GP-L700-300C ialah mikroskop metalurgi jarak kerja panjang dengan pembesaran boleh laras empat kelajuan. Mikroskop Metalurgi Jarak Kerja Panjang menerima pakai sistem optik diperbetulkan infiniti dengan pensuisan pembesaran empat gear pantas, merangkumi gambaran keseluruhan medan lebar dan pemerhatian mikroskopik halus. Port trinokular menyokong peningkatan modul kamera. Sesuai untuk metalografik analisis, pemeriksaan komponen dan aliran kerja penyelidikan bahan-sains.

Mikroskop Metalurgi Jarak Kerja Panjang ini sesuai untuk pemeriksaan komponen ketepatan, litar bersepadu dan bahan pembungkusan produk.
Modul kamera terbina dalam perumahan trinokular untuk tontonan serentak melalui kanta mata dan monitor. HDMI masa nyata output imej mikro menggabungkan aliran kerja pemerhatian dan rakaman.
Laluan optik kanta pelbagai lapisan ketepatan dengan pembesaran empat langkah; pembesaran digital maksimum sehingga 3800X, menyampaikan butiran yang jelas untuk pemeriksaan wafer, cip dan bijirin kecil.
Tombol fokus yang diselaraskan dan pemasangan laras kanta yang diperkukuh membolehkan pemfokusan yang stabil, bebas goncang, sesuai untuk halus pemeriksaan di bawah pembesaran ultra tinggi.
Tapak logam persegi bersaiz besar dan lengan sokongan pepejal memberikan pengagihan berat yang seimbang, menghalang gegaran semasa pemeriksaan pembesaran tinggi berjam-jam lamanya.
Badan logam hitam-putih tegar dengan susun atur sumber cahaya modular terbelah, memberikan alat makmal profesional tekstur.
Dioptimumkan untuk pemeriksaan wafer, cip dan bijirin; juga digunakan secara meluas dalam analisis metalografi, penyelidikan bahan, kerja akademik-pengajaran dan industri-kualiti-kawalan.
Modul CCD menaik taraf pemerhatian visual tradisional kepada pengimejan digital. Menyokong tangkapan foto & video 1080P dengan U-cakera penyimpanan. Imej digital memudahkan pengarkiban fail, perbandingan dan analisis pasca percubaan.
1. Pembesaran:380-3800X pembesaran tinggi empat kelajuan untuk struktur mikro bijirin dan cip pemerhatian. Mikroskop metalurgi biasa mempunyai pembesaran maksimum yang lebih rendah dan imej kabur pada kuasa tinggi, dan tidak dapat melihat butiran logam yang kecil.
2. Sistem Pengimejan:Kamera HD 1080P asli, tontonan kanta mata-dan-monitor yang disegerakkan. Biasalah mikroskop metalurgi menggunakan kamera definisi rendah dan hanya melihat kanta mata.
3. Pengukuran & Penyimpanan:Pengukuran tepat pada monitor terbina dalam, tangkapan foto-video untuk ujian-bukti-pengarkiban. Mikroskop metalurgi biasa tidak mempunyai ukuran onboard dan memerlukan perisian PC untuk semua ukuran dan penjimatan fail.
4. Julat Permohonan:Dioptimumkan untuk pemeriksaan tepat wafer, cip semikonduktor dan logam bijirin. Mikroskop metalurgi biasa hanya sesuai untuk pemerhatian kepingan logam mudah dengan lemah prestasi untuk sampel gred cip halus.
Semikonduktor & Mikroelektronik (Aplikasi Teras):
Wafer silikon, kepingan litografi, cip IC, tiub MOS, PCB, litar fleksibel FPC, sambungan pateri berbungkus.
Sasaran pemeriksaan: corak litar cip mikro, kecacatan etsa wafer, calar salutan, buih pembungkusan,
sambungan pematerian sejuk, pengoksidaan dan ubah bentuk pin.
Spesimen Logam Metalografi & Alat Memotong Logam:
Bahagian metalografi aloi, kepingan keluli, perkakasan logam bercap ketepatan.
Sasaran pemeriksaan: struktur butiran logam, analisis metalografik rawatan haba, retakan permukaan mikro,
serpihan canggih, burr, kesan haus dan kekotoran bahan dalaman.
Sampel Penyelidikan Makmal: Kristal, Serbuk & Filem Nipis:
Kristal tunggal/poli, serbuk logam, serbuk kimia, filem salutan optik, bahan filem ultra-nipis.
Perhatikan kekisi-kristal mikro, morfologi zarah ultra-halus, penembusan filem dan tekstur salutan mikro.
