GP-L600-462H ialah Mikroskop Metalurgi Autofokus Ultra HD 4K untuk Pemeriksaan Wafer. Ia menerima pakai sistem optik diperbetulkan infiniti untuk menukar cepat antara mod cerapan medan terang dan medan gelap. Medan terang digunakan untuk pemerhatian struktur mikro metalografi rutin; medan gelap memberikan kontras yang dipertingkatkan untuk kecacatan permukaan kecil, calar dan kekotoran zarah. Port trinokular menyokong pemasangan kamera dan sambungan perisian analisis metalurgi. Sangat sesuai untuk penyelidikan metalografik, pemeriksaan semikonduktor dan aliran kerja pengesanan-kecacatan-permukaan bahan kerja.
Alat ini sesuai untuk pemerhatian mikroskopik struktur mikro metalografi dan morfologi permukaan. Ia berfungsi sebagai alat penyelidikan yang ideal untuk metalurgi, mineralogi dan disiplin kejuruteraan ketepatan.
Kamera 4K terbina dalam perumahan trinokular untuk tontonan serentak melalui kanta mata dan monitor. Output berbilang port melalui HDMI, USB3.0 dan WIFI menghantar imej mikro ultra-HD dalam masa nyata.
Menyokong pemerhatian DIC, medan terang, medan gelap dan cahaya terkutub. Pembesaran 4 langkah, optik 50-500X, maks digital pembesaran sehingga 1900X, memberikan butiran yang tajam untuk pemeriksaan ciri mikro.
Modul autofokus perkakasan terbina dalam, mod fokus manual juga tersedia. Menyedari fokus lancar tanpa getaran dan meningkatkan kecekapan untuk ujian sampel jisim.
Pendirian logam bersepadu tebal dan pendakap pentas dengan pusat graviti yang rendah, mengekalkan prestasi yang stabil untuk jangka masa panjang pemerhatian makmal.
Susun atur optik modular dengan struktur logam tegar, sangat sesuai untuk makmal, institut penyelidikan dan semikonduktor kemudahan pembuatan.
Ideal untuk pemeriksaan wafer-dan-cip; juga digunakan secara meluas untuk ujian semikonduktor, analisis metalografi, kerja bahan-penyelidikan dan ketepatan-kualiti-penilaian.
Tangkapan foto & video 4K, mod dwi-ukuran (pada skrin terbina dalam + perisian PC). Dwi-storan melalui U-cakera & komputer. Sintesis depth-of-field berfungsi pada kedua-dua monitor dan perisian PC; fungsi jahitan imej hanya tersedia dalam perisian PC. Pembangunan sekunder disokong untuk pengarkiban imej, perbandingan dan analisis lanjutan.
1. Mod Pemerhatian Optik:Menyokong optik berbilang mod termasuk DIC, medan terang, medan gelap dan cahaya terkutub untuk pemerhatian kristal dan tekstur salutan. Mikroskop metalurgi biasa hanya menyediakan medan terang asas dan tidak dapat menggambarkan lapisan ultra-nipis dan struktur mikro kristal.
2. Sistem Pengimejan:Kamera ultra-HD 4K asli, tontonan kanta mata-dan-monitor yang disegerakkan. Biasalah mikroskop metalurgi menyampaikan pengimejan 2K definisi rendah dan hanya melihat kanta mata, dengan imej herot yang kabur di bawah pembesaran tinggi.
3. Pelarasan Pembesaran:Zum empat kelajuan 190-1900X, meliputi gambaran keseluruhan makro dan butiran mikro pemeriksaan. Mikroskop metalurgi biasa mempunyai lebih sedikit pembesaran-gear dan imej kabur di bawah kuasa tinggi.
4. Pengukuran & Rakaman:Pengukuran tepat pada monitor terbina dalam dengan tangkapan foto-video fungsi. Mikroskop metalurgi biasa tidak mempunyai ukuran onboard dan memerlukan perisian PC untuk semua kerja pengukuran dan pengarkiban.
Mekanik:Pembinaan logam penuh untuk ketegaran tinggi dan rintangan getaran. Fokus auto perkakasan dilengkapi modul, fokus manual juga tersedia. Pemfokusan kasar-halus ketepatan tanpa tindak balas. Ketepatan tinggi peringkat mekanikal XY manual dengan haus rendah dan kelegaan minimum. Laluan optik trinokular mengekalkan optik penjajaran bersama semasa pensuisan pembesaran.
