Mikroskop Metalurgi GP-L600-300C untuk Pemeriksaan Wafer ialah Mikroskop Metalurgi Pemeriksaan Wafer yang direka khas untuk struktur mikro bahan pemeriksaan. Dilengkapi dengan sistem optik cahaya pantulan resolusi tinggi dan fungsi gangguan pembezaan DIC, ia menjana imej pelega stereo untuk memerhati struktur bijian, retak, kemasukan dan lapisan salutan logam, aloi, semikonduktor dan bahan lain. Dengan kamera industri terbina dalam, ia menyokong tangkapan imej dan pada monitor pengukuran; penilaian saiz bijian tersedia dengan perisian sokongan pilihan. Digunakan secara meluas dalam kawalan kualiti, senario-analisis kegagalan dan bahan-sains-penyelidikan.
Mikroskop Metalurgi untuk Pemeriksaan Wafer ini sesuai untuk pemerhatian mikroskopik struktur mikro metalografi dan morfologi permukaan. Ia berfungsi sebagai alat penyelidikan yang ideal untuk metalurgi, mineralogi dan disiplin kejuruteraan ketepatan.
1. Tontonan binokular ditambah pemerhatian elektronik segerak:Pandangan kanta mata dan paparan monitor bekerja secara serentak. Mikroskop metalurgi biasa hanya menyokong pemerhatian kanta mata; aksesori kamera tambahan diperlukan untuk output skrin.
2. Badan mekanikal berketepatan tinggi:Struktur mekanikal tegar dengan laluan optik yang stabil, sesuai untuk kerja semikonduktor dan analisis bahan. Mikroskop metalurgi konvensional memberikan mekanikal yang lebih rendah ketepatan.
3. Output HDMI terus:Output imej masa nyata untuk memantau melalui kabel HDMI. Metalurgi am mikroskop memerlukan kamera berasingan dan kad tangkapan untuk output imej.
4. Pengukuran luar talian pada monitor:Pengukuran dimensi boleh diselesaikan terus pada monitor tanpa sambungan PC. Mikroskop metalurgi biasa bergantung secara eksklusif pada pengukuran perisian PC.
5. Storan cakera U luar talian:Simpan foto dan video pada cakera U tanpa komputer. tradisional model mesti disambungkan ke PC untuk penjimatan imej.
6. Laluan optik metalurgi khusus:Dioptimumkan untuk bijirin logam, salutan, semikonduktor dan pemeriksaan metalografik. Mikroskop digital biasa kekurangan laluan optik khusus ini dan tidak dapat dilihat struktur metalografik.
Kamera HD terbina dalam perumahan trinokular untuk tontonan serentak melalui kanta mata dan monitor. Imej mikro masa nyata HDMI output menggabungkan aliran kerja pemerhatian dan rakaman.
Menyokong pemerhatian DIC, medan terang, medan gelap dan cahaya terkutub. Pembesaran 4 langkah, optik 50-500X, maks digital pembesaran sehingga 1900X, memberikan butiran yang tajam untuk pemeriksaan ciri mikro.
Tombol fokus dwi yang dipasangkan dengan pemasangan tong-lensa yang diperkukuh membolehkan pemfokusan yang mantap dan meminimumkan gegaran imej.
Badan logam bersepadu tebal dan pendakap pentas dengan pusat graviti yang rendah, mengekalkan prestasi yang stabil untuk jangka masa panjang pemerhatian makmal.
Struktur logam tegar serba putih minimalis dengan susun atur optik modular, sangat sesuai untuk makmal dan penyelidikan institut.
Ideal untuk pemeriksaan wafer, analisis metalografik, pencirian struktur mikro bahan, penyelidikan akademik dan kerja penilaian kualiti ketepatan.
Tangkapan foto & video 1080P, pengukuran pada monitor terbina dalam, storan cakera U. Imej digital memudahkan pengarkiban fail, perbandingan dan analisis pasca eksperimen.
