Dioptimumkan untuk pemeriksaan mikroskopik ketepatan spesimen, Mikroskop Metalurgi untuk Analisis Logam ini ialah Analisis Logam yang sangat boleh dipercayai Mikroskop Metalurgi. Mengguna pakai optik diperbetulkan infiniti berprestasi tinggi dan rangka kerja modular, ia menyokong pengembangan fleksibel medan terang, cahaya terkutub dan mod cerapan lain untuk memenuhi permintaan ujian yang berkembang. The mengunci casis anti-getaran yang diperkukuh dalam pengimejan yang mantap dan berkesan mengurangkan ralat pengukuran untuk pemerhatian berketepatan tinggi. Bahagian kawalan yang dioptimumkan meredakan keletihan pengendali semasa sesi kerja yang panjang. secara bebas modul gabungan mengelakkan penggantian mesin keseluruhan, mengurangkan kos naik taraf, manakala kawasan kerja yang dikhaskan yang mencukupi menampung pelbagai saiz spesimen.
Kamera HD CCD terbina dalam menyokong kanta mata serentak dan tontonan monitor dengan output imej mikro HDMI masa nyata.
Pembesaran digital 50-600 × optik dan maks 4560 × dengan sistem zum objektif 4-kelajuan, merakam gambar kecil butiran mikro dengan tepat.
Pemfokusan kasar dan halus memastikan pengimejan yang stabil dengan goncangan minimum untuk pemerhatian lama.
Tapak aluminium tuang satu keping memastikan operasi yang stabil tanpa goyah semasa pemeriksaan jangka panjang.
Struktur trinokular putih-biru minimalis, mencari makmal dan senario pemeriksaan kualiti yang profesional.
Sesuai untuk semikonduktor, metalografi, pemeriksaan serbuk dan gentian, penyelidikan saintifik dan ujian kualiti industri kerja.
Menyokong rakaman foto-dan-video 1080P, pengukuran pada monitor dan storan pemacu kilat USB untuk memudahkan pengarkiban imej dan analisis data.
Tontonan binokular & pemerhatian elektronik segerak:Paparan disegerakkan antara kanta mata dan pantau. Mikroskop metalurgi biasa hanya menyokong tontonan kanta mata sahaja; aksesori kamera tambahan diperlukan untuk keluaran skrin.
Keupayaan pembesaran tinggi:Sehingga 600 × pembesaran optik dan maks 4560 × digital pembesaran untuk analisis struktur mikro ultra-halus. Peranti metalurgi konvensional mempunyai maksimum yang lebih rendah prestasi pembesaran digital.
Operasi kendiri HDMI:Beroperasi secara bebas dengan monitor melalui output HDMI, PC tidak diperlukan untuk pengukuran dan tangkapan. Mikroskop metalurgi tradisional biasanya bergantung pada komputer hos untuk digital fungsi.
Pengukuran luar talian terbina dalam:Pengukuran terus pada monitor tanpa perisian PC. Biasalah mikroskop metalurgi hanya menyokong ukuran sisi PC tanpa fungsi pengukur tertanam perkakasan.
Storan pemacu kilat USB luar talian:Simpan foto dan video ke pemacu kilat USB tanpa komputer. Model konvensional memerlukan PC untuk penyimpanan imej.
Laluan optik boleh dikembangkan modular:Menyokong penambahan cahaya terpolarisasi dan modul pemerhatian lain tanpa menggantikan keseluruhan peranti. Mikroskop metalurgi am mempunyai fleksibiliti naik taraf terhad.
Laluan optik metalurgi khusus:Dioptimumkan untuk bijirin logam, salutan dan bahan-metallographic-analisis. Mikroskop digital biasa tidak mempunyai laluan optik metalurgi khusus dan tidak boleh perhatikan struktur mikro metalurgi.
Dilengkapi dengan kamera industri 1920 × 1080 Full-HD asli dan ditentukur sepenuhnya dengan metalurgi standard spesimen, mikroskop ini menggunakan sensor resolusi tinggi untuk memulihkan struktur mikro butiran logam, wafer semikonduktor, zarah serbuk dan tekstur gentian. Ia menyampaikan butiran jelas medan penuh tanpa kabur tepi atau imej pengecilan.
