GP-L500-324K ialah mikroskop metalografi gred Penyelidikan dengan 4K Ultra HD. Ia menyokong pembesaran 5 langkah bertukar daripada 380× hingga 6080×. Pentas bergerak lebih besar terbina dalam mudah memuatkan sampel bersaiz besar. Mikroskop Metalurgi Gred Penyelidikan 4K Ultra HD menyampaikan 4K imej definisi ultra tinggi dengan butiran struktur mikro yang tajam. Port trinokular menyokong pemasangan kamera dan sambungan metalografi-analisis-perisian. Ia sesuai untuk pemerhatian metalurgi bahan bersaiz besar, semikonduktor pemeriksaan, analisis kepingan PCB dan kerja kawalan kualiti makmal industri.
Mikroskop Metalurgi Gred Penyelidikan 4K Ultra HD ini sesuai untuk pemerhatian mikroskopik struktur mikro metalografi dan morfologi permukaan. Ia berfungsi sebagai alat penyelidikan yang ideal untuk metalurgi, mineralogi dan disiplin kejuruteraan ketepatan.
Kamera 4K disepadukan dalam perumahan trinokular untuk tontonan serentak melalui kanta mata dan monitor luaran. Dwi-port output melalui HDMI dan Gigabit LAN menghantar imej mikro ultra-HD dalam masa nyata.
Pembesaran optik 50-800×; pembesaran digital maksimum mencapai 6080X (zum digital tulen) dengan kanta lima objektif ditetapkan. Laluan optik ketepatan memberikan butiran tajam untuk pemeriksaan mikro cip dan wafer.
Tombol fokus sepaksi dipadankan dengan pemasangan tong-lensa yang diperkukuh membolehkan pemfokusan yang mantap dan meminimumkan gegaran imej.
Tahap spesimen bergerak yang lebih besar dipasangkan dengan tapak logam bersepadu tebal. Kekal stabil untuk sampel bersaiz besar tanpa goyah semasa pemerhatian lama.
Bingkai logam tegar gaya makmal bersepadu minimalis, sangat sesuai untuk bengkel semikonduktor, universiti makmal dan kemudahan QC.
Ideal untuk pemeriksaan cip-dan-wafer, ujian semikonduktor, analisis metalografik, penyelidikan bahan, akademik-pengajaran dan kerja penilaian kualiti.
Tangkapan foto & video 4K, mod dwi-ukuran (pada skrin terbina dalam + perisian PC). Dwi-storan melalui U-cakera & komputer. Sintesis kedalaman medan dan fungsi jahitan imej dijalankan secara eksklusif pada perisian PC yang menyokong. Pembangunan menengah ialah disokong melalui LAN-port untuk pengarkiban imej, perbandingan dan analisis lanjutan.
Tontonan binokular ditambah pemerhatian elektronik segerak:Pandangan kanta mata dan kerja paparan monitor secara serentak. Mikroskop metalurgi biasa hanya menyokong pemerhatian kanta mata; aksesori kamera tambahan ialah diperlukan untuk output skrin.
Peringkat bersaiz besar, pembesaran ultra-tinggi & pengimejan 4K:Pembesaran optik maksimum dicapai 800X; pembesaran elektronik digital tulen maksimum mencapai 6080X. Menampung pentas bergerak yang besar sampel berdimensi besar dengan output 4K asli. Mikroskop metalurgi konvensional menggunakan peringkat kerja bersaiz kecil dengan resolusi yang lebih rendah dan pembesaran terhad.
Antara muka dwi-output:Port HDMI + Gigabit-LAN. Mikroskop metalurgi biasa mempunyai antara muka tunggal tanpa port rangkaian untuk penyepaduan sistem.
Mod pengukuran dwi:Pengukuran terbina dalam luar talian pada monitor ditambah ukuran perisian PC. Mikroskop metalurgi biasa hanya menyokong pengukuran perisian sisi PC.
Mod storan dwi:Storan cakera U luar talian dan storan perisian PC, penjimatan data tersedia dengan-atau-tanpa-komputer bersambung. Model konvensional memerlukan sambungan PC untuk penjimatan imej.
Pembangunan menengah disokong:Port LAN membolehkan penyepaduan sistem automatik. Umum mikroskop metalurgi tidak menyokong keupayaan pembangunan sekunder.
