Mikroskop Metalurgi Ultra HD GP-L600-324K 4K untuk Pemeriksaan Wafer ialah Mikroskop Metalurgi Pemeriksaan Wafer gred penyelidikan dengan 4K Ultra HD. Ia mengamalkan an sistem optik diperbetulkan infiniti, dengan modul DIC Nomarski pilihan untuk mengesan ketinggian permukaan skala nano variasi. Instrumen ini menyokong pemerhatian medan terang dan cahaya terkutub. Pelabuhan trinokular memudahkan pemasangan dan sambungan kamera dengan perisian analisis metalurgi. Ia sesuai untuk aliran kerja termasuk penyelidikan metalografik, pemeriksaan semikonduktor dan analisis kegagalan bahan.
Mikroskop Metalurgi Ultra HD 4K untuk Pemeriksaan Wafer ini sesuai untuk pemerhatian mikroskopik struktur mikro metalografi dan morfologi permukaan. Ia berfungsi sebagai alat penyelidikan yang ideal untuk metalurgi, mineralogi dan disiplin kejuruteraan ketepatan.
| item | Penerangan |
| produk | Mikroskop Metalurgi Pemeriksaan Wafer GP-L600-324K dengan 4K Ultra HD |
| kategori | Mikroskop metalurgi trinokular gred penyelidikan makmal, serasi dengan gangguan pembezaan DIC, pemerhatian medan terang / medan gelap / terkutub cahaya |
| Teknologi Teras | Sistem optik pandangan segerak trinokular, pencahayaan bersepadu berbilang mod (medan terang, medan gelap, polarizer, DIC perbezaan-gangguan-kontras), profesional berketepatan tinggi metalurgi set kanta objektif, penderia imej CMOS ultra-HD 4K, sistem dwi-ukuran (pada monitor terbina dalam pengukuran + pengukuran perisian PC), penghantaran isyarat dwi-saluran HDMI+Gigabit-LAN, dwi-storan teknologi, seni bina terbuka yang menyokong akses pembangunan sekunder |
| Spesifikasi Utama | Pembesaran visual: 50/100/200/500×; Pembesaran elektronik: 190/380/760/1900×; Dwi-output antara muka: HDMI + port Gigabit-LAN; Resolusi tangkapan 4K: 3840×2160; Fokus manual sahaja; Pengukuran dwi mod: ukuran tepat terbina dalam + ukuran perisian PC yang dipadankan; Mod storan dwi: U-cakera penyimpanan + storan perisian komputer; Terminal monitor: ukuran dimensi, pratonton imej HD, pengarkiban foto; Terminal PC: ukuran dimensi, storan foto; Seluruh unit menyokong dok pembangunan sekunder. |
| Aplikasi Biasa | Analisis-kegagalan-wafer-separakonduktor, pemeriksaan-logam-bahan-logam, salutan-filem-nipis- pemerhatian struktur mikro, ujian pakej semikonduktor ketepatan, makmal bahan lanjutan- penyelidikan, perubatan-biomaterial-pemerhatian, mikro-kecacatan-pengesanan untuk komponen elektronik |
| Pengeluar | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Lokasi Pengeluar | Kunshan, Jiangsu, China (bersebelahan dengan Shanghai) |
Kamera 4K terbina dalam perumahan trinokular untuk tontonan serentak melalui kanta mata dan monitor. Output dwi-port melalui HDMI dan Gigabit-LAN menghantar imej mikro ultra-HD dalam masa nyata.
Menyokong pemerhatian DIC, medan terang, medan gelap dan cahaya terkutub. Pembesaran 4 langkah, optik 50-500X, maks digital pembesaran sehingga 1900X, memberikan butiran yang tajam untuk pemeriksaan ciri mikro.
Tombol fokus sepaksi dwi dipasangkan dengan pemasangan laras kanta yang diperkukuh membolehkan pemfokusan yang mantap dan meminimumkan imej bergegar.
Pendirian logam bersepadu tebal dan pendakap pentas merendahkan pusat graviti, memastikan mikroskop stabil semasa pemeriksaan gred penyelidikan berjam-jam.