Menampilkan sistem zum objektif 4-kelajuan, ia menyediakan jumlah julat pembesaran 380–4560 ×. Ia menyokong kawasan penuh mengimbas pada pembesaran rendah dan analisis mikroskopik ultra-halus pada pembesaran tinggi, memenuhi permintaan yang pelbagai untuk universiti-makmal-penyelidikan dan kilang-ketepatan-pemeriksaan-kualiti.
Modul pengukuran profesional terbina dalam membolehkan pengiraan dimensi ketepatan tinggi dan masa nyata anotasi pada skrin. Ia menyokong satu-klik fotografi definisi tinggi dan rakaman video jangka panjang. Semua data pengukuran dan imej boleh dieksport dan diarkibkan untuk penyusunan laporan eksperimen dan kualiti-kebolehkesanan.
Tiub trinokular membenarkan pemerhatian kanta mata segerak dan paparan monitor digital. The dihantar-dan-dicerminkan sistem dwi-cahaya serasi dengan bahan kerja logam legap dan sampel bertatah telus. Paksi XY ketepatan peringkat mekanikal memberikan pergerakan lancar dan kedudukan sasaran yang pantas.
Semikonduktor & Mikroelektronik:Wafer silikon, kepingan fotolitografi, cip IC, papan PCB, Papan fleksibel FPC. Sasaran pemeriksaan: Perhatikan litar-cip dalaman, salutan wafer, kecacatan pateri sejuk, pengoksidaan, litar-calar dan pin-ubah bentuk; menganalisis struktur kepingan mikro di bawah pembesaran maksimum 4560 ×.
Spesimen Logam Metalografik:Kepingan metalografik, perkakasan logam bercop. Sasaran pemeriksaan: Analisis struktur-butiran metalografi, pengenalpastian-bahan rawatan haba; mengesan cipratan tepi, retakan mikro, burr dan kedalaman lelasan.
Serbuk & Fiber Lab-Sampel:Serbuk logam, serbuk kimia, serat karbon, serat tekstil, bahan filem nipis. Sasaran pemeriksaan: Perhatikan zarah-morfologi, serat-tekstur, filem-delaminasi dan struktur-bahan mikro.
Bahagian Optoelektronik & Ketepatan-Plastik:Cip LED, kanta optik, bahagian acuan suntikan. Sasaran pemeriksaan: Mengesan liang mikro, kotoran permukaan, tepi kasar, gelembung gam dan kecacatan mikro kosmetik.
Komponen Miniatur Ketepatan Tinggi:Penyambung, terminal, pegas mikro, bahan kerja bercop kecil. Sasaran pemeriksaan: Perhatikan celah-celah kecil dan kerataan kelim; melakukan pengukuran tepat tahap piksel panjang, diameter lubang dan pic.
Arkib QC Makmal & Perindustrian:Analisis-eksperimen-kepingan-logamografi, pemeriksaan pensampelan-&-barang-siap masuk; pengarkiban foto-&-video untuk rekod-bukti-cacat dan eksport laporan QC ukuran formal.
Pembesaran optik maksimum 600 × dan pembesaran digital 4560 × dengan jelas mengenal pasti butiran metalografik, kesan wafer, salutan-kecacatan dan serbuk-mikro-struktur. Sangat sesuai untuk makmal-bahan-baru dan ketepatan-separakonduktor-pemeriksaan-masuk.
Laluan optik trinokular membolehkan tontonan serentak melalui kanta mata binokular dan monitor. Berbilang pengendali boleh semak sampel mikro bersama-sama, sesuai untuk latihan universiti dan pemeriksaan dua kali kecacatan kilang.
Sistem pengukuran pada monitor terbina dalam. Foto dan video 1080P boleh disimpan terus ke pemacu kilat USB. Hanya a pantau diperlukan untuk aliran kerja pemeriksaan yang lengkap, sesuai untuk stesen kerja kilang persediaan cepat.