Mekanik:Pembinaan logam penuh untuk ketegaran tinggi dan rintangan getaran. Ketepatan pemfokusan kasar-halus tanpa tindak balas. Peringkat mekanikal XY manual ketepatan tinggi dengan haus rendah dan minimum pelepasan. Laluan optik trinokular mengekalkan penjajaran bersama optik semasa pensuisan pembesaran.
Optik:Objektif metalurgikromatik pelan yang diperbetulkan infiniti dengan salutan keras anti-kabut. Pencahayaan lampu halogen 12V-100W dipantulkan dipancarkan.
Pengimejan dan Pengukuran:Kamera HDMI 1080P gred industri dengan anti-gangguan yang sangat baik prestasi, sesuai untuk operasi persekitaran industri. Pengukuran dilakukan melalui perisian tegar pada paparan.
Persekitaran Operasi:Suhu kerja 10-35 ℃, kelembapan relatif 30-75% RH. Prestasi stabil di bawah persekitaran elektromagnet kilang biasa. Elakkan getaran berat, gas menghakis dan habuk berat.
Kualiti & Penyelenggaraan:Pemeriksaan kilang item penuh. Jangan buka modul optik. Biasa pembersihan kalis habuk akan memanjangkan hayat perkhidmatan.
Semikonduktor & Mikroelektronik (Aplikasi Teras DIC):
Wafer silikon, kepingan litografi, cip IC, PCB, litar fleksibel FPC, sambungan pateri, komponen pembungkusan.
Sasaran pemeriksaan: topografi permukaan cip, corak pengetsa wafer, calar nano, sambungan pematerian sejuk,
pengoksidaan dan ubah bentuk pin. Differential-interference-contrast (DIC) menyerlahkan perbezaan ketinggian permukaan yang halus
untuk cerapan hirisan litar mikro dalam julat pembesaran 190-1900×.
Spesimen Logam Metalografik:
Bahagian metalografi aloi, keluli, perkakasan logam bercap ketepatan.
Sasaran pemeriksaan: struktur butiran logam, analisis rawatan haba, retak permukaan mikro, serpihan tepi, burr halus,
memakai kesan dan kekotoran bahan dalaman. Mod medan terang / medan gelap / cahaya terkutub tersedia untuk logam
pemerhatian struktur kristal.
Sampel Penyelidikan Makmal: Kristal, Serbuk, Serat & Filem Nipis:
Kristal kimia, serbuk logam, gentian karbon, gentian tekstil, filem salutan optik.
Perhatikan morfologi hablur, garis besar zarah, delaminasi filem dan tekstur salutan mikro; terkutub-cahaya
mengenal pasti ciri-ciri polarisasi kristal.
Komponen Plastik Kepersisan Optoelektronik:
Cip LED, kanta optik, substrat kaca, gam pembungkus semikonduktor.
Mengesan liang mikro, calar nano, penembusan gam, buih dan ketidaksamaan permukaan halus.
Komponen Miniatur Ketepatan Tinggi:
Penyambung, terminal, pegas mikro, bahan kerja bercop kecil.
Pengukuran tepat aras piksel untuk jurang, diameter lubang, pic dan perbezaan ketinggian permukaan; DIC menggambarkan
kelim-ubah bentuk halus.
Makmal Universiti & QC Semikonduktor Tertinggi:
Eksperimen penyelidikan bahan, pemeriksaan barang masuk wafer, pemerhatian spesimen metalografik; foto-video
mengarkib.
Dilengkapi dengan pengimejan asli 1920*1080 HD. Sesuai untuk pemerhatian metalografik, pemeriksaan semikonduktor asas dan penjanaan laporan makmal-mudah; jelas memaparkan butiran logam dan kecacatan litar kecil.
Reka bentuk fokus manual, sesuai untuk sampel makmal statik dan penggantian bahan kerja frekuensi rendah. Fokus yang stabil struktur dengan penalaan halus yang tepat untuk pemerhatian sampel statik terperinci.
Tahap pergerakan manual standard dan laluan optik metalurgi trinokular menegak untuk spesimen logam, kepingan cip dan PCB bersaiz sederhana kecil, dengan berkesan menekan silau reflektif untuk pemeriksaan metalografi asas.