Susun atur optik modular dengan badan logam tegar, sangat sesuai untuk makmal, institut penyelidikan dan semikonduktor kemudahan pembuatan.
Dioptimumkan untuk pemeriksaan wafer-dan-cip; juga digunakan secara meluas untuk ujian semikonduktor, analisis metalografi, kerja bahan-penyelidikan dan ketepatan-kualiti-penilaian.
Tangkapan foto & video 4K, mod dwi-ukuran (pada skrin terbina dalam + perisian PC). Dwi-storan melalui U-cakera & komputer. Sintesis kedalaman medan dan fungsi jahitan imej dijalankan secara eksklusif pada perisian PC yang menyokong. Pembangunan menengah ialah disokong melalui port LAN untuk pengarkiban imej, perbandingan dan analisis lanjutan.
1. Mod Pemerhatian Optik:Menyokong optik berbilang mod termasuk DIC, medan terang, medan gelap dan cahaya terkutub untuk pemerhatian tekstur kristal dan salutan. Mikroskop metalurgi biasa hanya menyediakan medan terang asas dan tidak dapat menggambarkan lapisan ultra-nipis dan struktur mikro kristal.
2. Sistem Pengimejan:Kamera ultra-HD 4K asli, tontonan kanta mata-dan-monitor yang disegerakkan. Biasalah mikroskop metalurgi menggunakan kamera 2K definisi rendah, hanya cermin mata dengan pembesaran tinggi yang herot keluaran.
3. Pelarasan Pembesaran:Julat pembesaran empat gear dari 190-1900X, meliputi gambaran keseluruhan makro dan pemeriksaan butiran mikro. Mikroskop metalurgi biasa mempunyai gear pembesaran yang lebih sedikit dan imej kabur pada berkuasa tinggi.
4. Pengukuran & Rakaman:Pengukuran tepat pada monitor terbina dalam dengan rakaman foto-video keupayaan. Mikroskop metalurgi biasa tidak mempunyai ukuran onboard dan memerlukan perisian PC untuk semua analisis dan pengarkiban.
Semikonduktor & Mikroelektronik (Aplikasi Teras DIC):
Wafer silikon, kepingan litografi, cip IC, PCB, litar fleksibel FPC, sambungan pateri, komponen pembungkusan.
Sasaran pemeriksaan: topografi permukaan cip, corak pengetsa wafer, calar nano, sambungan pematerian sejuk,
pengoksidaan dan ubah bentuk pin. Perbezaan-Interference-Contrast (DIC) menyerlahkan perbezaan ketinggian permukaan yang halus
untuk cerapan hirisan litar mikro dalam julat pembesaran 190-1900×.
Spesimen Logam Metalografik:
Bahagian metalografi aloi, keluli, perkakasan logam bercap ketepatan.
Sasaran pemeriksaan: struktur butiran logam, analisis rawatan haba, retak permukaan mikro, serpihan tepi, burr halus,
memakai kesan dan kekotoran bahan dalaman. Mod medan terang / medan gelap / cahaya terkutub untuk kristal logam
pemerhatian struktur.
Sampel Makmal: Kristal, Serbuk, Serat & Filem Nipis:
Kristal kimia, serbuk logam, gentian karbon, filem salutan optik.
Perhatikan morfologi hablur, garis besar zarah, delaminasi filem dan tekstur salutan mikro; terkutub-cahaya
mengenal pasti ciri-ciri polarisasi kristal.
Komponen Optoelektronik & Ketepatan-Plastik:
Cip LED, kanta optik, substrat kaca, gam pembungkus semikonduktor.
Mengesan liang-liang mikro, calar-nano, penembusan gam, buih, kotoran dan ketidaksamaan permukaan halus.
Komponen Miniatur Ketepatan Tinggi:
Penyambung, terminal, pegas mikro, bahan kerja bercop kecil.
Pengukuran tepat aras 4K piksel untuk jurang, diameter lubang, pic dan perbezaan ketinggian permukaan; DIC menggambarkan
kelim-ubah bentuk halus.
Makmal Universiti & QC Semikonduktor Tertinggi:
Eksperimen penyelidikan bahan, pemeriksaan barang masuk wafer, pemerhatian spesimen metalografik; foto-video
mengarkib, mengeksport laporan QC ukuran tepat melalui PC yang disambungkan.