Komponen Optoelektronik & Ketepatan-Plastik:
Cip LED, kanta kaca optik, gam pembungkusan semikonduktor.
Mengesan liang mikro, calar nano, penembusan gam, buih dan ketidaksamaan permukaan halus.
Komponen Ketepatan Miniatur:
Penyambung, terminal, pegas mikro, bahan kerja bercop ketepatan kecil.
Pengukuran tepat aras piksel untuk jurang, diameter lubang, pic dan perbezaan ketinggian permukaan; amati secara halus
kelim-ubah bentuk.
Makmal Universiti & QC Semikonduktor Tertinggi:
Eksperimen penyelidikan bahan, analisis-pengajaran metalurgi, pemeriksaan pensampelan wafer barangan masuk-dan-siap;
pengarkiban foto-video.
Mekanik:Pembinaan logam penuh untuk ketegaran tinggi dan rintangan getaran. Lebih panjang jarak kerja untuk pemerhatian sampel ketinggian tinggi. Pemfokusan kasar-halus ketepatan tanpa tindak balas. Tahan haus peringkat mekanikal XY manual. Laluan optik trinokular mengekalkan penjajaran bersama optik apabila menukar objektif.
Optik:Objektif metalurgikromatik pelan yang diperbetulkan infiniti dengan salutan keras anti-kabut. Pencahayaan lampu halogen 6V-30W cahaya pantulan.
Pengimejan & Pengukuran:Kamera HDMI 1080P industri dengan prestasi anti-gangguan yang baik untuk penggunaan persekitaran industri. Pengukuran berasaskan perisian tegar pada monitor; kilang ditentukur terlebih dahulu; parameter berterusan selepas pemadaman kuasa; tiada penentukuran harian diperlukan. Simpan syot kilat dan video hanya melalui cakera U yang mematuhi.
Persekitaran Operasi:Suhu kerja 10-35 ℃, kelembapan relatif 30-75% RH. Stabil di bawah biasa kilang elektromagnet-persekitaran. Elakkan getaran berat, gas menghakis dan habuk berat.
Kualiti & Penyelenggaraan:Pemeriksaan kilang item penuh. Jangan buka modul optik. Biasa pembersihan kalis habuk akan memanjangkan hayat perkhidmatan.
| item | Penerangan |
| Model Produk | GP-L700-300C Mikroskop Metalurgi Jarak Kerja Jauh |
| Jenis Produk | Mikroskop metalurgi menegak gred penyelidikan pembesaran tinggi dengan menegak sepaksi berasingan penerangan |
| Teknologi Teras | Sistem optik pandangan segerak trinokular, sumber cahaya menegak sepaksi bebas, resolusi tinggi set kanta objektif metalurgi, penderia imej HD CMOS, modul pengukuran ketepatan digital terbina dalam, Output video masa nyata HDMI, storan imej tempatan cakera U |
| Parameter Teras | Pembesaran optik: 50/100/200/500×; Pembesaran elektronik: 380/760/1520/3800×; Antara muka keluaran: HDMI sahaja; Resolusi tangkapan: 1920*1080; Mod fokus: Fokus manual; Pengukuran: Terbina dalam fungsi ukuran tepat; Storan: Storan cakera U; Fungsi: Pratonton imej HD, tangkapan foto & rakaman video pada monitor. |
| Medan Aplikasi | Pemerhatian bijirin wafer & cip, pemeriksaan pembungkusan semikonduktor, bijirin logam analisis metalografik, pengesanan kecacatan mikro litar ketepatan, analisis-kegagalan komponen elektronik, makmal bahan- penyelidikan |
| Pengeluar | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Lokasi Kilang | Bandar Kunshan, Wilayah Jiangsu, China (bersebelahan dengan Shanghai) |
| Model | GP-L700-300C |
| Resolusi | 1920×1080 |
| Piksel Berkesan Sebenar | 2 Megapiksel |
| Kaedah Pemfokusan | Fokus manual |
| Format Optik | 1/2" |
| Saiz Piksel | 3.75 μm × 3.75 μm |
| Kaedah Keluaran | HDMI |
| Pengenalan fungsi terperinci yang sepadan dengan setiap antara muka keluaran | ① HDMI bersambung ke paparan serasi 4K. Sokongan perisian tegar pemprosesan imej profesional terbenam rakaman foto, rakaman video, ukuran dimensi, main semula imej dan perbandingan imej, dikendalikan dengan tetikus dalam masa nyata. |