Didatangkan dengan pelbagai objektif metalurgi dan dwi-transmisi-&-pantulan-pencahayaan. Serasi dengan spesimen logam, wafer, serbuk-serabut-sampel dan bahan filem nipis. Digunakan secara meluas dalam pemeriksaan penyaduran elektrik, universiti-bahan-penyelidikan dan elektronik-masuk-QC.
Pemfokusan manual kasar dan halus dengan ketepatan dengan badan tugas berat anti-getaran. Menyokong pemeriksaan semula sampel massa, penyelidikan bahan dan analisis metalografi rutin.
Penghantaran pembungkusan neutral disediakan atas permintaan.
| Entiti | Penerangan |
| produk | GP-L300-300C Mikroskop Metalurgi Analisis Logam |
| kategori | Mikroskop Pemeriksaan Metalografi Kuasa Tinggi Trinokular Gred Penyelidikan Industri |
| Teknologi Teras | Sistem optik pemerhatian segerak trinokular, kumpulan kanta objektif metalurgi berkuasa tinggi, HD Penuh Sensor pengimejan CMOS, enjin pengukuran ketepatan digital terbina dalam, output video masa nyata HDMI, tempatan USB-flash-drive-image-storage-technology |
| Spesifikasi Utama | Pembesaran visual: 50/100/400/600 ×; Pembesaran elektronik: 380/760/3040/4560 ×; Antara muka keluaran: HDMI; Resolusi tangkapan: 1920 × 1080 (HD Penuh); Pemfokusan manual; Fungsi pengukuran tepat terbina dalam; Simpanan pemacu denyar USB *(Hanya pemacu denyar USB berformat FAT32 sehingga 32 GB disokong)*; Monitor-terminal menyokong pratonton imej HD, tangkapan foto dan rakaman video *(Ketepatan ukuran: 0.001 mm, Lebih kecil toleransi pengukuran boleh dicapai di bawah pembesaran yang lebih tinggi. Keputusan tertakluk kepada penentukuran, keadaan pembesaran dan sampel)* |
| Aplikasi Biasa | Cerapan-wafer-separakonduktor, analisis-struktur-logam-logamografi, serbuk-&-struktur-mikro gentian- pengesanan, pemeriksaan bijirin aloi, analisis-salutan bahan, penyelidikan-bahan-baharu makmal, kawalan-kualiti-komponen-kepersisan-elektronik |
| Pengeluar | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Lokasi Pengeluar | Kunshan, Jiangsu, China (berhampiran Shanghai) |
| Jenama produk | GAOPIN |
| Model Produk | GP-L300-300C |
| Resolusi | 1920 × 1080 (HD Penuh) |
| Piksel Berkesan | 2-megapiksel |
| Kaedah memfokuskan | Fokus manual |
| Format optik sensor | 1/2" |
| Saiz piksel | 3.75 μm × 3.75 μm |
| Antara muka keluaran | HDMI |
| Kadar bingkai | HDMI: 60 fps @1920 × 1080 |
| Susunan kedalaman medan | Tidak tersedia |
| Jahitan imej | Tidak tersedia |
| Operasi pengukuran | Sistem pengukuran pada monitor terbina dalam |
| Ketepatan pengukuran | 0.001 mm *(Toleransi ukuran yang lebih kecil boleh dicapai di bawah pembesaran yang lebih tinggi. Keputusan tertakluk kepada penentukuran, pembesaran dan keadaan sampel)* |
| Unit ukuran | mm / μm / mil / inci (boleh tukar 4 arah) |
| Alat ukuran | Panjang, sudut, jejari, bulatan, poligon, poligaris, jarak pusat ke tengah, segi empat tepat, anotasi, pengesanan tepi automatik, bar skala |
| Kaedah penyimpanan | pemacu kilat USB |
| Mod penamaan imej | Penamaan fail imej automatik atau manual |
| Bahasa paparan | Bahasa Cina Ringkas / Inggeris (boleh ditukar) |
| Pemproses | ARM Cortex-A7 Dual-Core @ Max.1.3 GHz pemproses kawalan utama |