Optik:Objektif metalurgikromatik pelan yang diperbetulkan infiniti dengan salutan keras anti-kabut. Pencahayaan lampu halogen 12V-100W dipantulkan dipancarkan.
Pengimejan & Pengukuran:Kamera CMOS industri 4K. Berbilang output: HDMI + USB3.0 + WIFI, bagus prestasi anti-gangguan untuk kegunaan persekitaran industri. Menyokong pengukuran pada monitor terbenam dan Pengukuran perisian PC. Storan dua laluan melalui cakera U dan perisian PC. Sintesis depth-of-field berfungsi kedua-duanya pada-monitor dan perisian PC; jahitan imej disokong secara eksklusif oleh perisian PC. Antara muka pembangunan sekunder tersedia melalui USB3.0 / WIFI.
Persekitaran Operasi:Suhu kerja 10-35 ℃, kelembapan relatif 30-75% RH. Stabil di bawah biasa kilang elektromagnet-persekitaran. Elakkan getaran berat, gas menghakis dan habuk berat. Jauhkan modul WIFI daripada sumber gangguan isyarat yang kuat.
Kualiti & Penyelenggaraan:Pemeriksaan kilang item penuh. Jangan buka modul optik atau modul autofokus. Pembersihan kalis habuk yang kerap akan memanjangkan hayat perkhidmatan.
Semikonduktor & Mikroelektronik (Aplikasi Teras DIC):
Wafer silikon, kepingan litografi, cip IC, PCB, litar fleksibel FPC, sambungan pateri, komponen pembungkusan.
Sasaran pemeriksaan: topografi permukaan cip, corak pengetsa wafer, calar nano, sambungan pematerian sejuk,
pengoksidaan dan ubah bentuk pin. Perbezaan-Interference-Contrast (DIC) menyerlahkan perbezaan ketinggian permukaan yang halus
untuk cerapan hirisan litar mikro dalam julat pembesaran 190-1900×.
Spesimen Logam Metalografik:
Bahagian metalografi aloi, perkakasan logam cap ketepatan.
Sasaran pemeriksaan: struktur butiran logam, analisis rawatan haba, rekahan permukaan mikro, serpihan tepi, burr halus,
memakai kesan dan kekotoran bahan dalaman. Mod medan terang / medan gelap / cahaya terkutub tersedia untuk
pemerhatian struktur logam-hablur.
Sampel Penyelidikan Makmal: Kristal, Serbuk, Serat & Filem Nipis:
Kristal kimia, serbuk logam, gentian karbon, gentian tekstil, filem salutan optik.
Perhatikan morfologi hablur, garis besar zarah, delaminasi filem dan tekstur salutan mikro; terkutub-cahaya
mengenal pasti ciri-ciri polarisasi kristal.
Komponen Plastik Kepersisan Optoelektronik:
Cip LED, kanta optik, substrat kaca, gam pembungkus semikonduktor.
Mengesan liang mikro, calar nano, penembusan gam, buih dan ketidaksamaan permukaan halus.
Komponen Miniatur Ketepatan Tinggi:
Penyambung, terminal, pegas mikro, bahan kerja bercop kecil.
Pengukuran tepat aras 4K piksel untuk jurang, diameter lubang, pic dan perbezaan ketinggian permukaan; DIC menggambarkan
kelim-ubah bentuk halus.
Makmal Universiti & QC Semikonduktor Tertinggi:
Eksperimen penyelidikan bahan, pemeriksaan barang masuk wafer, pemerhatian spesimen metalografik; foto-video
mengarkib, mengeksport laporan ukuran tepat melalui PC.
Dilengkapi dengan pengimejan 4K serasi 3840*1080 asli. Sesuai untuk analisis metalografik, pemeriksaan litar cip dan penjanaan laporan-ujian profesional; jelas memaparkan butiran logam, calar mikro dan kecacatan mikro kecil.
Autofokus perkakasan dilengkapi, sesuai dengan pemeriksaan pengeluaran besar-besaran dan penggantian sampel yang kerap. Mencapai dengan cepat memfokuskan selepas pergerakan sampel tanpa pelarasan manual berulang untuk meningkatkan kecekapan ujian. Mod fokus manual juga tersedia untuk pemerhatian sampel statik.
Tahap pergerakan manual standard dan laluan optik metalurgi trinokular menegak untuk kepingan cip, saiz kecil-sederhana PCB dan spesimen logam, dengan berkesan menekan silau reflektif untuk pemeriksaan metalografik. Peringkat XY dipacu motor boleh jadi dipilih sebagai naik taraf pilihan.
