Dibangunkan untuk pemeriksaan mikro bahan, Mikroskop Metalurgi Analisis Logam dengan 4K Ultra HD ini ialah Metalurgi Analisis Logam berprestasi tinggi Mikroskop dengan 4K Ultra HD. Mempunyai optik yang diperbetulkan infiniti premium, ia memberikan visual yang jelas untuk kedua-dua telus dan legap sampel. Reka bentuk modular menyokong peningkatan pasca jualan yang fleksibel bagi fungsi medan terang dan cahaya terkutub. diperkukuh casis anti-getaran menghilangkan pengimbangan imej di bawah pembesaran tinggi. Kawalan mesra pengguna dan pentas yang luas membolehkan ujian berterusan jangka panjang. Modul gabungan yang boleh dipilih mengurangkan kos penggantian seluruh mesin, sesuai untuk kerja pemeriksaan industri dan analisis metalurgi profesional.
Kamera 4K disepadukan dengan bingkai metalurgi trinokular, membolehkan kanta mata dan paparan skrin serentak. Dwi-output port: HDMI & Gigabit-LAN untuk tangkapan imej mikro ultra-jelas masa nyata.
Pembesaran optik 50-600 ×, pembesaran digital maksimum 4560 × dengan zum objektif empat kelajuan. Ketepatan laluan optik menangkap butiran mikro kecil semikonduktor, serbuk dan spesimen gentian.
Tapak aluminium tuang yang tebal menjamin pengagihan berat yang seimbang, bebas daripada goyangan atau anjakan semasa tempoh yang lama pemeriksaan hirisan dan analisis bahan.
Susun atur trinokular putih-biru minimalis, estetika makmal profesional untuk makmal penyelidikan dan perindustrian bengkel kawalan kualiti.
Sangat sesuai untuk ujian semikonduktor-wafer, analisis logam-logamografi, pemerhatian serbuk dan gentian, penyelidikan universiti dan ujian kualiti komponen.
Menyokong tangkapan foto & video 4K asli. Mod pengukuran dwi: pengukuran pada monitor terbina dalam dan berasaskan perisian PC pengukuran. Storan dwi: Storan tempatan pemacu kilat USB + pengarkiban perisian PC. Susun kedalaman medan dan jahitan imej tersedia melalui perisian PC; antara muka pembangunan menengah disokong untuk memudahkan pengarkiban imej, perbandingan dan analisis data lanjutan.
Tontonan binokular & pemerhatian elektronik segerak:Paparan disegerakkan antara kanta mata dan pantau. Mikroskop metalurgi biasa hanya menyokong tontonan kanta mata sahaja; aksesori kamera tambahan ialah diperlukan untuk output skrin.
Pengimejan definisi ultra tinggi 4K asli:Menyampaikan resolusi 3840 × 2160 4K. Paling konvensional mikroskop metalurgi dihadkan kepada resolusi 1080P.
Antara muka dwi-output:Port rangkaian HDMI + Gigabit-LAN. Peranti metalurgi tradisional kebanyakannya hanya mempunyai sambungan PC-USB, tidak mempunyai keupayaan penghantaran rangkaian.
Mod pengukuran dwi:Pengukuran pada monitor terbina dalam luar talian serta pengukuran berasaskan perisian PC. Mikroskop metalurgi biasa hanya menyokong ukuran sisi PC tanpa fungsi pengukur tertanam perkakasan.
Mod storan dwi:Storan pemacu kilat USB luar talian dan storan perisian PC; menyimpan data dengan atau tanpa PC hos. Model konvensional memerlukan PC untuk penyimpanan imej.
Fungsi pemprosesan imej lanjutan pada PC:Fungsi susun kedalaman medan dan jahitan imej tersedia melalui perisian PC sokongan. Mikroskop metalurgi am tidak mempunyai fungsi algoritma sedemikian.