Julat dwi-pembesaran: Pembesaran optik 50-500X, pembesaran digital 190-1900X. Meliputi kedua-dua spesimen penuh gambaran keseluruhan dan mikro-butiran / mikro-kecacatan pemeriksaan.
Fungsi pengukuran pada peranti terbina dalam, output masa nyata HDMI, cakera U untuk menyimpan foto pemeriksaan dan pengukuran data, untuk tujuan asas-makmal-pengarkiban.
Penghantaran pembungkusan neutral disediakan atas permintaan.
| item | Penerangan |
| produk | Mikroskop Metalurgi Pemeriksaan Wafer GP-L600-300C |
| kategori | Mikroskop Metalurgi Trinokular Gred Penyelidikan Makmal, menyokong gangguan pembezaan DIC, pemerhatian medan terang / medan gelap / terkutub cahaya |
| Teknologi Teras | Sistem optik pandangan segerak trinokular, pencahayaan bersepadu berbilang mod (medan terang, medan gelap, polarizer, DIC perbezaan-gangguan-kontras), ketepatan tinggi profesional metalurgi set kanta objektif, penderia pengimejan HD CMOS, modul pengukuran ketepatan digital terbina dalam, HDMI output video masa nyata, teknologi storan imej tempatan cakera U |
| Spesifikasi Utama | Pembesaran visual: 50/100/200/500×; Pembesaran elektronik: 190/380/760/1900×; Antara muka keluaran: HDMI sahaja; Resolusi tangkapan: 1920*1080; Fokus manual sahaja; Fungsi pengukuran tepat terbina dalam; U-cakera penyimpanan; Terminal-monitor menyokong pratonton imej HD, tangkapan foto dan rakaman video; Pemerhatian mod termasuk gangguan-perbezaan, medan terang, medan gelap, cahaya terkutub. |
| Aplikasi Biasa | Analisis-kegagalan-wafer-separakonduktor, pengujian-logam-bahan-logam, salutan-filem-nipis- mikrostruktur-pemerhatian, ketepatan-semikonduktor-pakej-pemeriksaan, penyelidikan-makmal-bahan baharu, perubatan-biobahan-pemerhatian, mikro-kecacatan-pengesanan untuk komponen elektronik |
| Pengeluar | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Lokasi Pengeluar | Kunshan, Jiangsu, China (bersebelahan dengan Shanghai) |
| Model | GP-L600-300C |
| Resolusi | 1920×1080 |
| Piksel Berkesan Sebenar | 2 Megapiksel |
| Kaedah Pemfokusan | Fokus manual sahaja |
| Format Optik | 1/2" |
| Saiz Piksel | 3.75 μm × 3.75 μm |
| Kaedah Keluaran | HDMI |
| Pengenalan Terperinci untuk Antara Muka Output | ① HDMI bersambung ke paparan serasi 4K. Sokongan perisian tegar pemprosesan imej profesional terbenam rakaman foto, rakaman video, ukuran dimensi, main semula imej dan perbandingan imej, dikendalikan dengan tetikus dalam masa nyata. |
| Kadar Bingkai | HDMI: 60fps @1920*1080 |
| Sintesis Depth-of-Field | / |
| Jahitan Imej | / |
| Kaedah Pengukuran | Sistem pengukuran pada monitor terbina dalam |
| Ketepatan Pengukuran | 0.001 mm |
| Unit Pengukuran | mm / μm / mil / inci (4 unit boleh tukar) |
| Alat Pengukuran | Panjang, sudut, radian, bulatan, poligon, garis poli, jarak pusat ke tengah, segi empat tepat, anotasi menambah, pengesanan tepi automatik, bar skala dan banyak lagi |
| Kaedah Penyimpanan | Storan cakera U |
| Bahasa Paparan | Bahasa Cina Ringkas / Inggeris (boleh ditukar) |
| Pemproses | ARM Cortex-A7 Dual-Core @ Max 1.3 GHz |
| Sistem Operasi | Perisian tegar ukuran yang dibangunkan secara bebas berdasarkan kernel Linux 3.1 |
| Penamaan Imej | Penamaan automatik atau manual tersedia |
| Ketua Melihat | Kepala trinokular jenis engsel condong 30°; julat pelarasan antara murid: 54-76 mm; dua rasuk membelah nisbah: 100:0, 0:100 |
| Mod Pemerhatian | ★ Medan terang / Medan gelap / Cahaya Polarisasi / DIC (perkakasan DIC adalah pilihan) |
| Sistem Pencahayaan | Sistem pencahayaan jatuh-cahaya pantulan dipantulkan, input voltan lebar 100-240V, boleh laras filamen tengah, keamatan cahaya boleh laras berterusan. |
| Berdiri | ① Rak pantulan pantulan dwi guna; mekanisme pemfokusan kasar-halus sepaksi kedudukan rendah tangan.