Julat dwi-pembesaran: Pembesaran optik 50-500X, pembesaran digital 190-1900X. Meliputi kedua-dua spesimen penuh gambaran keseluruhan dan mikro-butiran / mikro-kecacatan pemeriksaan.
Menyokong pengukuran pada peranti terbina dalam dan pengukuran perisian PC. Dilengkapi dengan output HDMI, USB3.0 dan WIFI pelabuhan. Foto, video dan data ukuran boleh disimpan melalui cakera U atau komputer. Pembangunan menengah disokong untuk integrasi barisan pengeluaran dan kebolehkesanan data makmal.
Penghantaran pembungkusan neutral disediakan atas permintaan.
| item | Penerangan |
| produk | Mikroskop Metalurgi Pemeriksaan Wafer GP-L600-462H dengan 4K Ultra HD dan Autofokus |
| kategori | Mikroskop metalurgi trinokular gred penyelidikan makmal, menyokong gangguan pembezaan DIC, pemerhatian medan terang / medan gelap / terkutub cahaya |
| Teknologi Teras | Sistem optik pandangan segerak trinokular, pencahayaan bersepadu berbilang mod (medan terang, medan gelap, polarizer, DIC perbezaan-gangguan-kontras), profesional berketepatan tinggi metalurgi set kanta objektif, penderia pengimejan ultra-HD CMOS 4K, modul autofokus perkakasan, tiga saluran penghantaran (HDMI+USB3.0+WIFI), sistem dwi-ukuran, sintesis kedalaman medan & algoritma jahitan imej, seni bina terbuka yang menyokong integrasi pembangunan menengah |
| Spesifikasi Utama | Pembesaran visual: 50/100/200/500×; Pembesaran elektronik: 190/380/760/1900×; Port tiga keluaran: HDMI + USB3.0 + WIFI; Resolusi tangkapan 4K: 3840×2160; Autofokus perkakasan dilengkapi (fokus manual juga tersedia); Mod dwi-ukuran: ukuran tepat terbina dalam + ukuran perisian PC yang dipadankan; Mod storan dwi: Storan cakera U + storan perisian komputer; Terminal monitor menyokong dimensi pengukuran, pratonton imej HD, rakaman foto-video, sintesis kedalaman medan; Sokongan terminal PC ukuran dimensi, storan fail, sintesis kedalaman medan dan jahitan imej; Sokongan keseluruhan unit integrasi pembangunan menengah. |
| Aplikasi Biasa | Analisis-kegagalan-wafer-separakonduktor, pemeriksaan-logam-bahan-logam, salutan-filem-nipis- pemerhatian struktur mikro, ujian pakej semikonduktor ketepatan, penyelidikan-makmal-bahan lanjutan, perubatan-biobahan-pemerhatian, mikro-kecacatan-pengesanan untuk komponen elektronik |
| Pengeluar | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Lokasi Pengeluar | Kunshan, Jiangsu, China (bersebelahan dengan Shanghai) |
| Model | GP-L600-462H |
| Resolusi | 3840×2160 |
| Piksel Berkesan Sebenar | 8,300,000 piksel |
| Kaedah Pemfokusan | autofokus |
| Format Optik | 1/1.8" |
| Saiz Piksel | 2.0 μm × 2.0 μm |
| Kaedah Keluaran | HDMI + USB3.0 + WIFI |
| Pengenalan fungsi terperinci yang sepadan dengan setiap antara muka keluaran | ① HDMI bersambung ke paparan serasi 4K. Sokongan perisian tegar pemprosesan imej profesional terbenam
autofokus dipacu perkakasan, rakaman foto, rakaman video, ukuran dimensi, main semula imej
dan
perbandingan imej, dikendalikan oleh tetikus dalam masa nyata. ② USB 3.0 bersambung ke komputer, digabungkan dengan perisian pemprosesan imej profesional berkualiti tinggi untuk menangkap foto, ukuran dimensi, gabungan kedalaman medan dan jahitan imej. ③ Modul WIFI menyambung ke komputer riba atau peranti mudah alih; masa nyata penghantaran imej, fotografi dan penyimpanan melalui perisian yang sepadan. |
| Kadar Bingkai | HDMI: 60fps @3840×2160 USB3.0: 30fps @3840×2160; 60fps @1920×1080 WIFI: 30fps @3840×2160; 60fps @1920×1080 |