Pembangunan menengah disokong:Gigabit-LAN membolehkan penyepaduan sistem untuk penggunaan talian pengeluaran automatik. Mikroskop metalurgi am tidak boleh menyokong pembangunan sekunder integrasi.
Laluan optik boleh dikembangkan modular:Menyokong penambahan cahaya terpolarisasi dan modul pemerhatian lain tanpa menggantikan keseluruhan unit. Mikroskop digital biasa tidak mempunyai laluan optik metalurgi khusus dan tidak boleh perhatikan struktur logam-mikro halus.
Mengguna pakai penderia pengimejan industri 3840 × 2160 4K asli dan ditentukur dengan metalurgi standard kebangsaan slaid penentukuran, peranti mencapai pemulihan kesetiaan tinggi morfologi mikroskopik seperti bijirin logam struktur, tekstur mikro semikonduktor-wafer, bentuk serbuk-zarah dan ciri-ciri gentian-tisu. Ia sedar definisi pengimejan medan penuh seragam tanpa kabur persisian atau pengecilan isyarat.
Dilengkapi dengan sistem pembesaran boleh ubah objektif empat peringkat, instrumen ini meliputi pembesaran total julat daripada 380-4560 ×. Ia memenuhi keperluan dwi-aplikasi: pengimbasan pandangan penuh makroskopik berkuasa rendah dan analisis halus mikroskopik kuasa ultra tinggi, terpakai sepenuhnya untuk penyelidikan saintifik universiti, analisis bahan dan pemeriksaan kualiti berketepatan tinggi industri.
Modul pengukuran metalurgi profesional tertanam menyokong pengiraan dimensi ketepatan tinggi dan masa nyata anotasi grafik. Ia menyepadukan syot kilat definisi tinggi satu klik dan rakaman video dinamik yang lama fungsi. Semua data pemeriksaan dan fail imej menyokong eksport dan pengarkiban kekal, menyediakan sokongan data yang sah untuk akademik- laporan-eksperimen dan sistem-kebolehkesanan-kualiti-industri.
Tiub optik trinokular profesional merealisasikan pemerhatian kanta mata optik segerak dan pengimejan paparan digital. Sistem pencahayaan-pancaran-dan-dipantul-dwi-laluan adalah serasi dengan spesimen-logam-legap, sampel hirisan-serbuk-serbuk telus dan bahan-bahan semikonduktor-wafer. Paksi XY ketepatan peringkat-pergerakan mekanikal ciri penghantaran ultra-lancar dan ketepatan kedudukan tinggi, membolehkan pengesanan spesimen yang cekap dan tepat.
Semikonduktor & Mikroelektronik:Wafer silikon, kepingan fotolitografi, cip IC, papan PCB, Litar fleksibel FPC. Sasaran pemeriksaan: Litar cip mikro, kecacatan salutan, kecacatan wafer, kecacatan pateri sejuk, litar-calar dan pin-ubah bentuk; amati struktur kepingan mikron di bawah pembesaran maksimum 4560 ×.
Spesimen Logam Metalografik:Kepingan metalografik, aloi keluli, mata gerudi, pemotong penggilingan, perkakasan-cop ketepatan. Sasaran pemeriksaan: Analisis struktur-butiran metalografi, pengecaman-bahan rawatan haba; mengesan cipratan tepi, retak mikro, burr dan kedalaman lelasan.
Sampel Makmal: Serbuk & Serat:Serbuk logam, serbuk kimia, serat karbon, serat tekstil, bahan filem nipis. Sasaran pemeriksaan: Perhatikan zarah-morfologi, serat-tekstur, filem-delaminasi dan struktur-bahan mikro.
Bahagian Optoelektronik & Ketepatan-Plastik:Cip LED, kanta optik, bahagian acuan suntikan, pengedap-gam. Sasaran pemeriksaan: Kesan liang mikro, kotoran permukaan, tepi kasar, gam-gelembung & kecil kosmetik-kecacatan.