Laluan optik metalurgi khusus:Dioptimumkan untuk bijirin logam, salutan dan analisis bahan metalografik. Mikroskop digital biasa kekurangan laluan optik khusus ini dan tidak boleh memvisualisasikan struktur metalografi.
Mekanik:Pembinaan logam penuh untuk ketegaran tinggi dan rintangan getaran. Ketepatan pemfokusan kasar-halus tanpa tindak balas. Peringkat XY manual bersaiz besar dengan kehausan rendah dan kelegaan minimum. Trinokular laluan optik mengekalkan penjajaran bersama optik apabila menukar objektif.
Optik:Objektif metalurgikromatik pelan yang diperbetulkan infiniti dengan salutan keras anti-kabut. Pencahayaan lampu halogen 6V-30W cahaya pantulan.
Pengimejan & Pengukuran:Kamera CMOS industri 8.3-Megapiksel 4K. Dwi-output: HDMI + Gigabit-LAN pelabuhan, prestasi anti-gangguan yang baik untuk kegunaan persekitaran industri. Menyokong pengukuran pada monitor tertanam dan pengukuran perisian PC. Pra-ditentukur di kilang; parameter berterusan selepas dimatikan; tiada penentukuran harian diperlukan. Storan dua laluan melalui cakera U dan perisian PC. Sintesis kedalaman medan dan jahitan imej tersedia hanya pada perisian PC. Antara muka pembangunan sekunder tersedia melalui port LAN.
Persekitaran Operasi:Suhu kerja 10-35 ℃, kelembapan relatif 30-75% RH. Stabil di bawah biasa kilang elektromagnet-persekitaran. Elakkan getaran berat, gas menghakis dan habuk berat.
Kualiti & Penyelenggaraan:Pemeriksaan kilang item penuh. Jangan buka modul optik. Biasa pembersihan kalis habuk akan memanjangkan hayat perkhidmatan.
Wafer & Cip Semikonduktor (Aplikasi Teras):
Wafer silikon, kepingan litografi, cip IC, tiub MOS, PCB, litar fleksibel FPC, sambungan pateri berbungkus.
Sasaran pemeriksaan: litar cip mikro dalaman, salutan wafer, kecacatan etsa, buih pembungkusan, pematerian sejuk
sendi, pengoksidaan dan ubah bentuk pin.
Spesimen Metalografik & Alat Pemotong Perkakasan:
Bahagian metalografik, keluli aloi, mata gerudi, pemotong penggilingan, bahagian logam bercap ketepatan.
Sasaran pemeriksaan: struktur butiran logam, analisis metalografi rawatan haba, retak permukaan mikro,
serpihan canggih, burr, kesan haus dan kekotoran bahan dalaman.
Sampel Makmal: Serbuk, Serat & Filem Nipis:
Serbuk logam, serbuk kimia, gentian karbon, gentian tekstil, filem salutan optik.
Perhatikan morfologi zarah, tekstur gentian, delaminasi filem dan struktur salutan mikro.
Komponen Optoelektronik & Ketepatan-Plastik:
Cip LED, kanta optik, bahagian acuan suntikan, gam pembungkus semikonduktor.
Mengesan liang mikro, kotoran permukaan, tepi kasar, penyimpangan, buih dan kecacatan kosmetik kecil.
Komponen Miniatur Ketepatan Bersaiz Besar:
Penyambung, terminal, pegas mikro, bahan kerja bercop besar, bahagian berdimensi panjang.
Pentas bergerak yang lebih besar menampung sampel bersaiz besar; Pengukuran tepat tahap 4K piksel untuk celah, lubang
diameter, perbezaan ketinggian dan dimensi linear.
Makmal Akademik & QC Semikonduktor-Kilang:
Eksperimen penyelidikan bahan, barang masuk dan barang siap pemeriksaan penuh untuk semikonduktor,
pemerhatian metalografik-spesimen; pengarkiban foto/video, sambungkan ke PC untuk mengeksport pengukuran profesional
Laporan QC.
Platform besar yang diperluaskan membolehkan pemerhatian penuh wafer, PCB besar dan kepingan logam besar tanpa pemotongan spesimen. Sempurna untuk semikonduktor-wafer, papan litar dan pemeriksaan komponen-perkakasan besar.