Mekanik:Pembinaan logam penuh untuk ketegaran tinggi dan rintangan getaran. Ketepatan pemfokusan kasar-halus tanpa tindak balas. Peringkat mekanikal XY manual ketepatan tinggi dengan haus rendah dan minimum pelepasan. Laluan optik trinokular mengekalkan penjajaran bersama optik apabila menukar objektif.
Optik:Objektif metalurgikromatik pelan yang diperbetulkan infiniti dengan salutan keras anti-kabut. Pencahayaan lampu halogen 12V-100W dipantulkan dipancarkan.
Pengimejan & Pengukuran:Kamera CMOS industri 8.3-Megapiksel 4K. Dwi-output: HDMI + Gigabit-LAN pelabuhan, prestasi anti-gangguan yang baik untuk kegunaan persekitaran industri. Menyokong pengukuran pada monitor tertanam dan pengukuran perisian PC. Storan dua laluan melalui cakera U dan perisian PC. Sintesis kedalaman medan dan jahitan imej hanya tersedia pada perisian PC. Antara muka pembangunan sekunder tersedia melalui Gigabit-LAN.
Dilengkapi dengan pengimejan asli 3840*2160 4K. Sesuai untuk analisis metalografik, pemeriksaan litar cip dan penjanaan laporan ujian profesional, dengan jelas mendedahkan butiran logam, calar mikro dan kecacatan mikro kecil.
Reka bentuk fokus manual, sesuai untuk sampel makmal statik dan penggantian bahan kerja frekuensi rendah. Stabil penalaan halus tombol untuk pemerhatian sampel statik tepat jangka panjang.
Tahap pergerakan manual standard dan laluan optik metalurgi trinokular menegak untuk kepingan cip, saiz kecil-sederhana PCB dan spesimen logam, dengan berkesan menekan silau reflektif untuk pemeriksaan metalografik.
Julat dwi-pembesaran: Pembesaran optik 50-500X, pembesaran digital 190-1900X. Meliputi kedua-dua spesimen penuh gambaran keseluruhan dan mikro-butiran / mikro-kecacatan pemeriksaan.
Menyokong pengukuran pada peranti terbina dalam dan pengukuran perisian PC. Dilengkapi dengan port HDMI + Gigabit-LAN. Foto, video dan data ukuran boleh disimpan melalui cakera U atau komputer yang mematuhi. Pembangunan menengah disokong untuk integrasi barisan pengeluaran dan kebolehkesanan data makmal.
Penghantaran pembungkusan neutral disediakan atas permintaan.
| Model | GP-L600-324K |
| Resolusi | 3840×2160 |
| Piksel Berkesan Sebenar | 8,300,000 piksel |
| Kaedah Pemfokusan | Fokus manual |
| Format Optik | 1/1.7" |
| Saiz Piksel | 1.85 μm × 1.85 μm |
| Kaedah Keluaran | Port LAN HDMI + Gigabit Ethernet |
| Pengenalan fungsi terperinci yang sepadan dengan setiap antara muka keluaran | ① HDMI bersambung ke paparan serasi 4K. Sokongan perisian tegar pemprosesan imej profesional terbenam
rakaman foto, rakaman video, ukuran dimensi, main semula imej dan perbandingan imej, dikendalikan
dengan tetikus dalam masa nyata. ② Port LAN Gigabit bersambung ke penghala, suis atau komputer untuk rangkaian imej penghantaran. Komputer dalam segmen rangkaian yang sama boleh menerima video masa nyata dan tangkapan pencetus melalui perisian yang sepadan. |
| Kadar Bingkai | HDMI: 60fps @3840×2160 LAN Gigabit: 20fps @1920×1080 |
| Sintesis Depth-of-Field | / |
| Jahitan Imej | / |
| Kaedah Pengukuran | Sistem pengukuran pada monitor terbina dalam + pengukuran perisian PC |
| Ketepatan Pengukuran | 0.001 mm |
| Unit Pengukuran | mm / μm / mil / inci (4 unit boleh tukar) |