| Sintesis Depth-of-Field | Disokong oleh kedua-dua perisian tegar pada monitor HDMI dan perisian PC |
| Jahitan Imej | Disokong hanya pada bahagian perisian PC |
| Kaedah Pengukuran | Sistem pengukuran pada monitor terbina dalam + pengukuran perisian PC |
| Ketepatan Pengukuran | 0.002-0.005 mm |
| Unit Pengukuran | mm / μm / mil / inci (4 unit boleh tukar) |
| Alat Pengukuran | Panjang, sudut, radian, bulatan, poligon, garis poli, jarak pusat ke tengah, segi empat tepat, anotasi menambah, pengesanan tepi automatik, bar skala dan banyak lagi |
| Kaedah Penyimpanan | Storan cakera U + storan perisian PC |
| Bahasa Paparan | Bahasa Cina Ringkas / Inggeris (boleh ditukar) |
| Pemproses | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max 1.4 GHz pemproses kawalan utama |
| Sistem Operasi | Perisian tegar ukuran yang dibangunkan secara bebas berdasarkan kernel Linux 3.1 |
| Penamaan Imej | Penamaan automatik atau manual tersedia |
| Ketua Melihat | Kepala trinokular jenis engsel condong 30°; julat pelarasan antara murid: 54-76 mm; dua rasuk membelah nisbah: 100:0, 0:100 |
| Mod Pemerhatian | ★ Medan terang / Medan gelap / Cahaya Polarisasi / DIC (perkakasan DIC adalah pilihan) |
| Sistem Pencahayaan | Sistem pencahayaan jatuh-cahaya pantulan dipantulkan, input voltan lebar 100-240V, boleh laras filamen tengah, keamatan cahaya boleh laras berterusan. |
| Berdiri | ① Rak pantulan pantulan dwi guna; mekanisme pemfokusan kasar-halus sepaksi kedudukan rendah tangan.
Lejang pelarasan kasar: 33 mm; ketepatan pelarasan halus: 0.001 mm. Dilengkapi dengan penguncian dan pengehadan
peranti. ② Pemantul medan terang & medan gelap dengan hentian apertur berubah, hentian medan dan pemasangan pusat boleh laras. ③ Penapis gangguan dan plat imbangan warna (cahaya putih) untuk laluan optik cahaya pantulan. ④ Peranti pensuisan medan terang-gelap; slot untuk penapis warna dan aksesori polarisasi. |
| Peringkat Mekanikal | Peringkat mekanikal manual 4 inci. Dimensi pentas: 230 mm × 215 mm; Perjalanan X-Y: 105 mm × 105 mm. kaca plat pembawa spesimen untuk kedua-dua pemerhatian yang dihantar & dipantulkan. |
| Sumber Cahaya | 12V 100W kebuk lampu halogen (cahaya yang dipantulkan); Lampu halogen 12V 100W (cahaya dihantar). |
| Fungsi Polarisasi | Soket polarizer 30 darjah (cahaya yang dipantulkan); Soket penganalisis boleh putar 360° untuk cahaya terpolarisasi pemerhatian. |
| Cermin mata | Dua kanta mata bidang pelan sudut lebar PL10X/22 mm dengan diopter boleh laras (satu kanta mata dengan reticle skala). |
| batang hidung | ★ lubang hidung objektif lima lubang medan terang-gelap |
| Fungsi DIC | Fungsi perbezaan-gangguan-kontras; Aksesori papan sisipan DIC adalah pilihan dan tidak disertakan dalam konfigurasi standard. |
| Antara Muka Elektronik | Antara muka kamera 0.5X C-mount, fokus boleh laras; CTV 1X adalah pilihan dengan pampasan perbezaan harga. |
| Objektif Metalurgi | ★ Objektif metalurgi separa musnah medan terang-gelap ① OLIPBD5NCA-DIC 5X/0.15, Berfungsi Jarak: 9.00 mm × 1pc ② OLIPBD10NCA-DIC 10X/0.30, Jarak Kerja: 9.00 mm ×1pc ③ OLIPBD20NCA-DIC 20X/0.45, Jarak Kerja: 3.40 mm ×1pc ④ OLIPBD50NC 50X/0.55, Jarak Kerja: 7.50 mm ×1pc ⑤ OLIPBD100NC 100X/0.80, Jarak Kerja: 2.10 mm (pilihan, tidak termasuk dalam pakej standard) |
| Pembesaran Optik | 50X, 100X, 200X, 500X (boleh tukar empat peringkat) |
| Pembesaran Elektronik | lebih kurang 190X, 380X, 760X, 1900X (boleh tukar empat peringkat); julat pembesaran pilihan: 380-3800X. |