| Kadar Bingkai | HDMI: 60fps @1920*1080 |
| Sintesis Depth-of-Field | / |
| Jahitan Imej | / |
| Kaedah Pengukuran | Sistem pengukuran pada monitor terbina dalam |
| Ketepatan Pengukuran | 0.001 mm |
| Unit Pengukuran | mm / μm / mil / inci (4 unit boleh tukar) |
| Alat Pengukuran | Panjang, sudut, radian, bulatan, poligon, garis poli, jarak pusat ke tengah, segi empat tepat, anotasi menambah, pengesanan tepi automatik, bar skala dan banyak lagi |
| Kaedah Penyimpanan | Storan cakera U |
| Bahasa Paparan | Bahasa Cina Ringkas / Inggeris (boleh ditukar) |
| Pemproses | ARM Cortex-A7 Dual-Core @ Max 1.3 GHz |
| Sistem Operasi | Perisian tegar ukuran yang dibangunkan secara bebas berdasarkan kernel Linux 3.1 |
| Penamaan Imej | Penamaan automatik atau manual tersedia |
| Ketua Melihat | Kepala trinokular jenis engsel condong 30°; julat pelarasan antara murid: 53-75 mm |
| Mod Pemerhatian | Pencahayaan medan terang / serong / polarisasi mudah |
| Sistem Pencahayaan | Sistem pencahayaan cahaya jatuh, input voltan lebar 100-240V, pusat filamen boleh laras, keamatan cahaya boleh laras secara berterusan. |
| Berdiri | ① Rak jenis menembak, mekanisme pemfokusan kasar-halus sepaksi dengan peranti pengunci dan pengehad;
nilai pengijazahan pergerakan halus: 2 μm. Pencahayaan cahaya pantulan lampu halogen. ② Medan terang reflektor dengan hentian apertur berubah, hentian medan dan unit pensuisan penapis warna. ③ Kuning, biru, penapis hijau dan kepingan kaca beku dibekalkan untuk laluan optik cahaya pantulan. |
| Peringkat Mekanikal | Dimensi asas: 300 mm × 240 mm; Dimensi pentas: 185 mm × 140 mm; Perjalanan X-Y: 35 mm × 30 mm. sesuai untuk memerhati bahan kerja yang agak tinggi. |
| Sumber Cahaya | 6V 30W kebuk lampu halogen (cahaya yang dipantulkan sahaja). |
| Fungsi Polarisasi Mudah | Polarizer dan penganalisis jenis tolak-tarik dipasang |
| Antara Muka Elektronik | 1X antara muka kamera C-mount, fokus tidak boleh laras; CTV 0.5X adalah pilihan dengan perbezaan harga pampasan. |
| Cermin mata | Dua kanta mata bidang pelan sudut lebar WF10X/22 mm dengan pelarasan diopter individu |
| batang hidung | ★Kancing hidung objektif lima lubang Mingchang |
| Objektif Metalurgi | ★Pelan yang diperbetulkan infiniti-objektif metalurgikromatik ① PL L5X/0.12, Jarak Kerja: 26.1 mm ×1pc ② PL L10X/0.25, Jarak Kerja: 20.2 mm ×1pc ③ PL L20X/0.40, Jarak Kerja: 8.80 mm ×1pc ④ PL L50X/0.70, Jarak Kerja: 3.68 mm ×1pc ⑤ PL L100X/0.85, Jarak Kerja: 0.40 mm (pilihan, tidak termasuk dalam pakej standard) |
| Pembesaran Optik | 50X, 100X, 200X, 500X (boleh tukar empat peringkat) |
| Pembesaran Elektronik | lebih kurang 380X, 760X, 1520X, 3800X (boleh tukar empat peringkat); julat pembesaran pilihan: 190-1900X. |
Dilengkapi dengan pengimejan asli 1920*1080 HD. Sesuai untuk pemerhatian struktur metalografi dan butiran cip asas pemeriksaan; jelas memaparkan butiran logam dan tekstur permukaan kecil cip.
Reka bentuk fokus manual sesuai dengan sampel makmal statik dan penggantian bahan kerja frekuensi rendah. Penalaan halus yang stabil membolehkan pemerhatian sampel statik tepat jangka panjang.
Dilengkapi dengan sumber cahaya sepaksi berasingan dan laluan optik metalurgi trinokular untuk spesimen logam, cip hirisan dan PCB bersaiz kecil sederhana. Pencahayaan sepaksi menegak mengurangkan silau pemantul logam dan memulihkan keadaan sebenar metalografik tekstur.
