku dibekalkan untuk laluan optik cahaya pantulan. |
| Peringkat Mekanikal | ★Peringkat bergerak mekanikal. Dimensi pentas: 280 mm × 270 mm; Perjalanan X-Y: 204 mm × 204 mm (perjalanan 8 inci). kaca plat pembawa spesimen untuk pemerhatian cahaya pantulan sahaja, sesuai untuk bahan kerja berdimensi besar. |
| Sumber Cahaya | 6V 30W kebuk lampu halogen (cahaya yang dipantulkan sahaja) |
| Fungsi Polarisasi Mudah | Polarizer dan penganalisis jenis tolak-tarik dipasang |
| Antara Muka Elektronik | Antara muka kamera fokus tetap CTV 1X; CTV 0.5X adalah pilihan dengan pampasan perbezaan harga. |
| Cermin mata | Dua kanta mata bidang pelan sudut lebar WF10X/22 mm dengan pelarasan diopter individu |
| batang hidung | ★Kancing hidung objektif lima lubang Mingchang |
| Objektif Metalurgi | ★Pelan yang diperbetulkan infiniti-objektif metalurgikromatik ① PL L5X/0.12, Jarak Kerja: 26.1 mm ×1pc ② PL L10X/0.25, Jarak Kerja: 20.2 mm ×1pc ③ PL L20X/0.40, Jarak Kerja: 8.80 mm ×1pc ④ PL L50X/0.70, Jarak Kerja: 3.68 mm ×1pc ⑤ PL L80X/0.80, Jarak Kerja: 1.25 mm ×1pc |
| Pembesaran Optik | 50X, 100X, 200X, 500X, 800X (boleh tukar lima peringkat) |
| Pembesaran Elektronik | lebih kurang 380X, 760X, 1520X, 3800X, 6080X (boleh tukar lima peringkat); julat pilihan: 190-3040X. |
Mikroskop GAOPIN digunakan oleh perusahaan terkemuka, institut penyelidikan dan universiti. Kerjasama kami perhubungan termasuk:
Universiti Perdagangan Tianjin – Pengajaran makmal bahan, pengimejan mikro & pengarkiban data eksperimen
DOOV – Pemeriksaan pemasangan peranti mudah alih, ujian skrin & penampilan komponen
Perkakas Elektrik GREE (Hefei) – Pengukuran dimensi ketepatan dan pemeriksaan kecacatan untuk bahagian perkakas rumah
Lens Technology Co., Ltd. – Pengesanan kecacatan mikro untuk plat penutup kaca dan panel pelindung telefon
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Pengesanan dimensi & kecacatan mikro untuk pemesinan ketepatan bahagian
Dabo Medical – Analisis mikro-morfologi untuk peranti perubatan dan biomaterial jenis implan
A1: Hanya antara muka HDMI dipasang untuk paparan monitor masa nyata.
A2: Ia menyokong rakaman foto dan video definisi tinggi 1080P. Fail boleh disimpan ke dalam cakera U berformat FAT32 32 Kapasiti GB. Alat pengukuran pada skrin terbina dalam menyokong penandaan dimensi, penjimatan data dan laporan pengukuran eksport.
J3: Penyelesaian masalah tiada imej: Periksa bekalan kuasa, kabel HDMI dan sumber isyarat monitor, kemudian mulakan semula peranti. Penyelesaian masalah imej kabur: Laraskan roda tangan fokus manual, kanta objektif kunci, letak sampel rata dan kanta bersih permukaan. Kegagalan pengecaman cakera U: Gantikan atau format semula cakera U (mesti FAT32 dan ≤32 GB).
A4: Sesuai untuk pemerhatian metalografi, analisis bahan logam, ujian serbuk metalurgi, pemeriksaan komponen elektronik tepat, penyelidikan saintifik dan eksperimen pengajaran.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. telah diasaskan secara rasmi pada tahun 2011. Pasukan pengasas kami terkumpul pengalaman teknologi optik bermula dari tahun 2005. Kami adalah pengeluar peralatan pemeriksaan industri yang menyediakan perkhidmatan rangkaian penuh: reka bentuk optik bebas, R&D produk, jualan antarabangsa dan jangka panjang sokongan selepas jualan untuk mikroskop industri. Pakar kejuruteraan dalaman kami mempunyai pengalaman profesional lebih daripada sepuluh tahun untuk pembangunan alat optik, memastikan prestasi teknikal yang stabil dan kebolehpercayaan produk yang konsisten.
GAOPIN membekalkan lebih daripada seratus kategori alat optik untuk pelanggan di seluruh dunia. Kami menyampaikan fleksibel, Penyelesaian mikroskop tersuai kos efektif untuk memenuhi pelbagai ujian industri dan penyelidikan makmal keperluan. Pembeli luar negara global boleh mendapatkan sokongan teknikal tindak balas pantas termasuk perundingan video dalam talian, panduan operasi langkah demi langkah dan latihan peralatan jauh. Kilang kami terletak di Kunshan, Wilayah Jiangsu (berdekatan dengan Shanghai). Lawatan kilang di tapak dan lawatan dalam talian maya dialu-alukan. Sila hubungi kami untuk ujian sampel sebenar imej ditangkap oleh mikroskop metalografi gred Penyelidikan ini untuk penilaian kualiti pengimejan.
Alamat
Bangunan 2, Pusat Perniagaan Antarabangsa Shuanglian, Bandar Huaqiao, Bandar Kunshan, China
Tel
E-mel