| Alat Pengukuran | Panjang, sudut, radian, bulatan, poligon, garis poli, jarak pusat ke tengah, segi empat tepat, anotasi menambah, pengesanan tepi automatik, bar skala dan banyak lagi |
| Kaedah Penyimpanan | Storan cakera U + storan perisian PC |
| Bahasa Paparan | Bahasa Cina Ringkas / Inggeris (boleh ditukar) |
| Pemproses | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max 1.4 GHz pemproses kawalan utama |
| Sistem Operasi | Perisian tegar ukuran yang dibangunkan secara bebas berdasarkan kernel Linux 3.1 |
| Penamaan Imej | Penamaan automatik atau manual tersedia |
| Ketua Melihat | Kepala trinokular jenis engsel condong 30°; julat pelarasan antara murid: 54-76 mm; dua rasuk membelah nisbah: 100:0, 0:100 |
| Mod Pemerhatian | ★ Medan terang / Medan gelap / Cahaya Polarisasi / DIC (perkakasan DIC adalah pilihan) |
| Sistem Pencahayaan | Sistem pencahayaan jatuh-cahaya pantulan dipantulkan, input voltan lebar 100-240V, boleh laras filamen tengah, keamatan cahaya boleh laras berterusan. |
| Berdiri | ① Rak pantulan pantulan dwi guna; mekanisme pemfokusan kasar-halus sepaksi kedudukan rendah tangan.
Lejang pelarasan kasar: 33 mm; ketepatan pelarasan halus: 0.001 mm. Dilengkapi dengan penguncian dan pengehadan
peranti. ② Pemantul medan terang & medan gelap dengan hentian apertur berubah, hentian medan dan pemasangan pusat boleh laras. ③ Penapis gangguan dan plat imbangan warna (cahaya putih) untuk laluan optik cahaya pantulan. ④ Peranti pensuisan medan terang-gelap; slot untuk penapis warna dan aksesori polarisasi. |
| Peringkat Mekanikal | Peringkat mekanikal manual 4 inci. Dimensi pentas: 230 mm × 215 mm; Perjalanan X-Y: 105 mm × 105 mm. kaca plat pembawa spesimen untuk kedua-dua pemerhatian yang dihantar & dipantulkan. |
| Sumber Cahaya | Ruang lampu halogen 12V 100W (cahaya yang dipantulkan); Lampu halogen 12V 100W (cahaya dihantar). |
| Fungsi Polarisasi | Soket polarizer 30 darjah (cahaya yang dipantulkan); Soket penganalisis boleh putar 360° untuk cahaya terpolarisasi pemerhatian. |
| Cermin mata | Dua kanta mata bidang pelan sudut lebar PL10X/22 mm dengan diopter boleh laras (satu kanta mata dengan reticle skala). |
| batang hidung | ★ lubang hidung objektif lima lubang medan terang-gelap |
| Fungsi DIC | Fungsi perbezaan-gangguan-kontras; Aksesori papan sisipan DIC adalah pilihan dan tidak disertakan dalam konfigurasi standard. |
| Antara Muka Elektronik | Antara muka kamera 0.5X C-mount, fokus boleh laras; CTV 1X adalah pilihan dengan pampasan perbezaan harga. |
| Objektif Metalurgi | ★ Objektif metalurgi separa musnah medan terang-gelap ① OLIPBD5NCA-DIC 5X/0.15, Berfungsi Jarak: 9.00 mm × 1pc ② OLIPBD10NCA-DIC 10X/0.30, Jarak Kerja: 9.00 mm ×1pc ③ OLIPBD20NCA-DIC 20X/0.45, Jarak Kerja: 3.40 mm ×1pc ④ OLIPBD50NC 50X/0.55, Jarak Kerja: 7.50 mm ×1pc ⑤ OLIPBD100NC 100X/0.80, Jarak Kerja: 2.10 mm (pilihan, tidak termasuk dalam pakej standard) |
| Pembesaran Optik | 50X, 100X, 200X, 500X (boleh tukar empat peringkat) |
| Pembesaran Elektronik | lebih kurang 190X, 380X, 760X, 1900X (boleh tukar empat peringkat); julat pembesaran pilihan: 380-3800X. |
Mikroskop GAOPIN digunakan oleh perusahaan terkemuka, institut penyelidikan dan universiti. Kerjasama kami perhubungan termasuk:
Universiti Perdagangan Tianjin – Pengajaran makmal bahan, pengimejan mikro & pengarkiban data eksperimen