Julat pembesaran empat gear: pembesaran optik 50-500X, pembesaran digital 380-3800X. Meliputi kedua-duanya gambaran keseluruhan spesimen dan pemeriksaan mikro-butir / kecacatan mikro.
Fungsi pengukuran ketepatan terbina dalam, output masa nyata HDMI dan cakera U untuk menyimpan foto pemeriksaan dan data pengukuran untuk tujuan pengarkiban makmal-makmal.
Penghantaran pembungkusan neutral disediakan atas permintaan.
Mikroskop GAOPIN digunakan oleh perusahaan terkemuka, institut penyelidikan dan universiti. Kerjasama kami perhubungan termasuk:
DOOV – Pemeriksaan-pemasangan-peranti-mudah alih, skrin & ujian-penampilan komponen
Institut Seramik Shanghai, CAS – Analisis mikro seramik bukan organik & bahan tenaga baharu
Institut Optik dan Mekanik Halus Shanghai, CAS – Penyelidikan-optik lanjutan & pencirian-komponen optik
Perkakas Elektrik GREE (Hefei) – Pengukuran dimensi ketepatan dan pemeriksaan kecacatan untuk bahagian perkakas rumah
Universiti Tsinghua – Pengajaran, pengimejan makmal dan pengarkiban data eksperimen
NIO Shanghai – Pemeriksaan ketepatan untuk bahagian auto tenaga baharu & abah-abah pendawaian
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. telah diasaskan secara rasmi pada tahun 2011. Pasukan pengasas kami terkumpul kaya pengalaman-instrumen-pemeriksaan- optikal mulai tahun 2005. Kami menyampaikan perkhidmatan-kitaran-penuh meliputi reka bentuk produk, R&D dalaman, jualan global dan perkhidmatan penyelenggaraan selepas jualan yang komprehensif. kami pasukan kejuruteraan mahir mempunyai lebih daripada sepuluh tahun pengalaman dalam pembangunan alat optik untuk memastikan prestasi-teknikal yang stabil dan kualiti produk yang boleh dipercayai.
GAOPIN membekalkan lebih daripada seratus kategori penyajian instrumen ujian optik pelanggan industri dan makmal seluruh dunia. Kami membangunkan penyelesaian mikroskop tersuai yang fleksibel dan kos efektif untuk pelbagai-industri-kualiti-kawalan dan makmal-analisis-projek.
Untuk pembeli di luar negara, kami menyediakan sokongan teknikal di seluruh dunia yang responsif termasuk perundingan dalam talian jauh, praktikal- video-tutorial dan latihan-operasi-peralatan-jauh-langsung. Kemudahan pengeluaran kami terletak di Kunshan, Jiangsu Wilayah (berdekatan dengan Shanghai). Lawatan di tapak kilang dan lawatan maya dalam talian dialu-alukan. Sila hubungi kami pasukan jualan untuk gambar-gambar-ujian-sampel tulen yang ditangkap oleh Mikroskop Metalurgi Jarak Kerja Jauh ini untuk menilai prestasi pengimejan sebenar.
A1: Pembesaran optik: 50-500×; Pembesaran elektronik: 380-3800×. Pemerhatian segerak melalui kanta mata dan pantau tersedia untuk pemeriksaan mikro yang tepat.
A2: Hanya output video definisi tinggi HDMI untuk operasi monitor kendiri. Reka bentuk semua-dalam-satu memastikan ringkas dan mudah operasi.
A3: Ia menyokong rakaman foto dan video 1080P dan pengukuran tepat pada skrin terbina dalam. Fail boleh disimpan melalui U-cakera berformat FAT32 dalam kapasiti 32 GB.
A4: Letakkan sampel rata, kurangkan pembesaran dengan sewajarnya, bersihkan permukaan kanta objektif dan laraskan fokus perlahan-lahan roda tangan untuk pengimejan yang tajam.
A5: Pastikan bekalan kuasa yang stabil; kencangkan kabel HDMI dengan kuat; pilih sumber isyarat monitor yang betul dan mulakan semula peranti.
A6: Hanya 32 GB atau kurang cakera U berformat FAT32 yang serasi. Masukkan semula atau format semula cakera U untuk menyelesaikan berkaitan storan isu.
A7: Digunakan secara meluas dalam analisis metalografik, ketepatan-elektronik, pemeriksaan perkakasan, pengesanan kecacatan permukaan, kawalan kualiti industri, penyelidikan saintifik dan kerja pengajaran.
Alamat
Bangunan 2, Pusat Perniagaan Antarabangsa Shuanglian, Bandar Huaqiao, Bandar Kunshan, China
Tel
E-mel