Komponen Miniatur Ketepatan Tinggi:Penyambung, terminal, mata air mikro, bahan kerja bercop kecil. Sasaran pemeriksaan: Perhatikan celah-celah kecil dan kerataan kelim; melaksanakan tahap piksel ukuran panjang, diameter lubang dan pic dengan tepat.
Arkib QC Makmal & Perindustrian:Eksperimen-penyelidikan-bahan, masuk-&-barang-siap pensampelan-pemeriksaan; pengarkiban foto-&-video untuk rekod bukti-cacat dan eksport QC pengukuran formal laporan.
Pembesaran optik maksimum 600 × dan pembesaran digital sehingga 4560 × dengan resolusi asli 3840 × 2160 4K. Ia dengan jelas memaparkan struktur kecil seperti butiran logam, tekstur wafer, salutan ultra-nipis dan retakan mikro, sesuai untuk analisis standard tinggi cip, bahan baharu dan bahagian saduran elektrik.
Penyelesaian dua ukuran: pengukuran pada monitor terbina dalam pantas, pengukuran profesional ketepatan tinggi melalui perisian PC. Kaedah dua storan: pemacu kilat USB penjimatan setempat dan pengarkiban kelompok PC untuk imej & data ukuran.
Laluan optik segerak trinokular membolehkan tontonan serentak melalui kanta mata binokular dan monitor 4K. Pengendali berbilang boleh menyemak sampel mikro yang sama bersama-sama, sesuai untuk pengajaran bahan universiti dan QC-double-re-check dan R&D-pasukan-perbincangan untuk mengurangkan salah pertimbangan.
Peringkat metalurgi profesional dengan pelbagai objektif sesuai dengan spesimen logam, salutan PCB, cip semikonduktor, kepingan mineral dan bahan filem nipis. Pemfokusan manual kasar dan halus sepaksi dengan badan anti-getaran berat, stabil untuk pemeriksaan-masuk, penyelidikan-bahan-baru dan analisis-makmal-statik-panjang.
Dilengkapi dengan port Gigabit-LAN, menyokong penghantaran imej rangkaian dan dok pembangunan sekunder. Sesuai untuk projek-projek integrasi stesen-makmal-berbilang stesen dan stesen kerja-kilang automatik.
Penghantaran pembungkusan neutral disediakan atas permintaan.
| Entiti | Penerangan |
| produk | GP-L300-324K Mikroskop Metalurgi Analisis Logam dengan 4K Ultra HD |
| kategori | Mikroskop Pemeriksaan & Pengukur Metalografi Kuasa Tinggi 4K Trinokular Gred Penyelidikan Industri |
| Teknologi Teras | Sistem optik pemerhatian segerak trinokular, metalurgi khusus berkuasa tinggi kumpulan kanta objektif, Sensor pengimejan CMOS definisi tinggi 4K, enjin pengukuran dwi-digital (pada skrin & perisian PC), HDMI + Gigabit-LAN dwi-saluran-penghantaran-isyarat, dwi-teknologi storan, kedalaman-medan bahagian PC menyusun & algoritma jahitan imej, seni bina terbuka yang menyokong pembangunan sekunder |
| Spesifikasi Utama | Pembesaran visual: 50/100/400/600 ×; Pembesaran elektronik: 380/760/3040/4560 ×; Dwi-output pelabuhan: HDMI + Gigabit-LAN; Resolusi tangkapan: 3840 × 2160 (4K); Pemfokusan manual; Mod-dwi-ukuran: terbina dalam pada-peranti-ukuran + profesional-PC-perisian-ukuran *(0.001 mm, Toleransi ukuran yang lebih kecil boleh jadi dicapai di bawah pembesaran yang lebih tinggi. Keputusan tertakluk kepada penentukuran, pembesaran dan sampel syarat)*; Storan dwi: Storan tempatan pemacu kilat USB *(Pemacu kilat USB berformat FAT32 sahaja sehingga 32 GB disokong)* + penyimpanan fail komputer; Terminal-monitor menyokong pratonton-imej HD, ukuran-dimensi, foto-&- tangkapan video; Terminal PC menyokong pengukuran, susun kedalaman medan, jahitan imej dan pengarkiban imej, serasi dengan integrasi-pembangunan menengah |