Pembesaran boleh laras langkah: optik 50x-800x; pembesaran digital maks sehingga 6080X (zum digital tulen). Tangkapan rupa benda kerja keseluruhan dan butiran ultra halus seperti litar cip, butiran logam, calar mikro dan salutan-liang. Ideal untuk ujian semikonduktor-R&D.
Laluan optik segerak trinokular membolehkan pemerhatian serentak melalui kanta mata binokular dan monitor HDMI. sesuai untuk perbincangan-pasukan R&D, semakan semula QC dua kali dan pengajaran-makmal universiti untuk mengurangkan salah sangka.
Output-HDMI tunggal dengan fungsi pengukuran pada monitor terbina dalam. Foto dan video 4K boleh disimpan terus ke cakera U yang mematuhi. Pemasangan plug-and-play sesuai dengan stesen pemeriksaan asas di bengkel semikonduktor dan makmal-bahan-kecil.
Badan anti-getaran bersepadu yang tebal bersama dengan pemfokusan kasar-halus manual. Prestasi fokus lancar tanpa peralihan imej semasa pemeriksaan berterusan-sejam lama. Tahan lama untuk ujian masuk massa harian untuk wafer & papan litar dan analisis makmal-sampel-statik yang lama.
Penghantaran pembungkusan neutral disediakan atas permintaan.
| item | Penerangan |
| produk | GP-L500-324K Mikroskop metalografi gred penyelidikan dengan 4K Ultra HD |
| kategori | Pemeriksaan & Pengukuran Metalurgi Trinokular Gred Penyelidikan Perindustrian Platform Besar 4K Mikroskop |
| Teknologi Teras | Sistem optik pandangan segerak trinokular, peringkat spesimen bergerak kawasan besar, berkuasa tinggi metalurgi set kanta objektif, penderia pengimejan CMOS ultra-HD 4K, sistem dwi-ukuran (pada monitor terbina dalam pengukuran + Pengukuran perisian PC), penghantaran isyarat dwi-saluran HDMI+Gigabit-LAN, teknologi dwi-storan, seni bina terbuka yang menyokong dok pembangunan menengah |
| Spesifikasi Utama | Pembesaran visual: 50/100/200/500/800×; Pembesaran elektronik: 380/760/1520/3800/6080× (6080X ialah tulen zum digital); Antara muka dwi-output: HDMI + port Gigabit-LAN; Resolusi tangkapan 4K: 3840×2160; Fokus manual sahaja; Mod ukuran dwi: ukuran tepat terbina dalam + ukuran perisian PC khusus; Dwi-storan mod: Storan tempatan cakera U + storan perisian PC; Terminal monitor menyokong ukuran dimensi, HD imej pratonton, pengarkiban foto & fail; Terminal PC menyokong pengukuran dimensi dan penjimatan imej; Seluruh unit menyokong integrasi pembangunan menengah melalui LAN. |
| Aplikasi Biasa | Pemeriksaan struktur mikro-wafer-dan-cip-separakonduktor, pemerhatian komponen elektronik bersaiz besar, logam analisis struktur bijirin metalografik, pengesanan litar pembungkusan, pemeriksaan keratan rentas PCB, ujian-kualiti-bahan-tenaga-baru, penyelidikan-makmal-bahan-termaju-universiti |
| Pengeluar | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Lokasi Pengeluar | Kunshan, Jiangsu, China (bersebelahan dengan Shanghai) |
| Model | GP-L500-324K |
| Resolusi | 3840×2160 |
| Piksel Berkesan Sebenar | 8.3 Megapiksel |
| Kaedah Pemfokusan | Fokus manual sahaja |
| Format Optik | 1/1.7" |
| Saiz Piksel | 1.85 μm × 1.85 μm |
| Kaedah Keluaran | HDMI + Port Ethernet LAN Gigabit |
| Pengenalan fungsi terperinci yang sepadan dengan setiap antara muka keluaran | ① HDMI bersambung ke paparan serasi 4K. Sokongan perisian tegar pemprosesan imej profesional terbenam
rakaman foto, rakaman video, ukuran dimensi, main semula imej dan perbandingan imej, dikendalikan
oleh
tetikus dalam masa nyata. ② Port LAN Gigabit bersambung ke penghala, suis atau komputer untuk imej rangkaian penghantaran. Komputer dalam segmen rangkaian yang sama boleh menerima video masa nyata dan tangkapan pencetus melalui perisian yang sepadan. |
| Kadar Bingkai | HDMI: 60fps @3840×2160 LAN Gigabit: 20fps @1920×1080 |