Mikroskop GAOPIN digunakan oleh perusahaan terkemuka, institut penyelidikan dan universiti. Kerjasama kami perhubungan termasuk:
ZTE Optoelektronik Technology Co., Ltd. – Ujian-komponen-optoelektronik & analisis kegagalan
Universiti Xi'an Jiaotong – Pemerhatian-percubaan-bahan-bahan & ketepatan-optik
Institut Optik dan Mekanik Halus Shanghai, CAS – Penyelidikan-optik lanjutan & pencirian-komponen optik
Universiti Perdagangan Tianjin – Pengajaran makmal bahan, pengimejan mikro & pengarkiban data eksperimen
Institut Seramik Shanghai, CAS – Analisis mikro seramik bukan organik & bahan tenaga baharu
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Pengesanan dimensi & mikro-cacat untuk bahagian-mesin ketepatan
A1: Dilengkapi dengan antara muka HDMI, USB3.0 dan WIFI. Ia menyokong paparan monitor terus dan PC berwayar / wayarles sambungan untuk pengesanan kolaboratif.
A2: Ia menyokong rakaman foto dan video ultra-HD 4K. Fail boleh disimpan ke cakera U berformat FAT32 dalam 32 GB kapasiti atau storan komputer. Menyokong pengukuran tepat pada skrin dan perisian PC, dengan penjimatan data dan fungsi laporan-eksport.
A3: Periksa bekalan kuasa dan penyesuai yang sepadan; kencangkan kabel HDMI dengan kuat dan tukar monitor untuk membetulkan sumber isyarat; mulakan semula peranti untuk menyelesaikan masalah skrin hitam, tiada imej dan skrin berkelip.
A4: Model ini menyokong autofokus perkakasan dan mod dwi fokus manual. Anda boleh mendayakan autofokus untuk pengimejan pantas atau memperhalusi secara manual. Kunci kanta objektif dengan kuat, letakkan sampel rata, bersihkan habuk kanta dan cap jari secara kerap untuk mendapatkannya tajam pengimejan.
A5: Ia menyokong sambungan PC wayarles berwayar USB dan WIFI. Pasang perisian-pengukuran-rasmi, lumpuhkan tembok api atau program pemintasan, sambung semula perkakasan dan mulakan semula perisian untuk pengecaman biasa.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. telah diasaskan secara rasmi pada tahun 2011. Pasukan pengasas kami terkumpul kaya pengalaman-instrumen-pemeriksaan- optikal mulai tahun 2005. Kami menyampaikan perkhidmatan-kitaran-penuh meliputi reka bentuk produk, R&D dalaman, jualan global dan perkhidmatan penyelenggaraan selepas jualan yang komprehensif. kami pasukan kejuruteraan mahir mempunyai lebih daripada sepuluh tahun pengalaman dalam pembangunan alat optik untuk memastikan prestasi-teknikal yang stabil dan kualiti produk yang boleh dipercayai.
GAOPIN membekalkan lebih daripada seratus kategori penyajian instrumen ujian optik pelanggan industri dan makmal seluruh dunia. Kami membangunkan penyelesaian mikroskop tersuai yang fleksibel dan kos efektif untuk pelbagai-industri-kualiti-kawalan dan makmal-analisis-projek.
Untuk pembeli di luar negara, kami menyediakan sokongan teknikal di seluruh dunia yang responsif termasuk perundingan dalam talian jauh, video-tutorial amali dan latihan-operasi-peralatan-jauh-langsung. Kemudahan pengeluaran kami terletak di Kunshan, Wilayah Jiangsu (berdekatan dengan Shanghai). Lawatan di tapak kilang dan lawatan maya dalam talian dialu-alukan. Sila hubungi kami pasukan jualan untuk gambar-ujian-sampel-tulen yang ditangkap oleh Mikroskop Metalurgi Pemeriksaan Wafer ini dengan 4K Ultra HD dan Autofokus untuk menilai prestasi pengimejan sebenar.
Alamat
Bangunan 2, Pusat Perniagaan Antarabangsa Shuanglian, Bandar Huaqiao, Bandar Kunshan, China
Tel
E-mel