| Aplikasi Biasa | Pemeriksaan-wafer-separakonduktor, analisis-struktur-logam-logamografi, serbuk-&-struktur-mikro gentian- pengesanan, pemeriksaan bijirin aloi, ujian ketebalan salutan bahan, analisis keratan rentas PCB, analisis-kegagalan-komponen-elektronik ketepatan, makmal-universiti-penyelidikan-bahan-baharu, kawalan-kualiti-bahan-tenaga-baru |
| Pengeluar | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Lokasi Pengeluar | Kunshan, Jiangsu, China (berhampiran Shanghai) |
| Jenama produk | GAOPIN |
| Model Produk | GP-L300-324K |
| Resolusi | 3840 × 2160 |
| Piksel Berkesan | 8.3-megapiksel |
| Kaedah memfokuskan | Fokus manual |
| Format optik sensor | 1/1.7" |
| Saiz piksel | 1.85 μm × 1.85 μm |
| Antara muka keluaran | HDMI + Gigabit-LAN |
| Pengenalan fungsi terperinci yang sepadan dengan setiap antara muka keluaran | ① HDMI boleh menyambung ke paparan 4K, program pemprosesan imej profesional terbenam, menyepadukan fungsi
seperti autofokus, rakaman foto, ukuran saiz, main balik imej, perbandingan imej, dsb., dengan
operasi tetikus masa nyata. ② Port LAN Gigabit Ethernet, yang boleh disambungkan ke penghala, suis, atau komputer untuk penghantaran rangkaian imej video. Komputer dalam segmen rangkaian yang sama boleh pada masa yang sama menghantar imej dalam masa nyata melalui perisian pemprosesan imej dan melaksanakan fungsi seperti itu sebagai mengambil gambar dan menyimpannya. |
| Kadar bingkai | HDMI: 60 fps @3840 × 2160 Gigabit-LAN: 20 fps @1920 × 1080 |
| Susunan kedalaman medan | Tersedia melalui perisian PC sahaja |
| Jahitan imej | Tersedia melalui perisian PC sahaja |
| Operasi pengukuran | Sistem pengukuran pada monitor terbina dalam + pengukuran berasaskan perisian PC |
| Ketepatan pengukuran | 0.001 mm |
| Unit ukuran | mm / μm / mil / inci (boleh tukar 4 arah) |
| Alat ukuran | Panjang, sudut, jejari, bulatan, poligon, poligaris, jarak pusat ke tengah, segi empat tepat, anotasi, pengesanan tepi automatik, bar skala |
| Kaedah penyimpanan | Pemacu kilat USB + storan perisian PC |
| Mod penamaan imej | Penamaan fail imej automatik atau manual |
| Bahasa paparan | Bahasa Cina Ringkas / Inggeris (boleh ditukar) |
| Pemproses | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max.1.4 GHz pemproses kawalan utama |
| OS perisian tegar | Sistem pengukuran yang dibangunkan secara bebas dibina pada kernel Linux 3.1 |
| Ketua pemerhatian | Tiub cerapan trinokular condong 30°, boleh putar 360°, jarak antara murid boleh laras (53-75 mm) |
| Kaedah pemerhatian | Medan terang / pencahayaan serong / pencahayaan-transmisi / polarisasi mudah |
| Sistem pencahayaan | Sistem pencahayaan dwi-laluan dipantulkan & dihantar, voltan lebar 100-240 V; boleh laras pusat filamen, keamatan cahaya boleh laras berterusan |