| OS perisian tegar | Sistem pengukuran yang dibangunkan secara bebas dibina pada kernel Linux 3.1 |
| Ketua pemerhatian | Tiub cerapan trinokular condong 30°, boleh putar 360°, jarak antara murid boleh laras (53-75 mm) |
| Kaedah pemerhatian | Medan terang / pencahayaan serong / pencahayaan-transmisi / polarisasi mudah |
| Sistem pencahayaan | Sistem pencahayaan dwi-laluan dipantulkan & dihantar, voltan lebar 100-240 V; boleh laras pusat filamen, keamatan cahaya boleh laras berterusan |
| Rangka kerja berdiri | Rak pantulan dan pantulan dwi guna; mekanisme fokus kasar-halus sepaksi; pelarasan kasar strok, ketepatan pelarasan halus 0.002 mm dengan penguncian & hentian had; pencahayaan lampu halogen; Medan terang reflektor dengan hentian apertur berubah-ubah, hentian medan dan penukaran penapis warna; Dilengkapi dengan penapis biru dan kepingan kaca beku untuk pemerhatian-cahaya pantulan |
| Platform mudah alih | Tahap pergerakan mekanikal dua lapisan; saiz pentas: 210 × 140 mm; Lejang X-Y: 75 × 50 mm; pentas kaca untuk pemerhatian yang dihantar & dicerminkan |
| Sumber cahaya | Lampu halogen 6V-30W untuk cahaya pantulan; Lampu halogen 12V-50W untuk cahaya dipancarkan |
| Polarisasi mudah | Sisipan polarizer 30° (cahaya pantulan) + sisipan penganalisis boleh putar 360° untuk pemerhatian terpolarisasi |
| Antara muka elektronik | 1X antara muka C-mount, fokus tidak boleh laras [Pilihan: 0.5X C-mount untuk pampasan harga] |
| kanta mata | Dua kanta mata bidang rata sudut lebar WF10X/22 mm (satu kanta mata dengan tanda skala) |
| Kanta objektif metalurgi | Objektif metalurgi akromatik medan rata tak terhingga: PL L5X/0.12 WD26.1 mm; PL L10X/0.25 WD20.2 mm; PL L40X/0.60 WD3.98 mm; PL L60X/0.70 WD3.18 mm; PL L100X/0.85 WD0.40 mm (pilihan, tidak termasuk dalam standard konfigurasi) |
| Pembesaran optik | 50 ×, 100 ×, 400 ×, 600 × empat peringkat boleh laras |
| Pembesaran elektronik | lebih kurang 380 ×, 760 ×, 3040 ×, 4560 × empat peringkat boleh laras (boleh dikembangkan kepada 190-2280 ×) |
Mikroskop GAOPIN digunakan oleh perusahaan terkemuka, institut penyelidikan dan universiti. Kerjasama kami perhubungan termasuk:
Institut Teknikal Fizik dan Kimia, CAS – Penyelidikan mikroskopik pada suhu rendah & bahan-fungsi khas
ZTE Optoelektronik Technology Co., Ltd. – Ujian-komponen-optoelektronik & analisis kegagalan
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Pengesanan dimensi & mikro-cacat untuk bahagian-mesin ketepatan
CATL – Pemeriksaan kecacatan mikro untuk litium-bateri-elektrod & sel
Institut Optik dan Mekanik Halus Shanghai, CAS – Penyelidikan-optik lanjutan & pencirian-komponen optik
ZHENGKUNHANG Industrial MRO Supermarket (Shanghai) Co., Ltd. – Penampilan & pengesahan kualiti mikro bagi bahagian-standard industri
Objektif & kanta mata:Lap kanta perlahan-lahan dengan kertas kanta dan pembersih kanta. Jangan sekali-kali menyentuh optik kanta dengan tangan kosong atau gunakan tuala kertas biasa untuk pembersihan.
Badan & Pentas Utama:Kosongkan serpihan sampel dan serbuk metalurgi dengan segera. Lap perumahan dengan a kain lembut kering; elakkan percikan cecair. Periksa dengan kerap bahawa skru pentas ketat untuk mengelakkan peralihan yang disebabkan oleh perlanggaran.