Lejang pelarasan kasar: 33 mm; ketepatan pelarasan halus: 0.001 mm. Dilengkapi dengan penguncian dan pengehadan
peranti ② Pemantul medan terang & medan gelap dengan hentian apertur berubah, hentian medan dan pemasangan pusat boleh laras. ③ Penapis gangguan dan plat imbangan warna (cahaya putih) untuk laluan optik cahaya pantulan. ④ Peranti pensuisan medan terang-gelap; slot untuk penapis warna dan aksesori polarisasi. |
| Peringkat Mekanikal | Peringkat mekanikal manual 4 inci. Dimensi pentas: 230 mm × 215 mm; Perjalanan X-Y: 105 mm × 105 mm. kaca plat pembawa spesimen untuk kedua-dua pemerhatian yang dihantar & dipantulkan. |
| Sumber Cahaya | Ruang lampu halogen 12V 100W (cahaya yang dipantulkan); Lampu halogen 12V 100W (cahaya dihantar). |
| Fungsi Polarisasi | Soket polarizer 30 darjah (cahaya yang dipantulkan); Soket penganalisis boleh putar 360° untuk cahaya terpolarisasi pemerhatian. |
| Cermin mata | Dua kanta mata bidang pelan sudut lebar PL10X/22 mm dengan diopter boleh laras (satu kanta mata dengan reticle skala). |
| batang hidung | ★ lubang hidung objektif lima lubang medan terang-gelap |
| Fungsi DIC | Fungsi perbezaan-gangguan-kontras; Aksesori papan sisipan DIC adalah pilihan dan tidak disertakan dalam konfigurasi standard. |
| Antara Muka Elektronik | Antara muka kamera 0.5X C-mount, fokus boleh laras; CTV 1X adalah pilihan dengan pampasan perbezaan harga. |
| Objektif Metalurgi | ★ Objektif metalurgi separa musnah medan terang-gelap ① OLIPBD5NCA-DIC 5X/0.15, Berfungsi Jarak: 9.00 mm × 1pc ② OLIPBD10NCA-DIC 10X/0.30, Jarak Kerja: 9.00 mm ×1pc ③ OLIPBD20NCA-DIC 20X/0.45, Jarak Kerja: 3.40 mm ×1pc ④ OLIPBD50NC 50X/0.55, Jarak Kerja: 7.50 mm ×1pc ⑤ OLIPBD100NC 100X/0.80, Jarak Kerja: 2.10 mm (pilihan, tidak termasuk dalam pakej standard) |
| Pembesaran Optik | 50X, 100X, 200X, 500X (boleh tukar empat peringkat) |
| Pembesaran Elektronik | lebih kurang 190X, 380X, 760X, 1900X (boleh tukar empat peringkat); julat pembesaran pilihan: 380-3800X. |
Penafian:Logo dan nama perusahaan, universiti dan institusi penyelidikan dipaparkan pada laman web ini sahaja menunjukkan bahawa entiti tersebut telah membeli atau menggunakan mikroskop jenama GAOPIN. Penampilan mereka tidak boleh ditafsirkan sebagai pembelian model produk yang tepat ini, dan tidak akan membayangkan sebarang sokongan komersial, penjenamaan bersama, gabungan atau perkongsian projek bersama dengan organisasi pihak ketiga ini.