| Rangka kerja berdiri | ① Rangka dua tujuan untuk penghantaran dan pantulan, kedudukan tangan rendah kasar dan sepaksi mikro
memfokuskan
mekanisme. Pemfokusan sepaksi mikro kasar, dilengkapi dengan peranti pengunci dan pengehad, nilai grid mikro:
2um. Pencahayaan lampu halogen. ② Pemantul medan terang dengan hentian apertur berubah, hentian medan dan peranti penukaran penapis warna. ③ Konfigurasikan penapis biru dan helaian kaca beku untuk pantulan. |
| Platform mudah alih | Tahap pergerakan mekanikal dua lapisan; saiz pentas: 210 × 140 mm; Lejang X-Y: 75 × 50 mm; pentas kaca untuk pemerhatian yang dihantar & dicerminkan |
| Sumber cahaya | Lampu halogen 6V-30W untuk cahaya pantulan; Lampu halogen 12V-50W untuk cahaya dipancarkan |
| Polarisasi mudah | Sisipan polarizer 30° (cahaya pantulan) + sisipan penganalisis boleh putar 360° untuk pemerhatian terpolarisasi |
| Antara muka elektronik | 1X antara muka C-mount, fokus tidak boleh laras [Pilihan: 0.5X C-mount untuk pampasan harga] |
| kanta mata | Dua kanta mata bidang rata sudut lebar WF10X/22 mm (satu kanta mata dengan tanda skala) |
| Kanta objektif metalurgi | ★ Kanta objektif akromatik medan rata tak terhingga ① PL L5X/0.12 jarak kerja: 26.1 mm setiap sekeping; ② PL L10X/0.25 jarak kerja: 20.2 mm 1 keping ③ PL L40X/0.60 jarak kerja: 3.98 mm setiap sekeping; ④ PL L60X/0.70 jarak kerja: 3.18 mm 1 keping ⑤ PL L100X/0.85 jarak kerja: 0.40 mm 0 keping [standard tidak termasuk pilihan] |
| Pembesaran optik | 50 ×, 100 ×, 400 ×, 600 × empat peringkat boleh laras |
| Pembesaran elektronik | lebih kurang 380 ×, 760 ×, 3040 ×, 4560 × empat peringkat boleh laras (boleh dikembangkan kepada 190-2280 ×) |
Mikroskop GAOPIN digunakan oleh perusahaan terkemuka, institut penyelidikan dan universiti. Kerjasama kami perhubungan termasuk:
Institut Optik dan Mekanik Halus Shanghai, CAS – Penyelidikan-optik lanjutan & pencirian-komponen optik
DOOV – Pemeriksaan-pemasangan-peranti-mudah alih, skrin & ujian-penampilan komponen
NIO Shanghai – Pemeriksaan ketepatan untuk bahagian auto-tenaga baharu & pemasangan abah-abah pendawaian
Institut Teknologi Beijing – Analisis-penyelidikan saintifik untuk bahan gred tentera dan peranti optoelektronik
Perkakas Elektrik GREE (Hefei) – Pengukuran dimensi ketepatan & pemeriksaan kecacatan untuk komponen perkakas rumah
Institut Teknikal Fizik dan Kimia, CAS – Penyelidikan mikroskopik pada suhu rendah & bahan-fungsi khas
Objektif & kanta mata:Tiup debu dengan blower udara, kemudian lap kanta perlahan-lahan dengan kertas kanta dan pembersih kanta. Jangan sekali-kali menyentuh kanta optik dengan tangan kosong atau gunakan tuala kertas biasa untuk pembersihan.
Badan & Pentas Utama:Kosongkan serpihan sampel dan serbuk metalurgi dengan segera. Lap perumahan dengan a kain lembut kering; elakkan percikan cecair. Periksa dengan kerap bahawa skru pentas ketat untuk mengelakkan peralihan yang disebabkan oleh perlanggaran.
Sumber Cahaya Dihantar & Dipantulkan:Matikan sumber cahaya apabila mikroskop melahu. tiup habuk dari tingkap lampu dan jangan sentuh mentol secara langsung.