| Sintesis Depth-of-Field | / |
| Jahitan Imej | / |
| Kaedah Pengukuran | Sistem pengukuran pada monitor terbina dalam + pengukuran perisian PC |
| Ketepatan Pengukuran | 0.001 mm |
| Unit Pengukuran | mm / μm / mil / inci (4 unit boleh tukar) |
| Alat Pengukuran | Panjang, sudut, radian, bulatan, poligon, garis poli, jarak pusat ke tengah, segi empat tepat, anotasi menambah, pengesanan tepi automatik, bar skala dan banyak lagi |
| Kaedah Penyimpanan | Storan cakera U + storan perisian PC |
| Bahasa Paparan | Bahasa Cina Ringkas / Inggeris (boleh ditukar) |
| Pemproses | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max 1.4 GHz pemproses kawalan utama |
| Sistem Operasi | Perisian tegar ukuran yang dibangunkan secara bebas berdasarkan kernel Linux 3.1 |
| Penamaan Imej | Penamaan automatik atau manual tersedia |
| Ketua Melihat | Kepala trinokular jenis engsel condong 30°; julat pelarasan antara murid: 53 mm-75 mm |
| Mod Pemerhatian | Pencahayaan medan terang / serong / polarisasi mudah |
| Sistem Pencahayaan | Sistem pencahayaan jatuh cahaya terpantul sahaja, input voltan lebar 100-240V, filamen boleh laras pusat, keamatan cahaya boleh laras secara berterusan. |
| Berdiri | ① Rak jenis menembak, mekanisme pemfokusan kasar-halus sepaksi kedudukan rendah, dengan penguncian dan
mengehadkan
peranti; nilai pengijazahan pergerakan halus: 0.7 μm. Pencahayaan cahaya pantulan lampu halogen. ② Medan terang reflektor dengan hentian apertur berubah, hentian medan dan unit pensuisan penapis warna. ③ Kuning, biru, hijau penapis dan kepingan kaca beku dibekalkan untuk laluan optik cahaya pantulan. |
| Peringkat Mekanikal | ★Peringkat bergerak mekanikal. Dimensi pentas: 280 mm × 270 mm; Perjalanan X-Y: 204 mm × 204 mm (perjalanan 8 inci). kaca plat pembawa spesimen untuk pemerhatian cahaya pantulan sahaja, sesuai untuk bahan kerja berdimensi besar. |
| Sumber Cahaya | 6V 30W kebuk lampu halogen (cahaya yang dipantulkan sahaja) |
| Fungsi Polarisasi Mudah | Polarizer dan penganalisis jenis tolak-tarik dipasang |
| Antara Muka Elektronik | Antara muka kamera fokus tetap CTV 1X; CTV 0.5X adalah pilihan dengan pampasan perbezaan harga. |
| Cermin mata | Dua kanta mata bidang pelan sudut lebar WF10X/22 mm dengan pelarasan diopter individu |
| batang hidung | ★Kancing hidung objektif lima lubang Mingchang |
| Objektif Metalurgi | ★Pelan yang diperbetulkan infiniti-objektif metalurgikromatik ① PL L5X/0.12, Jarak Kerja: 26.1 mm ×1pc ② PL L10X/0.25, Jarak Kerja: 20.2 mm ×1pc ③ PL L20X/0.40, Jarak Kerja: 8.80 mm ×1pc ④ PL L50X/0.70, Jarak Kerja: 3.68 mm ×1pc ⑤ PL L80X/0.80, Jarak Kerja: 1.25 mm ×1pc |
| Pembesaran Optik | 50X, 100X, 200X, 500X, 800X (boleh tukar lima peringkat) |
| Pembesaran Elektronik | lebih kurang 380X, 760X, 1520X, 3800X, 6080X (boleh tukar lima peringkat); julat pilihan: 190-3040X. |
Mikroskop GAOPIN digunakan oleh perusahaan terkemuka, institut penyelidikan dan universiti. Kerjasama kami perhubungan termasuk:
Universiti Tsinghua – Pengajaran, pengimejan makmal dan pengarkiban data eksperimen
Universiti Fudan – Bahan-mikro-nano & penyelidikan-pemerhatian-mikroskopik bioperubatan
Dabo Medical – Analisis mikro-morfologi untuk peranti perubatan dan biomaterial jenis implan
Universiti Perdagangan Tianjin – Pengajaran makmal bahan, pengimejan mikro & pengarkiban data eksperimen
Universiti Xi'an Jiaotong – Pemerhatian-percubaan-bahan-bahan & ketepatan-optik
Perkakas Elektrik GREE (Hefei) – Pengukuran dimensi ketepatan dan pemeriksaan kecacatan untuk bahagian perkakas rumah
A1: Dilengkapi dengan port HDMI + Gigabit-LAN. Ia menyokong paparan monitor terus dan sambungan rangkaian dengan komputer.