Sumber Cahaya Dihantar & Dipantulkan:Matikan sumber cahaya apabila mikroskop melahu. tiup habuk dari tingkap lampu dan jangan sentuh mentol secara langsung.
Mekanisme Fokus Mekanikal:Jangan putar roda tangan fokus dengan daya yang berlebihan. Teruskan meluncur trek bersih; jangan sekali-kali melincirkan mereka sendiri.
Persekitaran Storan:Simpan di dalam ruang yang kering dan berventilasi baik untuk menahan kelembapan dan acuan. menutupi peranti dengan penutup habuk selepas digunakan.
Perisian & Penentukuran:Kalibrasi skala ukuran sebelum melakukan pengukuran. Dekat sepenuhnya perisian yang berkaitan sebelum memutuskan kuasa. Jangan buka unit tanpa kebenaran; kenalan sokongan perkhidmatan selepas jualan sekiranya berlaku kerosakan.
A1: Ia hanya menyokong output definisi tinggi HDMI. Ia berfungsi secara bebas dengan monitor tanpa sambungan komputer, menampilkan operasi mudah untuk pelbagai senario pengesanan ketepatan.
A2: Ia menyokong rakaman foto dan video definisi tinggi 2K. Fail boleh disimpan melalui USB berformat FAT32 maks 32 GB pemacu kilat. Pengukuran tepat pada skrin terbina dalam menyokong penandaan dimensi, pengarkiban data dan eksport laporan.
A3: Periksa bekalan kuasa dan penyesuai, pasangkan kabel HDMI dan tukar ke saluran isyarat yang betul. Mulakan semula peranti untuk menyelesaikan masalah skrin hitam, tiada imej dan skrin berkelip.
A4: Ia menggunakan reka bentuk fokus manual yang tepat. Laraskan roda tangan fokus perlahan-lahan untuk mendapatkan pengimejan yang jelas. Letakkan sampel rata dan sentiasa bersihkan habuk kanta, cap jari dan kotoran untuk memastikan imej tajam dan telus.
A5: Peranti ini tidak menyokong fungsi sambungan komputer atau port rangkaian. Dengan terbina dalam beroperasi bebas- sistem, ia boleh melengkapkan penangkapan, rakaman, pengukuran dan penyimpanan secara langsung melalui penyambungan monitor.
A6: Hanya pemacu kilat USB berformat FAT32 dalam 32 GB disokong, tidak termasuk format NTFS dan exFAT. Pasang semula atau formatkan pemacu kilat USB, atau gantikan dengan pemacu kilat USB yang mematuhi untuk penyimpanan fail biasa.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., ditubuhkan pada 2011 yang pengasasnya telah mengumpul kepakaran industri sejak 2005, adalah sebuah perusahaan tertumpu teknologi yang mengkhusus dalam reka bentuk, R&D, jualan dan perkhidmatan selepas jualan industri mikroskop. Pasukan kejuruteraan teras kami membawa lebih sepuluh tahun pengalaman khusus, memastikan teknologi matang dan kualiti yang boleh dipercayai. Dengan lebih daripada seratus model produk optik dan pangkalan pelanggan global, GAOPIN secara berterusan memberikan penyelesaian mikroskopi yang dibuat khusus dan kos efektif. Kami menyediakan sokongan teknikal global tindak balas pantas melalui persidangan dalam talian, bimbingan berbantukan video dan sesi latihan jarak jauh. Pangkalan pembuatan kami terletak di Kunshan, Wilayah Jiangsu (berdekatan dengan Shanghai). Kedua-dua pemeriksaan kilang di tapak dan lawatan loji maya tersedia untuk pelanggan. Jangan ragu untuk menghubungi kami untuk mendapatkan contoh imej ujian yang ditangkap oleh GP-L300-300C Analisis Logam Metalurgi ini Mikroskop untuk menilai prestasi pengimejan secara langsung.
Alamat
Bangunan 2, Pusat Perniagaan Antarabangsa Shuanglian, Bandar Huaqiao, Bandar Kunshan, China
Tel
E-mel