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Pengesanan dimensi & mikro-cacat untuk pemesinan ketepatan bahagian
AVIC Optronics Technology Co., Ltd. – Penyambung ketepatan dan pemeriksaan komponen
Institut Optik dan Mekanik Halus Shanghai, CAS – Penyelidikan-optik lanjutan & pencirian-komponen optik
Universiti Xi'an Jiaotong – Pemerhatian-percubaan-bahan-bahan & ketepatan-optik
Institut Seramik Shanghai, CAS – Analisis mikro seramik bukan organik & bahan tenaga baharu
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. telah diasaskan secara rasmi pada tahun 2011. Pasukan pengasas kami terkumpul berakar umbi kepakaran dalam instrumen-pemeriksaan optik sejak 2005. Kami adalah perusahaan yang berfokuskan teknologi menyampaikan perkhidmatan kitaran penuh meliputi reka bentuk, R&D, jualan global dan sokongan selepas jualan untuk mikroskop industri. kami teras pasukan kejuruteraan mempunyai lebih daripada sepuluh tahun khusus optik-instrumen-pembangunan-pengalaman untuk memastikan teknologi yang terbukti-stabil dan kualiti yang konsisten-boleh dipercayai.
GAOPIN mengekalkan katalog produk yang luas dengan lebih seratus model instrumen optik untuk seluruh dunia pelanggan. Kami membangunkan penyelesaian mikroskop tersuai yang fleksibel dan kos efektif untuk pelbagai pemeriksaan industri dan keperluan-penyelidikan makmal.
Sokongan teknikal global respons pantas tersedia untuk pelanggan luar negara, termasuk mesyuarat dalam talian, video-bimbingan-langkah demi langkah dan sesi-latihan jauh. Pangkalan pembuatan kami terletak di Kunshan, Jiangsu Wilayah (berdekatan dengan Shanghai). Lawatan di tapak kilang dan lawatan maya dalam talian dialu-alukan. Sila hubungi pasukan jualan kami untuk sampel-imej ujian sahih yang ditangkap oleh Mikroskop Metalurgi Pemeriksaan Wafer ini dengan 4K Ultra HD hingga menilai prestasi pengimejan dunia sebenar.
A1: Dilengkapi dengan dua antara muka output definisi tinggi HDMI dan port LAN. Ia menyokong pengimejan masa nyata oleh menyambung ke monitor secara terus, dan sambungan komputer melalui kabel rangkaian. Tanpa antara muka USB dan WIFI, ia menyokong kedua-dua operasi bebas dan kerja kolaboratif komputer.
A2: Ia menyokong rakaman foto dan video ultra-HD 4K. Fail boleh disimpan ke cakera U berformat FAT32 dalam 32 GB kapasiti atau storan komputer. Menyokong pengukuran tepat pada skrin dan perisian PC, dengan penjimatan data dan fungsi laporan-eksport.
A3: Periksa bekalan kuasa dan penyesuai yang sepadan; kencangkan kabel HDMI dengan kuat; tukar monitor untuk membetulkan sumber isyarat HDMI; mulakan semula peranti untuk menyelesaikan kerosakan skrin hitam dan tiada imej.
A4: Ini ialah model fokus manual. Laraskan roda tangan fokus perlahan-lahan untuk pengimejan yang tajam. Kunci kanta objektif dengan kuat, baring sampel rata dan kerap membersihkan habuk dan kotoran kanta.
A5: Pastikan mikroskop dan PC berada dalam segmen IP yang sama; lumpuhkan tembok api dan perisian pemintasan; tempat duduk semula kabel rangkaian; but semula peranti dan perisian pengukuran sokongan untuk mewujudkan sambungan biasa.
Alamat
Bangunan 2, Pusat Perniagaan Antarabangsa Shuanglian, Bandar Huaqiao, Bandar Kunshan, China
Tel
E-mel