A2: Ia menyokong rakaman foto dan video ultra-HD 4K. Fail boleh disimpan ke cakera U berformat FAT32 dalam 32 GB kapasiti. Menyokong pengukuran pada skrin dan perisian PC, dengan fungsi penjimatan data dan eksport laporan.
J3: Penyelesaian masalah tiada imej: Periksa bekalan kuasa, kabel HDMI dan sumber isyarat monitor, kemudian mulakan semula peranti. Penyelesaian masalah imej kabur: Laraskan roda tangan fokus manual, letak sampel rata dan permukaan kanta bersih. Kegagalan rangkaian penyelesaian masalah: Tetapkan PC dan peranti dalam segmen IP yang sama, matikan tembok api dan sambung semula kabel rangkaian. Ralat cakera-U penyelesaian masalah: Gantikan atau format semula cakera U (mesti FAT32 dan ≤32 GB).
J4: Pembangunan sekunder disokong melalui port LAN. Digunakan secara meluas untuk analisis metalografi, bahan logam ujian, serbuk metalurgi, semikonduktor-pemeriksaan, ketepatan-komponen-pemeriksaan, saintifik-penyelidikan dan pengajaran-eksperimen.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. telah diasaskan secara rasmi pada tahun 2011. Pasukan kepimpinan pengasas kami terkumpul pengalaman-peralatan-pemeriksaan optikal-industri bermula pada tahun 2005. Kami menyampaikan penyelesaian hujung ke hujung meliputi reka bentuk sistem optik, R&D bebas, pengedaran produk di seluruh dunia, dan penyelenggaraan selepas jualan jangka panjang- perkhidmatan. Kakitangan kejuruteraan teras kami yang berdedikasi mempunyai lebih daripada sepuluh tahun pengalaman pembangunan-praktikal dalam instrumen optik, memastikan teknologi yang terbukti stabil dan kualiti yang boleh dipercayai.
GAOPIN mengekalkan barisan produk yang luas yang terdiri daripada lebih 100 instrumen pemeriksaan optik yang berbeza, menyediakan pelanggan industri dan makmal merentasi pasaran antarabangsa. Kami sangat menumpukan pada pembangunan yang dibuat khusus, penyelesaian-mikroskopi-kos-efisyen untuk memenuhi permintaan-pemeriksaan-unik daripada industri yang berbeza.
Untuk rakan kongsi di luar negara, kami menawarkan bantuan teknikal-global-pantas termasuk persidangan-video dalam talian, panduan-video-pengoperasian-langkah demi langkah dan latihan-pengguna-jauh-langsung. Pangkalan pembuatan kami terletak di Kunshan, Jiangsu Wilayah, dengan pautan pengangkutan-mudah ke Shanghai. Pemeriksaan-kilang di tapak dan lawatan dalam talian maya adalah dialu-alukan. Sila hubungi pasukan jualan kami untuk gambar-gambar-ujian-sampel tulen yang ditangkap oleh metalografi gred Penyelidikan ini mikroskop dengan 4K Ultra HD untuk menilai prestasi pengimejan sebenar.
Alamat
Bangunan 2, Pusat Perniagaan Antarabangsa Shuanglian, Bandar Huaqiao, Bandar Kunshan, China
Tel
E-mel