Mekanisme Fokus Mekanikal:Jangan putar roda tangan fokus dengan daya yang berlebihan. Teruskan meluncur trek bersih; jangan sekali-kali melincirkan mereka sendiri.
Persekitaran Storan:Simpan di dalam ruang yang kering dan berventilasi baik untuk menahan kelembapan dan acuan. menutupi peranti dengan penutup habuk selepas digunakan.
Perisian & Penentukuran:Kalibrasi skala ukuran sebelum melakukan pengukuran. Dekat sepenuhnya perisian yang berkaitan sebelum memutuskan kuasa. Jangan buka unit tanpa kebenaran; kenalan sokongan perkhidmatan selepas jualan sekiranya berlaku kerosakan.
A1: Pembesaran visual: 50-600 ×; Pembesaran elektronik: 380-4560 ×. Tontonan segerak melalui kanta mata dan pantau tersedia.
A2: Ia menyokong output video HDMI dan port Gigabit-LAN. Ia boleh menyambung terus ke memantau, atau mengakses kamera melalui Rangkaian LAN dengan komputer.
A3: Resolusi tangkapan: 3840 × 2160 (4K). Ia menyokong pengukuran pada skrin terbina dalam dan berasaskan perisian PC pengukuran. Fail boleh disimpan ke pemacu kilat USB atau melalui perisian PC.
A4: ①Periksa bekalan kuasa untuk mikroskop; ②Pastikan kabel HDMI disambungkan dengan kukuh; ③Pilih sumber input HDMI yang betul dihidupkan memantau; ④Mulakan semula hos mikroskop.
A5: ①Sambungkan kabel rangkaian antara peranti dan suis / PC; ②Tetapkan PC-IP kepada segmen rangkaian yang sama seperti kamera; ③Pusing dimatikan PC-firewall; ④Sahkan tetapan peranti-IP dan sambung semula.
A6: Model ini menggunakan reka bentuk fokus manual. Putar roda tangan fokus dengan perlahan. Pastikan klik kanta objektif di tempatnya. Letakkan sampel habuk rata dan bersih pada kanta objektif.
A7: Gunakan pemacu kilat USB berformat FAT32 dalam kapasiti 32 GB. Masukkan semula atau format pemacu kilat USB untuk cuba semula.
J8: Ya, pembangunan menengah disokong. Sesuai untuk analisis metalografi, bahan logam, serbuk metalurgi, semikonduktor-komponen-pemerhatian, saintifik-penyelidikan dan pengajaran-senario.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., ditubuhkan pada 2011 yang pengasasnya telah mengumpul kepakaran industri sejak 2005, adalah sebuah perusahaan tertumpu teknologi yang mengkhusus dalam reka bentuk, R&D, jualan dan perkhidmatan selepas jualan industri mikroskop. Pasukan kejuruteraan teras kami membawa lebih sepuluh tahun pengalaman khusus, memastikan teknologi matang dan kualiti yang boleh dipercayai. Dengan lebih daripada seratus model produk optik dan pangkalan pelanggan global, GAOPIN secara berterusan memberikan penyelesaian mikroskopi yang dibuat khusus dan kos efektif. Kami menyediakan sokongan teknikal global tindak balas pantas melalui persidangan dalam talian, bimbingan berbantukan video dan sesi latihan jarak jauh. Pangkalan pembuatan kami terletak di Kunshan, Wilayah Jiangsu (berdekatan dengan Shanghai). Kedua-dua pemeriksaan kilang di tapak dan lawatan loji maya tersedia untuk pelanggan. Sila hubungi kami untuk mendapatkan contoh imej ujian yang ditangkap oleh GP-L300-324K Analisis Logam Metalurgi ini Mikroskop dengan 4K Ultra HD untuk menilai prestasi pengimejan secara langsung.
Alamat
Bangunan 2, Pusat Perniagaan Antarabangsa Shuanglian, Bandar Huaqiao, Bandar Kunshan, China
Tel
E-mel