Mikroskop GAOPIN digunakan oleh perusahaan terkemuka, institut penyelidikan dan universiti. Kerjasama kami perhubungan termasuk:
AVIC Optronics Technology Co., Ltd. – Penyambung ketepatan dan pemeriksaan komponen
NIO Shanghai – Pemeriksaan ketepatan untuk bahagian auto tenaga baharu & abah-abah pendawaian
Institut Seramik Shanghai, CAS – Analisis mikro seramik bukan organik & bahan tenaga baharu
ZHENGKUNHANG Industrial MRO Supermarket (Shanghai) Co., Ltd. – Penampilan & pengesahan kualiti mikro untuk bahagian-standard industri
Institut Teknologi Beijing – Analisis-penyelidikan saintifik untuk bahan ketenteraan & peranti optoelektronik
Perkakas Elektrik GREE (Hefei) – Pengukuran dimensi ketepatan dan pemeriksaan kecacatan untuk bahagian perkakas rumah
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. telah diasaskan secara rasmi pada tahun 2011. Pengasas kami memulakan penyelidikan dan pembuatan peralatan-pemeriksaan optik seawal tahun 2005 dan terkumpul pengalaman industri yang banyak. Kami menyampaikan perkhidmatan kitaran penuh meliputi reka bentuk produk, R&D teknikal, jualan global dan penyelenggaraan-selepas-jualan yang menyeluruh. Pasukan kejuruteraan dalaman kami mempunyai lebih sepuluh tahun pengalaman dalam pembangunan sistem optik untuk memastikan stabil prestasi teknikal dan kualiti produk yang boleh dipercayai.
GAOPIN menawarkan lebih daripada seratus kategori instrumen pemeriksaan optik yang berkhidmat untuk industri-dan-makmal- pelanggan di seluruh dunia. Kami menyediakan penyelesaian mikroskop tersuai yang fleksibel dan menjimatkan kos untuk pelbagai industri projek-projek kawalan kualiti dan analisis makmal.
Untuk pembeli luar negara, kami menyediakan sokongan teknikal global tepat pada masanya termasuk perundingan video dalam talian, video-operasi- tutorial dan latihan kemahiran jauh. Kemudahan pembuatan kami terletak di Kunshan, Wilayah Jiangsu (berdekatan dengan Shanghai). Lawatan di tapak kilang dan lawatan maya dalam talian dialu-alukan. Sila hubungi pasukan jualan kami untuk keaslian sampel-pengujian-imej yang ditangkap oleh Wafer Inspection Metallurgical Microscope ini untuk dinilai prestasi-pengimejan sebenar.
A1: Hanya output definisi tinggi HDMI yang dilengkapi. Tiada port USB, WIFI atau LAN. Sambungan komputer tidak disokong; ia berfungsi secara bebas dengan monitor untuk aliran kerja operasi mudah.
A2: Periksa bekalan kuasa dan penyesuai yang sepadan; kencangkan kabel HDMI dengan kuat; tukar monitor untuk membetulkan sumber isyarat HDMI; mulakan semula peranti untuk menyelesaikan kerosakan skrin hitam dan tiada imej.
A3: Ini adalah model fokus manual. Laraskan roda tangan fokus perlahan-lahan untuk mendapatkan pengimejan yang tajam. Kunci kanta objektif dengan kuat, baring sampel rata, dan kerap membersihkan habuk dan kotoran kanta untuk pandangan yang jelas.
A4: Hanya cakera U berformat FAT32 ≤32 GB disokong. Format NTFS dan exFAT tidak serasi. Masukkan semula, format semula atau gantikan dengan cakera U yang mematuhi untuk penjimatan foto dan video biasa.
Alamat
Bangunan 2, Pusat Perniagaan Antarabangsa Shuanglian, Bandar Huaqiao, Bandar Kunshan, China
Tel
E-mel
